Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
Регистрация
Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Базы данных
Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска
Вид поиска
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН
Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН
Труды сотрудников ИФ СО РАН
Область поиска
Ключевые слова
Автор
Заглавие
Год издания
Место работы автора
в найденном
Найдено в других БД:
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (8)
Формат представления найденных документов:
полный
информационный
краткий
Отсортировать найденные документы по:
автору
заглавию
году издания
типу документа
Поисковый запрос:
(<.>A=Косырев, Николай Николаевич$<.>)
Общее количество найденных документов
:
126
Показаны документы
с 1 по 20
1.
Эллипсометрический экспресс-метод определения
показателя поглощения полупроводниковых наноструктур / Н. Н.
Косырев
[и др.]> //
2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013) : 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 334 . - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции
,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S.N.; Швец, Василий Александрович; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие
2.
Эллипсометрическая экспресс-методика определения
толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) / И. А. Тарасов [и др.]> // Журн. техн. физ. - 2012. -
Т. 82
,
Вып. 9
. - С. 44-48. - Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация:
Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью
,
РИНЦ
,
Читать в сети ИФ
Переводная версия
Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth [Текст] / I. A. Tarasov [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. - Vol. 57 Is. 9.- P.1225-1229
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; Бондаренко, С. Г.; Bondarenko, S.G.; Терещенко, О. Е.
}
Найти похожие
3.
Эллипсометрическая экспресс-методика определения
толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста [Текст] / И. А. Тарасов [и др.]> //
6-я Школа "Метрология и стандарт. в нанотехнол. и наноиндустрии" : 4-7 июня 2013 г., Екатеринбург. - 2013. - С. 60
Материалы школы
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Школа(6 ; 2013 ; июнь ; Екатеринбург)
}
Найти похожие
4.
Эллипсометрическая методика определения
показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ / Н. Н.
Косырев
[и др.]> // Журн. техн. физ. - 2014. -
Т. 84
,
Вып. 5
. - С. 109-112. - Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38 . - ISSN 0044-4642
Аннотация:
Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.
Смотреть статью
,
Читать в сети ИФ
Переводная версия
Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers [Текст] / N. N. Kosyrev [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 59 Is. 5.- P.736-739
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev N. N.; Швец, Василий Александрович; Михайлов, Н. Н.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.
}
Найти похожие
5.
Характеризация структурных свойств
нанокластеров силицида железа в геторосистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии /
Косырев
Н.Н.Заблуда В.Н. [и др.]> // Журнал структурной химии. - 2010. -
Т. 51
,
№ 1
. - С. 104-108
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир
Николаевич
; Zabluda, V. N.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S. N.; Швец, В.А.; Рыхлицкий, С.В.; Спесивцев, Е.В.; Прокофьев, .Ю.
}
Найти похожие
6.
Характеризация структурных свойств
нанокластеров силицида железа в гетеросистемах Si/FeSi методом магнитоэллипсометрии / Н. Н.
Косырев
, В. Н. Заблуда [и др.]> //
1-я Всероссийская научная конференция "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов". МИССФМ-2009 : Новосибирск, 11-16 окт. 2009 г. : тезисы докл. - Новосибирск, 2009. - С. 45
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир
Николаевич
; Zabluda, V. N.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S. N.; Швец, В. А.; Рыхлицкий, С. В.; Спесивцев, Е. В.; Прокопьев, В. Ю.; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2009 ; ; Новосибирск)
}
Найти похожие
7.
Физика низкоразмерных систем
и поверхностей : труды / Рос. акад. наук, Ин-т радиотехники и электроники , Юж. фед. ун-т, Кабардино-Балк. гос. ун-т. Международный междисциплинарный симпозиум "Физика низкоразмерных систем и поверхностей" (2 ; 3 - 8 сент. 2010 г. ; Ростов-на-Дону) ; сопред. орг. ком., предс. межд. прогр. ком. Ю. М. Гуфан. - Ростов н/Д : Изд-во СКНЦ ВШ ЮФУ АПСН, 2010. - 336 с. - Библиогр. в конце ст. - Авт. указ. - 500 экз. -
ISBN
978-5-87872-560-6 : Б. ц.
Перевод заглавия:
Low dimensional systems (LDS-2)
Содержание:
Заблуда, Владимир
Николаевич
. In situ спектральный магнитоэллипсометр
/ В. Н. Заблуда, Н. Н.
Косырев
. -
С
.92
Паршин, Александр Михайлович. Ориентационные изменения структуры нематического жидкого кристалла на поверхности полимера при фазовом разделении в магнитном поле
/ А. М. Паршин [и др.]. -
С
.71
Другие авторы: Гуняков В. А., Зырянов В. Я., Шабанов, Василий Филиппович
Наумкин, Н. С. Исследование границ раздела молекулярных блоков эпоксидного полимера
/ Н. С. Наумкин [и др.]. -
С
.298
Другие авторы: Шестаков Н.П., Иваненко А. А., Бурова О. В., Шестаков А. Б.
Столяр, Сергей Викторович. Способы выделения и магнитные свойства наночастиц ферригидрита биогенного происхождения
/ С. В. Столяр [и др.]. -
С
.130
Другие авторы: Баюков О. А., Исхаков Р. С., Ищенко Л. А., Ладыгина В.П., Кондратьева А. А.
Вальков, Валерий Владимирович. Влияние триплетных состояний на спектр коллективных спин-поляронных возбуждений в 2D решетке Кондо
/ В. В. Вальков, А. А. Шкляев, М. М. Коровушкин. -
С
.44
Гребенькова, Юлия Эрнестовна. Наноструктуры Ni-Ge: морфология и магнитные свойства
/ Ю. Э. Гребенькова [и др.]. -
С
.66
Другие авторы: Черниченко А. В., Марущенко Д. А., Великанов, Дмитрий Анатольевич, Турпанов, Игорь Александрович, Заблуда, Владимир
Николаевич
, Патрин, Геннадий Семёнович
Чжан, Анатолий Владимирович. Особенности магнитооптических эффектов в пленках Co-P, полученных химическим осаждением
/ А. В. Чжан [и др.]. -
С
.290
Другие авторы: Патрин Г. С., Середкин В. А., Кипарисов Сергей Яковлевич, Буркова, Людмила Викторовна, Задворный А. Г.
Вальков, Валерий Владимирович. Квантовые флуктуации в двухмерном антиферромагнетике с четырехспиновым взаимодействием кубической симметрии
/ В. В. Вальков, Т. А. Валькова, А. А. Шкляев. -
С
.47
Перевод заглавия:
Low dimensional systems (LDS-2)
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Гуфан, Юрий Михайлович \сопред. орг. ком.\; Великанов, Дмитрий Анатольевич; Турпанов, Игорь Александрович; Заблуда, Владимир
Николаевич
; Патрин, Геннадий Семёнович; Шабанов, Василий Филиппович; Ищенко, Л. А.; Ладыгина, Валентина Петровна; Кондратьева, А. А.; Кипарисов, Семен Яковлевич; Буркова, Людмила Викторовна; Задворный, А. Г.; Бурова, О. В.; Шестаков, А. Б.; Российская академия наук; Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН; Южный федеральный университет; Кабардино-Балкарский государственный университет; "Физика низкоразмерных систем и поверхностей", Международный междисциплинарный симпозиум (2 ; 3 - 8 сент. 2010 г. ; Ростов-на-Дону)
Свободных экз. нет
}
Найти похожие
8.
Ультрадисперсные порошки, наноструктуры,
материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения : [сборник научных трудов] / Науч.-технич. конф. с междунар. участием, Сиб. федер. ун-т, Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Краснояр. науч. центр, Ин-т физики им. Л.В. Киренского, Ин-т химии и хим. технологии, Ин-т вычислит. моделирования, Ин-т биофизики ; отв. ред. В. Е. Редькин. - Красноярск : ИПК СФУ, 2009. - 506 с. - Библиогр. в конце ст. - Указ. авторов . - 325 экз. -
ISBN
978-5-7638-1568-9 : Б. ц.
Содержание:
Новиков, Павел Вадимович.
/ П. В. Новиков, Г. Н. Чурилов. -
С
.34
Шабанов, Василий Филиппович.
/ В. Ф. Шабанов. -
С
.45
Гуняков, Владимир Алексеевич.
/ В. А. Гуняков, С. А. Мысливец, А. М. Паршин. -
С
.51
Чурилов, Григорий
Николаевич
.
/ Г. Н. Чурилов, И. В. Осипова, Э. А. Петраковская. -
С
.57
Исхаков, Рауф Садыкович.
/ Р. С. Исхаков. -
С
.105
Исхаков, Рауф Садыкович.
/ Р. С. Исхаков, С. В. Комогорцев, Е. А. Денисова. -
С
.111
Полякова, Клавдия Павловна.
/ К. П. Полякова. -
С
.136
Жарков, Сергей Михайлович.
/ С. М. Жарков. -
С
.141, 144
Исакова, Виктория Гавриловна.
/ В. Г. Исакова, Э. А. Петраковская. -
С
.155
Чеканова, Лидия Александровна.
/ Л. А. Чеканова. -
С
.181
Комогорцев, Сергей Викторович.
/ С. В. Комогорцев, Р. С. Исхаков, В. К. Мальцев. -
С
.182
Шевцов, Дмитрий Валентинович.
/ Д. В. Шевцов, Н. Н.
Косырев
, С. Н. Варнаков. -
С
.187
Архипкин, Василий Григорьевич.
/ В. Г. Архипкин, С. А. Мысливец. -
С
.188
Чурилов, Григорий
Николаевич
.
/ Г. Н. Чурилов. -
С
.193
Карпов, Сергей Васильевич.
/ С. В. Карпов, И. Л. Исаев. -
С
.200, 201, 204, 206, 208, 210
Крахалев, Михаил
Николаевич
.
/ М. Н. Крахалев, О. О. Прищепа, А. В. Шабанов. -
С
.211
Чеканова, Лидия Александровна.
/ Л. А. Чеканова, Р. С. Исхаков. -
С
.216
Комогорцев, Сергей Викторович.
/ С. В. Комогорцев, Р. С. Исхаков, Л. А. Чеканова. -
С
.225
Иваненко, Александр Анатольевич.
/ А. А. Иваненко, Н. П. Шестаков. -
С
.355
Глущенко, Гарий анатольевич.
/ Г. А. Глущенко, Г. Н. Чурилов. -
С
.379
Исакова, Виктория Гавриловна.
/ В. Г. Исакова, Г. Н. Чурилов. -
С
.424
Баюков, Олег Артемьевич.
/ О. А. Баюков, С. В. Столяр. -
С
.431, 433
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Редькин, Виктор Ефимович \ред.\; Зырянов, Виктор Яковлевич; Архипкин, Василий Григорьевич; Шабанов, Василий Филиппович; Мальцев, вадим Константинович; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Сибирский федеральный университет; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Красноярский научный центр Сибирского отделения РАН; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Институт химии и химической технологии Сибирского отделения РАНИнститут вычислительного моделирования Сибирского отделения РАН; Институт биофизики Сибирского отделения РАН; Научно-техническая конференция с международным участием (15-16 октября 2009 года ; Красноярск)
Свободных экз. нет
}
Найти похожие
9.
Структурные и магнитные
свойства систем Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co / А. В. Кобяков [и др.]> // Журн. техн. физ. - 2019. -
Т. 89
,
Вып. 2
. - С. 268-273,
DOI
10.21883/JTF.2019.02.47082.198-18. - Библиогр.: 18. - Настоящие исследования ведутся при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант No 18-02-00161-а). . - ISSN 0044-4642
Аннотация:
Представлены экспериментальные результаты для системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co с буферным слоем из Al2O3, полученные методом ионно-плазменного распыления. Выявлена зависимость магнитных свойств кобальта от скорости его напыления ионно-плазменным методом распыления и скорости напыления ему предшествующих слоев. Показано, что метод получения буферных слоев позволяет значительно снизить шероховатость поверхности последующих слоев. Полученные буферные слои могут быть использованы в качестве искусственных подложек для выращивания гетероструктур с туннельными переходами.
Смотреть статью
,
РИНЦ
,
Читать в сети ИФ
Переводная версия
Structural and Magnetic Properties of the Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co System [Текст] / A. V. Kobyakov [et al.] // Tech. Phys. - 2019. - Vol. 64 Is. 2.- P.236-241
Держатели документа:
Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
Ачинский филиал Красноярского государственного аграрного университета, 662150 Ачинск, Красноярский край, Россия
Доп.точки доступа:
Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Руденко, Роман Юрьевич; Rudenko, R. Yu.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.
}
Найти похожие
10.
Описание изобретения к патенту 2583959 Российская Федерация
Способ определения матрицы
мюллера / Н. Н.
Косырев
, В. Н. Заблуда ; патентообладатель Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - № 2015110507/28 ; Заявл. 24.03.2015 ; Опубл. 10.05.2016> // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2016. -
№ 13
Аннотация:
Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца. Для определения матрицы Мюллера, исследуемый образец освещают поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на р- и s- компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка с интенсивностями IΨ1, IΨ2, IΔ1, IΔ2, при этом азимутальные углы оптических элементов принимают фиксированные значения в определенных комбинациях, поляризатор фиксируют в положениях Р=0°, -45°, +45°, анализатор в амплитудном канале АΨ=0°, 45°, фазовом канале АΔ=45°, ромб Френеля R=0 и проводят измерения, соответствующие следующим конфигурациям: A: P45SR0WΨ45WΔ45; B: P45SR0WΨ0WΔ45; F: P0SR0WΨ45WΔ45; E: P0SR0WΨ0WΔ45. Изменяют состояние поляризации падающего на образец света с линейной на круговую, устанавливая в оптический тракт перед образцом фазовую пластинку в положении D=0° и проводят измерения, соответствующие конфигурациям: С: P-45D0SR0WΨ0WΔ45; D: P-45D0SR0WΨ45WΔ45, а компоненты матрицы Мюллера Sij определяют, решая систему линейных уравнений. Изобретение обеспечивает возможность полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца, для нахождения всех компонент матрицы Мюллера.
Смотреть патент
,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л. В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир
Николаевич
; Zabluda, V. N.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие
11.
Описание изобретения к патенту 2560148 Российская Федерация
Способ измерения магнитооптических
эффектов in situ / Н. Н.
Косырев
[и др.]. ; патентообладатель Ин-т физики им. Л.В. Киренского. - № 2014118809/28 ; Заявл. 08.05.2014 ; Опубл. 20.08.2015> // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. -
№ 23
Аннотация:
Изобретение относится к области магнитных и магнитооптических измерений. Способ заключается в том, что исследуемый образец освещают линейно поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на p- и s-компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка. При этом к исследуемому образцу во время проведения измерений прикладывают переменное магнитное поле, при измерении меридионального эффекта Керра поляризатор фиксируют в положении P=0, а анализаторы в амплитудном и фазовом каналах A1,2=45°. Перемагничивание образца осуществляют с помощью вращающегося постоянного магнита и величину поворота плоскости поляризации α, пропорциональную проекции намагниченности на плоскость падения света, определяют по формуле. Изобретение обеспечивает повышение точности измерения и информативности.
Смотреть патент
,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л. В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Заблуда, Владимир
Николаевич
; Zabluda, V. N.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D. V.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие
12.
Описание изобретения к патенту 2660765 Российская Федерация
Способ бесконтактного измерения
температуры in situ / Н. Н.
Косырев
[и др.]. - № 2017104846 ; Заявл. 14.02.2017 ; Опубл. 09.07.2018> // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2018. -
№ 19
Аннотация:
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерения физической температуры объекта по температурным изменениям его оптических постоянных, и может быть использовано для дистанционного измерения температуры объекта в промышленности, медицине, биологии, в физических исследованиях и др. Заявлен способ бесконтактного измерения температуры in situ, заключающийся в том, что образец освещают поляризованным светом и измеряют изменение интенсивности при отражении. В процессе измерения регистрируют отраженное от поверхности образца электромагнитное излучение с длиной волны в диапазоне 300-900 нм. Анализируют изменение интенсивности после отражения и находят температуру, решая следующее уравнение: M(T)=F(T), где М(Т) - среднее арифметическое данных об интенсивности со всех четырех фотоприемников эллипсометра, зависящее от температуры, F(T) - функция, вид которой зависит от исследуемого материала. Новым является то, что для зондирующего пучка задают состояние линейной поляризации с поворотом 0° и накапливают массив данных для дальнейшего усреднения, а также то, что предложенный способ позволяет измерять температуру образца от температуры 4 K до его термического разрушения. Технический результат - повышение точности измерения температуры in situ независимо от структуры отражающей поверхности и при температурах до 4 K. 2 ил.
Смотреть патент
,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D. V.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S. N.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Заблуда, Владимир
Николаевич
; Zabluda, V. N.; Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук"; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие
13.
Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2012618677 Российская Федерация
Система регистрации и
анализа магнитоэллипсометрических данных (Valnadin) / С. А. Лященко [и др.]. - № 2012616431 ; Заявл. 27.07.2012. - Введ. с 24.09.2012> // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2012
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S.N.; Заблуда, Владимир
Николаевич
; Zabluda, V.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие
14.
Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2013619178 Российская Федерация
Система обработки и
анализа данных одноволновой кинетической элипсометрии (SingleW) / И. А. Тарасов [и др.]. - № 2013615682 ; Заявл. 08.07.2013. - Введ. с 26.09.2013> // Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2013
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S.N.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I.A.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие
15.
Гос. рег. прогр. для ЭВМ 2015616615 Российская Федерация
Система анализа данных
многоугловой спектральной элипсометрии (MultiW) / авт. пр. И. А. Тарасов, авт. пр. И. А. Яковлев, авт. пр. Н. Н.
Косырев
; правообладатель: ФГБУН Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН. - № 2015613270 ; Заявл. 22.04.2015 ; Опубл. 20.07.2015> // Прогр. для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегр. микросхем : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2015. -
№ 7
Аннотация:
Программа предназначена для расчёта спектральных зависимостей оптических постоянных и параметра толщины тонких плёнок путём решения обратной задачи эллипсометрии для случая многоугловых измерений спектральных зависимостей эллипсометрических углов. Программа использует ряд методов и оптических моделей, позволяющих провести расширенный анализ оптических свойств, качества интерфейса и шероховатости поверхности исследуемых объектов. Получаемые сведения могут быть использованы для отработки технологических процессов получения планарных наноструктур и характеризации их электронных свойств в соответствующем диапазоне энергий.
Смотреть свид-во
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие
16.
Синтез, структура и
магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-p/Al2O3/Co / А. В. Кобяков [и др.]> //
Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники : сб. тез. докл. V Всерос. науч. молодежной конф. с междунар. участием. - Уфа, 2018. - С. 185-185 . - ISBN 978-5-7477-4646-6
РИНЦ
,
РИНЦ
Держатели документа:
Институт физики им.Л.В. Киренского СО РАН
Сибирский федеральный университет
Доп.точки доступа:
Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Руденко, Роман Юрьевич; Rudenko, R. Yu.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники, Всероссийская научная молодежная конференция с международным участием(5 ; 2018 ; 28- 31 мая ; Уфа); Башкирский государственный университет
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)
}
Найти похожие
17.
Синтез, структура и
магнитные свойства тонкопленочной системы Al2O3/Ge-P/Al2O3/CO / А. В. Кобяков [и др.]> //
Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники : сборник тез. докл. V Всерос. науч. молод. конф. с междунар. участием. - 2018. - С. 185 . - ISBN 978-5-7477-4646-6
РИНЦ
,
Материалы конференции
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Руденко, Роман Юрьевич; Rudenko, R. Yu.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; "Актуальные проблемы микро- и наноэлектроники", Всероссийская научная молодежная конференция с международным участием(5 ; 2018 ; май ; 28-31 ; Уфа); Башкирский государственный университет
}
Найти похожие
18.
Синтез и магнитные
свойства трехслойных пленок CoNi/Si/FeNi / Г. С. Патрин [и др.]> //
Нанофизика и наноэлектроника : Труды XX междунар. симп. - 2016. -
Т. 1
. - С. 238-239. - Библиогр.: 5. - Работа выполняется при финансовой поддержке РФФИ (грант № 14-02-00238-а) . - ISBN 978-5-91326-378-0
Аннотация:
Представлены результаты экспериментальных исследований впервые полученных пленок в системе «магнитожесткий ферромагнетик (CoNi)-магнитомягкий ферромагнетик (FeNi)», взаимодействующих через немагнитную полупроводниковую прослойку кремния (Si). Проведены температурные и полевые исследования структур в зависимости от толщины кремния. Показано, что многослойная структура обладает свойствами, присущими магнитным пружинам. При низких температурах наблюдается эффект обменного смещения.
Материалы симпозиума
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Патрин, Геннадий Семёнович; Patrin, G. S.; Турпанов, Игорь Александрович; Turpanov, I.A.; Юшков, Василий Иванович; Yushkov, V. I.; Кобяков, Александр Васильевич; Kobyakov, A. V.; Патрин, Константин Геннадьевич; Patrin, K. G.; Юркин, Глеб Юрьевич; Yurkin, G. Yu.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Кисленко, С. А.; "Нанофизика и наноэлектроника", международный симпозиум(20 ; 2016 ; март. ; 14-18 ; Нижний Новгород)
}
Найти похожие
19.
Сверхвысоковакуумная установка для
получения и исследования наноструктур магнитоэллипсометрическими методами in situ / Н. Н.
Косырев
, Д. А. Шевцов [и др.]> //
Решетневские чтения : [Электронный ресурс] : материалы XIV Междунар. науч. конф., посвяще. памяти ген. конструктора ракет.-космич. систем акад. М. Ф. Решетнева : в 2-х ч. / Сиб. гос. аэрокосмич. ун-т.; под общ. ред. Ю.Ю. Логинова. - Красноярск, 2010. -
Ч. 2
. - С. 582-583. - Библиогр.: 6. - Работа выполнена в рамках программы № 4.1 ОФН РАН «Спинтроника», программы Президиума РАН № 27.10, инте грационного проекта СО РАН и ДВО РАН № 22, федеральной целевой программы «Научные и научно-педагогические кад ры инновационной России» на 2009–2013 гг. (код проекта: НК-744П/ГК П1
Перевод заглавия:
Ultra high vacuum installation for nanostructure production with magnetoellipsometric control
Аннотация:
Описана сверхвысоковакуумная камера, позволяющая изготовлять наноструктуры на основе тонких маг нитных пленок. В качестве метода контроля параметров растущей структуры предложена новая методи ка – спектральная магнитоэллипсометрия, позволяющая получать информацию о структурных, оптических и магнитных свойствах непосредственно в процессе изготовления в реальном времени.
Материалы конференции
,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Логинов, Ю. Ю. \ред.\;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N.N.; Шевцов, Д. А.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov S.N.; Худяков, Алексей Евгеньевич; Ефремов, А.В.; Рыхлицкий, С. В.; Швец, Василий Александрович; "Решетневские чтения", международная научная конференция(14 ; 2010 ; нояб. ; 10-12 ; Красноярск); Сибирский государственный университет науки и технологий им. акад. М. Ф. Решетнева; Информационные спутниковые системы им. академика М. Ф. Решетнева, АО; Красноярский машиностроительный завод, ОАО
}
Найти похожие
20.
Сверхвысоковакуумная установка для
получения и исследования наноструктур магнитоэллипсо метрическими методами in situ / Д. В. Шевцов, Н. Н.
Косырев
[и др.]> //
Магнитные материалы. Новые технологии: BICMM 2010 = Magnetic materials. New technologies : тез. докл. IV Байкал. междунар. конф. - Иркутск, 2010. - С. 163-164
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.;
Косырев
,
Николай
Николаевич
; Kosyrev, N. N.; Варнаков, Сергей
Николаевич
; Varnakov, S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Худяков, Алексей Евгеньевич; Ефремов, А. В.; Байкальская Международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии"(4 ; 2010 ; 21-25 сент. ; п. Листвянка, Иркутская обл.); "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция(4 ; 2010 ; сент. ; 21-25 ; п. Листвянка, Иркутская обл.); "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference(5 ; 2010 ; Sept. 21-25 ; Listvyanka, Irkutsk); Иркутский государственный университет; Восточно-сибирская государственная академия образования
}
Найти похожие
полный формат
краткий формат
все найденные
отмеченные
кроме отмеченных
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
Тематический навигатор
Другие библиотеки
Центральная Научная Библиотека КНЦ СО РАН
Библиотека института биофизики
Библиотека института химии и химический технологии
Библиотека института вычислительного моделирования
Библиотека института леса
Библиотека СФУ
Краевая научная библиотека
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)