Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (8)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Косырев, Николай Николаевич$<.>)

Общее количество найденных документов : 126
Показаны документы с 1 по 20

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Patrin G. S., Chzhan A. V., Kiparisov S. Ya., Seredkin V. A., Palchik M. G.
Заглавие : About the nature of induced anisotropy in amotphous Co-P films
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering": book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.30
Материалы семинара
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Parshin A. S., Kushenkov S. A., Aleksandrova G. A., Dolbak A. E., Pchelyakov O. P., Olshanetsky B. Z., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Application of inelastic electron scattering cross sections for quantitative analysis
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering": book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.20
Материалы семинара
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov A. S., Lukyanenko A. V., Tarasov I. A., Bondarev I. A., Smolyarova T. E., Kosyrev N. N., Komarov V. A., Yakovlev I. A., Volochaev M. N., Solovyov L. A., Shemukhin A. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Patrin G. S., Volkov N. V.
Заглавие : Approach to form planar structures based on epitaxial Fe1 − xSix films grown on Si(111)
Место публикации : Thin Solid Films: Elsevier, 2017. - Vol. 642. - P.20-24. - ISSN 00406090 (ISSN), DOI 10.1016/j.tsf.2017.09.025
Примечания : Cited References: 29. - We thank V.S. Zhigalov for assistance with the electron microscopy studies. The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research projects Nos. 16-42-243046, 16-42-242036 and 16-42-243060. The work was also supported by the Program of the President of the Russian Federation for the support of leading scientific schools (Scientific School 7559.2016.2).
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): iron silicides--wet etching--planar structures--moke microscopy
Аннотация: An approach to form planar structures based on ferromagnetic Fe1 − xSix films is presented. Epitaxial Fe1 − xSix iron‑silicon alloy films with different silicon content (x = 0–0.4) were grown on Si(111) substrates. Structural in situ and ex situ characterization of the films obtained was made by X-ray diffraction, reflective high-energy electron diffraction, Rutherford backscattering spectrometry and transmission electron microscopy, which confirmed single crystallinity and interface abruptness for all films. Etching rates in the wet etchant (HF: HNO3: H2O = 1: 2: 400) for the films with various chemical composition were obtained. A nonmonotonic dependence of the etching rate on silicon content with a maximum for the composition Fe0.92Si0.08 was discovered. Moreover, the etching process is vertical and selective in the etching solution, i.e., the etching process takes place only in silicide film and does not affect substrate. As an example, a four-terminal planar structure was made of Fe0.75Si0.25/Si(111) structure using the etching rate obtained for this silicon content. Magneto-optical Kerr effect (MOKE) microscopy and transport properties characterization indicated successful etching process.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Demin V. A., Sorokin P. B., Avramov P. V., Chernozatonskii L. A.
Заглавие : Atomic structure and electronic properties of beta-phase silicon nanowires
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering" : book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.36
Материалы семинара
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashenko S. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry
Коллективы : Workshop Ellipsometry (7; 2012 ; март ; 5-7; Leipzig, Germany)
Место публикации : 7th Workshop on Ellipsometry: abstract book. - 2012. - P. - 82
Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Ovchinnikov S. G., Edelman I. S., Rautskii M. V., Patrin G. S., Han X. F., Feng J., Wan C.
Заглавие : Current dependent magneto-optical Kerr effect in Hall Bar CoFe structures
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016): abstracts/ ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk: KIP RAS SB, 2016. - Ст.P6.17. - P.325. - ISBN 978-5-904603-06-9 (Шифр -478014040)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): hall bar structure--magneto-optical kerr effect
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (выпуск монографической серии)
Шифр издания :
Автор(ы) : Maximova O. A., Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Lyashchenko S. A., Tarasov I. A., Yakovlev I. A., Maximova O. M., Shevtsov D. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Development of in situ magneto-ellipsometry for studying correlation between the optical and magneto-optical properties of ferromagnetic thin films
Коллективы : Joint European Magnetic Symposia , Russian Foundation for Basic Research [16-32-00209 mol_a, 14-02-01211, 16-42-24083]; Complex program of SB RAS [II.2P, 0358-2015-0004]; Ministry of Education and Science of the RF [16.663.2014kappa]; Grant of the President of the Russian Federation [7559.2016.2]
Место публикации : J. Phys.: Conf. Ser. - 2017. - Vol. 903. - Ст.012060. - , DOI 10.1088/1742-6596/903/1/012060
Примечания : Cited References:7. - The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research Grant No. 16-32-00209 mol_a, Grant No. 14-02-01211, Grant No. 16-42-24083; the Complex program of SB RAS No II.2P, project 0358-2015-0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014 kappa); Grant of the President of the Russian Federation (Scientific School No. 7559.2016.2).
Аннотация: In this work we present the way of nanostructured films study by means of magneto-ellipsometry. The method of interpretation of in situ magneto-optical ellipsometry spectra from the in situ molecular beam epitaxy setup with an integrated magneto-ellipsometric real time synthesis control is described. The method has been successfully tested on Fe/SiO2/Si nanostructures within the model of a homogeneous semi-infinite medium. As a result, the dielectric tensor components for Fe layer were calculated using a developed approach.
Смотреть статью,
WOS,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Maximova O. A., Kosyrev N. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Development of spectroscopic magneto-ellipsometry for studying of magneto-optical properties of ferromagnetic nanostructures
Коллективы : Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов
Место публикации : Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015): proceedings. - 2015. - Ст.VI.21.07p. - ISBN 978-5-8044-1556-4
Аннотация: The elements of the dielectric tensor ε are the subject of interest. In this paper a new method for obtaining diagonal and off-diagonal elements of this tensor is presented. In situ spectroscopic ellipsometry and magneto-ellipsometry measurements data from the in situ molecular beam epitaxy setup with an integrated magneto-ellipsometric real time control are used. The formulae and the algorithm for data analysis are obtained. The method is approved on the ferromagnetic nanostructures Fe/SiO2/Si.
Материалыконференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Baron F. A., Ovchinnikov S. G., Jiang H.-W., Wang K. L.
Заглавие : Effects of magnetic field on the source current of deep-submicron MOSFET baised at accumulation
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering": book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.20
Материалы семинара
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Efremov A. V., Ovchinnikov S. G., Varnakov S. N., Kosyrev N. N.
Заглавие : Ellipsometer mounting system design using CAD
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering" : book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.21
Материалы семинара
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Shvets V. A., Mikhailov N. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Rykhlitskii S. V., Yakovlev I. A.
Заглавие : Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers
Коллективы : Ministry of Education and Science of the Russian Federation [14.513.11.0016, 14.132.21.1709, 14.V37.21.1276]; Program Supporting Leading Scientific Schools [NSh-1044.2012.2]; Russian Foundation for Basic Research [13-02-01265]; Physics Division, Russian Academy of Sciences [2.4.1]; Presidium of the Russian Academy of Sciences [23.34]; Siberian-Far East Branches, Russian Academy of Sciences [85]; Siberian Branch, Russian Academy of Sciences [38]
Место публикации : Tech. Phys.: MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 59, Is. 5. - P.736-739. - ISSN 1063-7842, DOI 10.1134/S1063784214050144. - ISSN 1090-6525
Примечания : Cited References: 17. - This work was supported financially by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (state contract no. 14.513.11.0016, agreement nos. 14.132.21.1709 and 14.V37.21.1276), the Program Supporting Leading Scientific Schools (project no. NSh-1044.2012.2), Russian Foundation for Basic Research (project no. 13-02-01265), Physics Division, Russian Academy of Sciences (program no. 2.4.1), Presidium of the Russian Academy of Sciences (program no. 23.34), Siberian-Far East Branches, Russian Academy of Sciences (project no. 85), and integration project no. 38 of the Siberian Branch, Russian Academy of Sciences.
Предметные рубрики: LAYERS
Аннотация: An algorithm that makes it possible to solve the inverse problem of ellipsometry aimed at determining the absorption coefficient on the basis of a single-zone ellipsometric experiment during the growth of thin semiconducting films is developed and implemented. The technique is based on analysis of the variation of ellipsometric parameters I and Delta directly during the growth. The algorithm is tested in synthesis of Si/SiO2/Si(100) and Hg1 - x Cd (x) Te structures.
Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Yakovlev I. A., Kosyrev N. N., Smolyarova T. E., Nemtsev I. V., Solovyov I.
Заглавие : Epitaxial stabilization of Fe3Si(111)-orientated thin films on Si(110) via self-organized growth of α-FeSi2 nano-stripes: structural analysis and magnetic properties
Коллективы : International Baltic Conference on Magnetism: focus on nanobiomedicine and smart materials, Балтийский федеральный университет им. И. Канта
Место публикации : 4th International Baltic Conference on Magnetism (IBCM 2021): Book of abstracts. - 2021. - P.87
Примечания : Cited References: 1. - The reported study was funded by the Russian Science Foundation, project no. 20-72-00100
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Yakovlev I. A., Volochaev M. N., Kuzubov A. A., Zamkova N. G., Kosyrev N. N., Velikanov D. A., Shemukhin A. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Examination of structure, optical and magnetic properties of epitaxial Fe1–xSix/Si(111) alloy films
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016): abstracts/ ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk: KIP RAS SB, 2016. - Ст.O10.20. - P.464. - ISBN 978-5-904603-06-9 (Шифр -478014040)
Примечания : References: 1. - The work was supported by State contract No. 02.G25.31.0043, State task No.16.663.2014К, the Complex program of SB RAS № II.2P, project 0358-2015-0007
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): epitaxy--iron silicides--optical and magnetic properties--structure, defects
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Komarov V. A., Yakovchuk V. Yu., Volchenko E. N., Zhivaya Ya. A., Patrin G. S., Kosyrev N. N.
Заглавие : Exchange coupling in DyxCo1-x/Bi/NiFe ferrimagnet spin valve
Коллективы : Российская академия наук, Уральское отделение РАН, Институт физики металлов им. М. Н. Михеева Уральского отделения РАН, Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Российский фонд фундаментальных исследований, Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium
Место публикации : Euro-asian symposium "Trends in magnetism" (EASTMAG-2019): Book of abstracts/ чл. конс. ком.: S. G. Ovchinnikov, N. V. Volkov [et al.] ; чл. прогр. ком. D. M. Dzebisashvili [et al.]. - 2019. - Vol. 1. - Ст.A.P33. - P.134. - ISBN 978-5-9500855-7-4 (Шифр В33/E12-125657784)
Примечания : Cited References: 2
Материалы симпозиума,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Krasnov P. O., Milyutina Y. M.
Заглавие : Exited electronic states of porphyrin-fullerene dyads with different type of bonding
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering" : book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.34
Материалы семинара
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Maksimova O. A., Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Lyashchenko S. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Features of the ellipsometric investigation of magnetic nanostructures
Коллективы : Russian Federation [2886.2014.2], RFBR [13-02-01265, 14-02-01211], Ministry of Education and Science of the Russian Federation[14.604.21.0002, 02.G25.31.0043], Foundation for Assistance to SmallInnovative Enterprises in Science and Technology [0003831]
Место публикации : J. Struct. Chem.: MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 55, Is. 6. - P.1134-1141. - ISSN 0022, DOI 10.1134/S0022476614060225. - ISSN 15738779(eISSN)
Примечания : Cited References:8. - The work was supported by the Program of the President of the RussianFederation for the support of leading scientific schools (ScientificSchool 2886.2014.2), RFBR (grant No. 13-02-01265, No. 14-02-01211), theMinistry of Education and Science of the Russian Federation (Agreement14.604.21.0002 State contract No. 02.G25.31.0043), and the Foundationfor Assistance to Small Innovative Enterprises in Science and Technology(program "A Member of the Youth Research and Innovation Competition",contract number 0003831).
Предметные рубрики: PARAMETERS
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): magneto-ellipsometry--ellipsometric measurements--magneto-optical kerr--effect--thin films--semi-infinite medium model--refraction coefficient
Аннотация: The technique for interpreting magneto-ellipsometric measurements is proposed. The model of a homogeneous semi-infinite medium for reflecting layered magnetic structures in the presence of the magnetic field in the configuration of the magneto-optical equatorial Kerr effect is considered. Based on the analysis of the Fresnel coefficients with regard to the magneto-optical parameter Q appearing in the off-diagonal elements of the permittivity tensor, the expressions are obtained using which the refraction (n) and absorption (k) coefficients, the real (Q (1)) and imaginary (Q (2)) parts of the magneto-optical parameter can be found from the ellipsometric (psi(0) and Delta(0)) and magneto-ellipsometric (psi(0) + delta psi and Delta(0) + delta I") measurements. The results will allow to measure and analyze the magnetic characteristics such as hysteresis loops and the coercitive force of layered nanostructures using the conventional ellipsometric equipment.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

17.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Ovchinnikov S. G., Bartolome J., Sese J., Varnakov S. N., Komogortsev S. V., Kosyrev N. N., Parshin A. M., Aleksandrova G. A., Kuschenkov S. A., Dolbak A. E., Olshanetsky B. Z., Pchelyakov O. P.
Заглавие : Ferromagnetic|semicodactor Fe|Si nanostructures for spintronics
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering": book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.12
Материалы семинара
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Varnakov S. N., Komogortsev S. V., Ovchinnikov S. G., Bartolome J., Sese J.
Заглавие : Formation of nonmagnetic phases in Fe/Si interface
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering" : book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.21
Материалы семинара
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Smolyarova T. E., Yakovlev I. A., Kosyrev N. N., Komarov V. A., Nemtsev I. V., Varnakov S. N., Patrin G. S., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Growth of Textured Au-Fe/Fe Hybrid Nanocrystals on Oxidized Silicon Surface
Коллективы : International Symposium "Nanostructures: Physics and Technology" , Russian Foundation for Basic Research; government of the region of the Russian Federation [18-42-243013]; Russian Federation [CPi-2796.2018.1]
Место публикации : Semiconductors. - 2018. - Vol. 52, Is. 16. - P.2073-2077. - ISSN 1063-7826, DOI 10.1134/S1063782618160364. - ISSN 1090-6479(eISSN)
Примечания : Cited References: 19. - The reported research was funded by Russian Foundation for Basic Research and the government of the region of the Russian Federation, grant no. 18-42-243013, the Program of the President of the Russian Federation for the support of young scientist (C Pi-2796.2018.1). We also thank L.A. Solovyov for his asistance in XRD analysis.
Предметные рубрики: INTERMETALLIC AU3FE1-X
MAGNETIC-PROPERTIES
FECU NANOPARTICLES
Аннотация: We present in this report the route to produce highly-textured Au3Fe(111)/Fe(110) hybrid nanocrystals on an amorphous surface of SiO2/Si by molecular beam epitaxy. By controlling the quantity of Au atoms deposited onto the SiO2/Si it is possible to tune the average lateral size of resultant Au-Fe hybrid nanocrystals from 10-20 nm up to 100-150 nm at the same Fe nominal thickness deposited. This process is sensitive to the initial density and size of Au islands. Examination of Au-Fe hybrid nanocrystals obtained was carried out using X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, reflection high energy electron diffraction, and Kerr effect methods.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Lyashchenko S. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Shevtsov D. V., Shvets V. A., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Bondarenko G. V., Rykhlitskii S. V.
Заглавие : In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers
Место публикации : Tech. Phys. - 2013. - Vol. 58, Is. 10. - P.1529-1532. - ISSN 1063-7842, DOI 10.1134/S1063784213100162
Аннотация: A thin polycrystalline Fe film on a single-crystal Si substrate with natural SiO2 oxide is obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum. The magneto-optical properties of the resultant structure are investigated in situ by the methods of spectral ellipsometry. The values of the coercive force for the Fe film are obtained, and the magnetization reversal loop and the energy dependence of the equatorial Kerr effect are constructed. The effectiveness of magnetoellipsometry for in situ analysis of the geometrical and magnetooptical properties of thin ferromagnetic layers is demonstrated. В© 2013 Pleiades Publishing, Ltd.
Scopus,
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие