Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Igumenov, A. Yu.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Parshin A. S., Igumenov, A. Yu., Mikhlin, Yu. L., Pchelyakov O. P., Zhigalov V. S.
Заглавие : Reflection electron energy loss spectroscopy of iron monosilicide
Место публикации : Russ. Phys. J.: Springer, 2017. - Vol. 59, Is. 10. - P.1610-1615. - ISSN 1064-8887, DOI 10.1007/s11182-017-0952-7. - ISSN 1573-9228(eISSN)
Примечания : Cited References:14
Предметные рубрики: SCATTERING CROSS-SECTION
SPECTRA
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): iron silicides--iron monosilicide--inelastic electron scattering cross--section spectroscopy--reflection electron energy loss spectroscopy--x-ray photoelectron spectroscopy
Аннотация: X-ray photoelectron spectra, reflection electron energy loss spectra, and inelastic electron scattering cross section spectra of iron monosilicide FeSi are investigated. It is shown that the spectra of inelastic electron scattering cross section have advantages over the reflection electron energy loss spectra in studying the processes of electron energy losses. An analysis of the fine structure of the inelastic electron scattering cross section spectra allows previously unresolved peaks to be identified and their energy, intensity, and nature to be determined. The difference between energies of fitting loss peaks in the spectra of inelastic electron scattering cross section of FeSi and pure Fe are more substantial than the chemical shifts in X-ray photoelectron spectra, which indicates the possibility of application of the fine structure of the spectra of inelastic electron scattering cross section for elemental analysis.
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Igumenov A. Yu., Andryushchenko T. A.
Заглавие : Different approaches for SiO2 inelastic electron scattering cross section spectra dissolving
Коллективы : Reshetnev Readings 2019
Место публикации : IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. - 2022. - Vol. 1230: Reshetnev Readings 2019 11th-15th November 2019, Krasnoyarsk, Russian Federation. - Ст.012007. - ISSN 17578981 (ISSN), DOI 10.1088/1757-899X/1230/1/012007. - ISSN 1757899X (eISSN)
Примечания : Cited References: 14. - The authors express gratitude to Parshin A.S. for assignation the SiO2 Kλ-spectra
Аннотация: Inelastic electron scattering cross section spectra (Kλ-spectra) of SiO2 were dissolved into bulk-loss and surface-loss components using factor analysis and Tougaard functions approximation. Primary electron energy dependences of various components intensities were received. It was shown that joint using of factor analysis and Tougaard functions approximation allows receiving more reliable results in inelastic electron scattering cross section spectra studies.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)