Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Швец, Василий Александрович$<.>)

Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 16

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Zabluda V. N., Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Shvets V. A., Rykhlitsky S. V.
Заглавие : In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers
Коллективы : International conference nanomaterials: applications and properties
Место публикации : Proc. int. conf. nanomaterials: application and properties. - 2013. - Vol. 2, No. 3. - P.03AET11
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Варнаков, Сергей Николаевич, Косырев, Николай Николаевич, Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Швец, Василий Александрович, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие : Разработка метода in situ магнитоэллипсометрического мониторинга для синтеза магнитных наноструктур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации : 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 128. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Швец, Василий Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие : Эллипсометрический экспресс-метод определения показателя поглощения полупроводниковых наноструктур
Коллективы : "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция , Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН
Место публикации : 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013): 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 334. - ISBN 978-5-906376-03-9
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Швец, Василий Александрович, Михайлов Н. Н., Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Рыхлицкий С. В., Яковлев, Иван Александрович
Заглавие : Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ
Место публикации : Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - ISSN 0044-4642
Примечания : Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Заблуда, Владимир Николаевич, Косырев, Николай Николаевич, Рыхлицкий С. В., Швец, Василий Александрович
Заглавие : In situ спектральный магнитоэллипсометр
Коллективы : "Физика низкоразмерных систем", Международный междисциплинарныйо симпозиум
Место публикации : Физика низкоразмерных систем, LDS-2/ Труды Второго междунар. междисциплинар. симп., 3-8 сентября 2010 года, Ростов-на-Дону, пос. Лоо. - Ростов на Дону: Фонд науки и образования, 2010. - С. 92-94
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Косырев, Николай Николаевич, Шевцов Д. А., Варнаков, Сергей Николаевич, Худяков, Алексей Евгеньевич, Ефремов А.В., Рыхлицкий С. В., Швец, Василий Александрович
Заглавие : Сверхвысоковакуумная установка для получения и исследования наноструктур магнитоэллипсометрическими методами in situ
Коллективы : "Решетневские чтения", международная научная конференция, Сибирский государственный университет науки и технологий им. акад. М. Ф. Решетнева, Информационные спутниковые системы им. академика М. Ф. Решетнева, АО, Красноярский машиностроительный завод, ОАО
Место публикации : Решетневские чтения: [Электронный ресурс] : материалы XIV Междунар. науч. конф., посвяще. памяти ген. конструктора ракет.-космич. систем акад. М. Ф. Решетнева : в 2-х ч./ Сиб. гос. аэрокосмич. ун-т.; под общ. ред. Ю.Ю. Логинова. - Красноярск, 2010. - Ч. 2. - С. 582-583
Примечания : Библиогр.: 6. - Работа выполнена в рамках программы № 4.1 ОФН РАН «Спинтроника», программы Президиума РАН № 27.10, инте грационного проекта СО РАН и ДВО РАН № 22, федеральной целевой программы «Научные и научно-педагогические кад ры инновационной России» на 2009–2013 гг. (код проекта: НК-744П/ГК П1
Аннотация: Описана сверхвысоковакуумная камера, позволяющая изготовлять наноструктуры на основе тонких маг нитных пленок. В качестве метода контроля параметров растущей структуры предложена новая методи ка – спектральная магнитоэллипсометрия, позволяющая получать информацию о структурных, оптических и магнитных свойствах непосредственно в процессе изготовления в реальном времени.
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Zabluda V. N., Varnakov S. N., Efremov A. V., Kosyrev N. N., Rykhkitskii S. V., Shvets V. A., Spesivtsev E. V., Khudyakov A. E., Shvetsov D. V.
Заглавие : In situ magnetic spectroellipsometry
Коллективы : "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop, Сибирский федеральный университет, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering": book of abstracts/ предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P.15
Материалы семинара
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович, Бондаренко С. Г., Терещенко О. Е.
Заглавие : Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100)
Место публикации : Журн. техн. физ.: Санкт-Петербургская издательская фирма "Наука" РАН, 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48
Примечания : Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Lvaschenko S. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Shevtsov D. V., Shvets V. A., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Bondarenko G. V., Rykhkitskii S. V., Latyshev A. V., Saranin A. A.
Заглавие : The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism: abstracts. - Vladivostok: FEFU, 2013. - С. 105. - ISBN 978-5-7444-3124-2
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Тарасов, Иван Анатольевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Швец, Василий Александрович, Заблуда, Владимир Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Косырев, Николай Николаевич, Бондаренко, Геннадий Васильевич, Рыхлицкий С. В.
Заглавие : Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами
Место публикации : Журн. техн. физ. - 2013. - Т. 83, Вып. 10. - С. 139-142
Аннотация: Методом термического испарения в сверхвысоком вакууме получена тонкая поликристаллическая пленка Fe на монокристаллической подложке Si с естественным оксидом SiO2. Исследованы магнитооптические свойства полученной структуры in situ методами спектральной эллипсометрии. Найдены значения коэрцитивной силы пленки Fe, построены петля перемагничивания и энергетическая зависимость экваториального эффекта Керра. Показана эффективность магнитоэллипсометрии для in situ анализа геометрических и магнитооптических свойств тонких слоев ферромагнетиков.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Zabluda V. N., Shvets V. A., Rykhkitsky S. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry
Коллективы : International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6; 2013 ; May ; 26-31; Kyoto, Japan)
Место публикации : 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013): Conf. programm and abstr. - 2013. - P.205
Материалы конференции
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Швец, Василий Александрович
Заглавие : Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста
Коллективы : "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Школа
Место публикации : 6-я Школа "Метрология и стандарт. в нанотехнол. и наноиндустрии": 4-7 июня 2013 г., Екатеринбург. - 2013. - С. 60
Материалы школы
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Рыхлицкий С. В., Швец, Василий Александрович, Спесивцев Е. В., ПРокопьев В. Ю., Овчинников, Сергей Геннадьевич, Заблуда, Владимир Николаевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Шевцов, Дмитрий Валентинович
Заглавие : Измерительно-ростовой комплекс для синтеза и исследования in situ материалов спинтроники
Место публикации : Приборы и техника эксперимента. - М.: Наука, 2012. - № 2. - С. 165-166. - ISSN 0032-8162
Аннотация: Описан комплекс, предназначенный для многоцелевой характеризации моно- и многослойных структур полупроводниковой спинтроники, содержащих слои ферромагнитных материалов.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Ш 35 рукописный текст
Автор(ы) : Швец, Василий Александрович
Заглавие : Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te : дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Новосибирск, 2010
Колич.характеристики :234 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.: 179 назв.
ГРНТИ : 29.19.31 + 47.13.11
ББК : В379.2я031
Экземпляры :ДС(1)
Свободны : ДС(1)
Найти похожие

15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37 рукописный текст
Автор(ы) : Швец, Василий Александрович
Заглавие : Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te : автореферат дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Новосибирск, 2010
Колич.характеристики :30 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.19.31 + 47.13.11
Предметные рубрики: Полупроводники-- Рост кристаллов-- Контроль эллипсометрический-- Исследование
Смотреть автореферат
Найти похожие

16.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания :
Автор(ы) : Максимова, Ольга Александровна
Заглавие : Оптические и магнитооптические свойства магнитных наноструктур по данным in situ спектральной магнитооптической эллипсометрии : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук : защищена 27.11.2020
Выходные данные : Красноярск, 2020
Колич.характеристики :24 с
Коллективы : Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Примечания : Библиогр.: 97 назв.
Смотреть автореферат,
Читать в сети ИФ
Найти похожие