Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
Регистрация
Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Базы данных
Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска
Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
Место работы автора
в найденном
Найдено в других БД:
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (8)
Формат представления найденных документов:
полный
информационный
краткий
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>A=Косырев, Николай Николаевич$<.>)
Общее количество найденных документов
:
128
Показаны документы
с 1 по 20
1.
Вид документа
: Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания
:
Автор(ы)
:
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Швец, Василий Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие
: Эллипсометрический экспресс-метод определения показателя поглощения полупроводниковых наноструктур
Коллективы
: "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации
: 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 334. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции
,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
2.
Вид документа
: Статья из журнала
Шифр издания
:
Автор(ы)
: Тарасов, Иван Анатольевич,
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович, Бондаренко С. Г., Терещенко О. Е.
Заглавие
: Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)
Место публикации
: Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48
Примечания
: Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация:
Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью
,
РИНЦ
,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
3.
Вид документа
: Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания
:
Автор(ы)
: Тарасов, Иван Анатольевич,
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович
Заглавие
: Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста
Коллективы
: "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Школа
Место публикации
: 6-я Школа "Метрология и стандарт. в нанотехнол. и наноиндустрии": 4-7 июня 2013 г., Екатеринбург. - 2013. - С. 60
Материалы школы
Найти похожие
4.
Вид документа
: Статья из журнала
Шифр издания
:
Автор(ы)
:
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Швец, Василий Александрович, Михайлов Н. Н., Варнаков, Сергей
Николаевич
, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В., Яковлев, Иван Александрович
Заглавие
: Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
Место публикации
: Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - ISSN 0044-4642
Примечания
: Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38
Аннотация:
Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.
Смотреть статью
,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
5.
Вид документа
: Статья из журнала
Шифр издания
:
Автор(ы)
:
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Заблуда, Владимир
Николаевич
, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Швец В.А., Рыхлицкий С.В., Спесивцев Е.В., Прокофьев .Ю.
Заглавие
: Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в геторосистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии
Место публикации
: Журнал структурной химии. - 2010. - Т. 51, № 1. - С. 104-108
Читать в сети ИФ
Найти похожие
6.
Вид документа
: Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания
:
Автор(ы)
:
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Заблуда, Владимир
Николаевич
, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Швец В. А., Рыхлицкий С. В., Спесивцев Е. В., Прокопьев В. Ю.
Заглавие
: Характеризация структурных свойств нанокластеров силицида железа в гетеросистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии
Коллективы
: "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция
Место публикации
: 1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов". МИССФМ-2009: Новосибирск, 11-16 окт. 2009 г. : тезисы докл. - Новосибирск, 2009. - С. 45
Читать в сети ИФ
Найти похожие
7.
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
:
Заглавие
: Физика низкоразмерных систем и поверхностей : труды
Выходные данные
: Ростов н/Д: Изд-во СКНЦ ВШ ЮФУ АПСН, 2010
Колич.характеристики
:336 с
Коллективы
: Российская академия наук, Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Южный федеральный университет, Кабардино-Балкарский государственный университет, "Физика низкоразмерных систем и поверхностей", Международный междисциплинарный симпозиум (2; 3 - 8 сент. 2010 г.; Ростов-на-Дону)
Примечания
: Библиогр. в конце ст. - Авт. указ.
ISBN, Цена
978-5-87872-560-6:
Содержание
: In situ спектральный магнитоэллипсометр/ В. Н. Заблуда, Н. Н.
Косырев
. Ориентационные изменения структуры нематического жидкого кристалла на поверхности полимера при фазовом разделении в магнитном поле/ А. М. Паршин [и др.]. Исследование границ раздела молекулярных блоков эпоксидного полимера/ Н. С. Наумкин [и др.]. Способы выделения и магнитные свойства наночастиц ферригидрита биогенного происхождения/ С. В. Столяр [и др.]. Влияние триплетных состояний на спектр коллективных спин-поляронных возбуждений в 2D решетке Кондо/ В. В. Вальков, А. А. Шкляев, М. М. Коровушкин. Наноструктуры Ni-Ge: морфология и магнитные свойства/ Ю. Э. Гребенькова [и др.]. Особенности магнитооптических эффектов в пленках Co-P, полученных химическим осаждением/ А. В. Чжан [и др.]. Квантовые флуктуации в двухмерном антиферромагнетике с четырехспиновым взаимодействием кубической симметрии/ В. В. Вальков, Т. А. Валькова, А. А. Шкляев.
Найти похожие
8.
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
:
Заглавие
: Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения : [сборник научных трудов]
Выходные данные
: Красноярск: ИПК СФУ, 2009
Колич.характеристики
:506 с
Коллективы
: Сибирский федеральный университет, Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Красноярский научный центр Сибирского отделения РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Институт химии и химической технологии Сибирского отделения РАН, Институт вычислительного моделирования Сибирского отделения РАН, Институт биофизики Сибирского отделения РАН, Научно-техническая конференция с международным участием (15-16 октября 2009 года; Красноярск)
Примечания
: Библиогр. в конце ст. - Указ. авторов
ISBN, Цена
978-5-7638-1568-9:
Содержание
: / П. В. Новиков, Г. Н. Чурилов. / В. Ф. Шабанов. / В. А. Гуняков, С. А. Мысливец, А. М. Паршин. / Г. Н. Чурилов, И. В. Осипова, Э. А. Петраковская. / Р. С. Исхаков. / Р. С. Исхаков, С. В. Комогорцев, Е. А. Денисова. / К. П. Полякова. / С. М. Жарков. / В. Г. Исакова, Э. А. Петраковская. / Л. А. Чеканова. / С. В. Комогорцев, Р. С. Исхаков, В. К. Мальцев. / Д. В. Шевцов, Н. Н.
Косырев
, С. Н. Варнаков. / В. Г. Архипкин, С. А. Мысливец. / Г. Н. Чурилов. / С. В. Карпов, И. Л. Исаев. / М. Н. Крахалев, О. О. Прищепа, А. В. Шабанов. / Л. А. Чеканова, Р. С. Исхаков. / С. В. Комогорцев, Р. С. Исхаков, Л. А. Чеканова. / А. А. Иваненко, Н. П. Шестаков. / Г. А. Глущенко, Г. Н. Чурилов. / В. Г. Исакова, Г. Н. Чурилов. / О. А. Баюков, С. В. Столяр.
Найти похожие
9.
Вид документа
: Статья из журнала
Шифр издания
:
Автор(ы)
: Кобяков, Александр Васильевич, Турпанов, Игорь Александрович, Патрин, Геннадий Семёнович, Руденко, Роман Юрьевич, Юшков, Василий Иванович,
Косырев
,
Николай
Николаевич
Заглавие
: Структурные и магнитные свойства систем Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co
Место публикации
: Журн. техн. физ. - 2019. - Т. 89, Вып. 2. - С. 268-273. - ISSN 0044-4642,
DOI
10.21883/JTF.2019.02.47082.198-18
Примечания
: Библиогр.: 18. - Настоящие исследования ведутся при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант No 18-02-00161-а).
Аннотация:
Представлены экспериментальные результаты для системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co с буферным слоем из Al2O3, полученные методом ионно-плазменного распыления. Выявлена зависимость магнитных свойств кобальта от скорости его напыления ионно-плазменным методом распыления и скорости напыления ему предшествующих слоев. Показано, что метод получения буферных слоев позволяет значительно снизить шероховатость поверхности последующих слоев. Полученные буферные слои могут быть использованы в качестве искусственных подложек для выращивания гетероструктур с туннельными переходами.
Смотреть статью
,
РИНЦ
,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
10.
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
: Описание изобретения к патенту 2583959!-988666158
Автор(ы)
:
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Заблуда, Владимир
Николаевич
Заглавие
: Способ определения матрицы мюллера .-
Коллективы
: Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации
: Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2016. - № 13
Аннотация:
Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца. Для определения матрицы Мюллера, исследуемый образец освещают поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на р- и s- компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка с интенсивностями IΨ1, IΨ2, IΔ1, IΔ2, при этом азимутальные углы оптических элементов принимают фиксированные значения в определенных комбинациях, поляризатор фиксируют в положениях Р=0°, -45°, +45°, анализатор в амплитудном канале АΨ=0°, 45°, фазовом канале АΔ=45°, ромб Френеля R=0 и проводят измерения, соответствующие следующим конфигурациям: A: P45SR0WΨ45WΔ45; B: P45SR0WΨ0WΔ45; F: P0SR0WΨ45WΔ45; E: P0SR0WΨ0WΔ45. Изменяют состояние поляризации падающего на образец света с линейной на круговую, устанавливая в оптический тракт перед образцом фазовую пластинку в положении D=0° и проводят измерения, соответствующие конфигурациям: С: P-45D0SR0WΨ0WΔ45; D: P-45D0SR0WΨ45WΔ45, а компоненты матрицы Мюллера Sij определяют, решая систему линейных уравнений. Изобретение обеспечивает возможность полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца, для нахождения всех компонент матрицы Мюллера.
Смотреть патент
,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
11.
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
: Описание изобретения к патенту 2560148!-469310745
Автор(ы)
:
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Заблуда, Владимир
Николаевич
, Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие
: Способ измерения магнитооптических эффектов in situ .-
Коллективы
: Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации
: Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 23
Аннотация:
Изобретение относится к области магнитных и магнитооптических измерений. Способ заключается в том, что исследуемый образец освещают линейно поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на p- и s-компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка. При этом к исследуемому образцу во время проведения измерений прикладывают переменное магнитное поле, при измерении меридионального эффекта Керра поляризатор фиксируют в положении P=0, а анализаторы в амплитудном и фазовом каналах A1,2=45°. Перемагничивание образца осуществляют с помощью вращающегося постоянного магнита и величину поворота плоскости поляризации α, пропорциональную проекции намагниченности на плоскость падения света, определяют по формуле. Изобретение обеспечивает повышение точности измерения и информативности.
Смотреть патент
,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
12.
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
: Описание изобретения к патенту 2660765!-934235450
Автор(ы)
:
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Лященко, Сергей Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Яковлев, Иван Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Заблуда, Владимир
Николаевич
Заглавие
: Способ бесконтактного измерения температуры in situ .-
Коллективы
: Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации
: Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2018. - № 19
Аннотация:
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерения физической температуры объекта по температурным изменениям его оптических постоянных, и может быть использовано для дистанционного измерения температуры объекта в промышленности, медицине, биологии, в физических исследованиях и др. Заявлен способ бесконтактного измерения температуры in situ, заключающийся в том, что образец освещают поляризованным светом и измеряют изменение интенсивности при отражении. В процессе измерения регистрируют отраженное от поверхности образца электромагнитное излучение с длиной волны в диапазоне 300-900 нм. Анализируют изменение интенсивности после отражения и находят температуру, решая следующее уравнение: M(T)=F(T), где М(Т) - среднее арифметическое данных об интенсивности со всех четырех фотоприемников эллипсометра, зависящее от температуры, F(T) - функция, вид которой зависит от исследуемого материала. Новым является то, что для зондирующего пучка задают состояние линейной поляризации с поворотом 0° и накапливают массив данных для дальнейшего усреднения, а также то, что предложенный способ позволяет измерять температуру образца от температуры 4 K до его термического разрушения. Технический результат - повышение точности измерения температуры in situ независимо от структуры отражающей поверхности и при температурах до 4 K. 2 ил.
Смотреть патент
,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
13.
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
: Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2012618677!-787146821
Автор(ы)
: Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич,
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Заблуда, Владимир
Николаевич
, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович
Заглавие
: Система регистрации и анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin) .-
Введ. с
24.09.2012
Коллективы
: Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации
: Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2012
Найти похожие
14.
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
: Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013619178!-896702604
Автор(ы)
: Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович,
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Яковлев, Иван Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие
: Система обработки и анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW) .-
Введ. с
26.09.2013
Коллективы
: Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации
: Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013
Найти похожие
15.
Вид документа
: Однотомное издание
Шифр издания
: Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2015616615!-287456437
Автор(ы)
: Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович,
Косырев
,
Николай
Николаевич
Заглавие
: Система анализа данных многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW) .-
Коллективы
: Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации
: Прогр. для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегр. микросхем: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. - № 7
Аннотация:
Программа предназначена для расчёта спектральных зависимостей оптических постоянных и параметра толщины тонких плёнок путём решения обратной задачи эллипсометрии для случая многоугловых измерений спектральных зависимостей эллипсометрических углов. Программа использует ряд методов и оптических моделей, позволяющих провести расширенный анализ оптических свойств, качества интерфейса и шероховатости поверхности исследуемых объектов. Получаемые сведения могут быть использованы для отработки технологических процессов получения планарных наноструктур и характеризации их электронных свойств в соответствующем диапазоне энергий.
Смотреть свид-во
Найти похожие
16.
Вид документа
: Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания
:
Автор(ы)
: Кобяков, Александр Васильевич, Турпанов, Игорь Александрович, Патрин, Геннадий Семёнович, Руденко, Роман Юрьевич, Юшков, Василий Иванович,
Косырев
,
Николай
Николаевич
Заглавие
: Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co
Коллективы
: Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники, Всероссийская научная молодежная конференция с международным участием, Башкирский государственный университет
Место публикации
: Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники: сб. тез. докл. V Всерос. науч. молодежной конф. с междунар. участием. - Уфа, 2018. - С. 185-185. - ISBN 978-5-7477-4646-6 (Шифр 35377001)
РИНЦ
,
РИНЦ
Найти похожие
17.
Вид документа
: Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания
:
Автор(ы)
: Кобяков, Александр Васильевич, Турпанов, Игорь Александрович, Патрин, Геннадий Семёнович, Руденко, Роман Юрьевич, Юшков, Василий Иванович,
Косырев
,
Николай
Николаевич
Заглавие
: Синтез, структура и магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-P/Al2O3/CO
Коллективы
: "Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники", Всероссийская научная молодежная конференция с международным участием, Башкирский государственный университет
Место публикации
: Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники: сборник тез. докл. V Всерос. науч. молод. конф. с междунар. участием. - 2018. - С. 185. - ISBN 978-5-7477-4646-6
РИНЦ
,
Материалы конференции
Найти похожие
18.
Вид документа
: Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания
:
Автор(ы)
: Патрин, Геннадий Семёнович, Турпанов, Игорь Александрович, Юшков, Василий Иванович, Кобяков, Александр Васильевич, Патрин, Константин Геннадьевич, Юркин, Глеб Юрьевич,
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Кисленко С. А.
Заглавие
: Синтез и магнитные свойства трехслойных пленок CoNi/Si/FeNi
Коллективы
: "Нанофизика и наноэлектроника", международный симпозиум
Место публикации
: Нанофизика и наноэлектроника: Труды XX междунар. симп. - 2016. - Т. 1. - С. 238-239. - ISBN 978-5-91326-378-0
Примечания
: Библиогр.: 5. - Работа выполняется при финансовой поддержке РФФИ (грант № 14-02-00238-а)
Аннотация:
Представлены результаты экспериментальных исследований впервые полученных пленок в системе «магнитожесткий ферромагнетик (CoNi)-магнитомягкий ферромагнетик (FeNi)», взаимодействующих через немагнитную полупроводниковую прослойку кремния (Si). Проведены температурные и полевые исследования структур в зависимости от толщины кремния. Показано, что многослойная структура обладает свойствами, присущими магнитным пружинам. При низких температурах наблюдается эффект обменного смещения.
Материалы симпозиума
Найти похожие
19.
Вид документа
: Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания
:
Автор(ы)
:
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Шевцов Д. А., Варнаков, Сергей
Николаевич
, Худяков, Алексей Евгеньевич, Ефремов А.В., Рыхлицкий С. В., Швец, Василий Александрович
Заглавие
: Сверхвысоковакуумная установка для получения и исследования наноструктур магнитоэллипсометрическими методами in situ
Коллективы
: "Решетневские чтения", международная научная конференция, Сибирский государственный университет науки и технологий им. акад. М. Ф. Решетнева, Информационные спутниковые системы им. академика М. Ф. Решетнева, АО, Красноярский машиностроительный завод, ОАО
Место публикации
: Решетневские чтения: [Электронный ресурс] : материалы XIV Междунар. науч. конф., посвяще. памяти ген. конструктора ракет.-космич. систем акад. М. Ф. Решетнева : в 2-х ч./ Сиб. гос. аэрокосмич. ун-т.; под общ. ред. Ю.Ю. Логинова. - Красноярск, 2010. - Ч. 2. - С. 582-583
Примечания
: Библиогр.: 6. - Работа выполнена в рамках программы № 4.1 ОФН РАН «Спинтроника», программы Президиума РАН № 27.10, инте грационного проекта СО РАН и ДВО РАН № 22, федеральной целевой программы «Научные и научно-педагогические кад ры инновационной России» на 2009–2013 гг. (код проекта: НК-744П/ГК П1
Аннотация:
Описана сверхвысоковакуумная камера, позволяющая изготовлять наноструктуры на основе тонких маг нитных пленок. В качестве метода контроля параметров растущей структуры предложена новая методи ка – спектральная магнитоэллипсометрия, позволяющая получать информацию о структурных, оптических и магнитных свойствах непосредственно в процессе изготовления в реальном времени.
Материалы конференции
,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
20.
Вид документа
: Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания
:
Автор(ы)
: Шевцов, Дмитрий Валентинович,
Косырев
,
Николай
Николаевич
, Варнаков, Сергей
Николаевич
, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Худяков, Алексей Евгеньевич, Ефремов А. В.
Заглавие
: Сверхвысоковакуумная установка для получения и исследования наноструктур магнитоэллипсо метрическими методами in situ
Коллективы
: Байкальская Международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии", "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция, "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference, Иркутский государственный университет, Восточно-сибирская государственная академия образования
Место публикации
: Магнитные материалы. Новые технологии: BICMM 2010: тез. докл. IV Байкал. междунар. конф. - Иркутск, 2010. - С. 163-164
Найти похожие
полный формат
краткий формат
все найденные
отмеченные
кроме отмеченных
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Другие библиотеки
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)