Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Solovev, P. N.$<.>)

Общее количество найденных документов : 60
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Solovev P. N., Izotov A. V., Belyaev B. A.
Заглавие : Numerical study of structural and magnetic properties of thin films obliquely deposited on rippled substrates
Коллективы : RFBRRussian Foundation for Basic Research (RFBR); Government of Krasnoyarsk Territory; Krasnoyarsk Regional Fund; JSC 'NPP Radiosviaz' [20-42-242901]
Место публикации : J. Phys.: Condens. Matter. - 2021. - Vol. 33, Is. 49. - Ст.495802. - ISSN 0953-8984, DOI 10.1088/1361-648X/ac26fc. - ISSN 1361-648X(eISSN)
Примечания : Cited References: 35. - The reported study was funded by RFBR, the Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Regional Fund and JSC 'NPP Radiosviaz', Project Number 20-42-242901
Предметные рубрики: SIMULATION
ANISOTROPY
GROWTH
Аннотация: Structural modulation in thin films plays a substantial role in the formation of their magnetic properties. By producing topographic patterns in thin films, it is possible to engineer their magnetic response. Here, we report on the numerical study of the relationship between structural and static magnetic properties of thin films obliquely deposited on substrates with the sinusoidal surface. 3D Monte Carlo film growth simulations show that, under certain deposition conditions, an inhomogeneous columnar morphology can form in the films caused by the shadowing effect and the rippled substrate. Calculations of the demagnetizing tensors for these films demonstrate that their columnar structure is the source of the shape-induced uniaxial magnetic anisotropy that varies nonmonotonically with the deposition angle. Micromagnetic simulations of the generated films confirm the uniaxial character of the shape-induced anisotropy, and also show that magnetization reversal occurs via an incoherent rotation of magnetic moments.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Solovev P. N., Afonin A. O., Belyaev B. A., Boev N. M., Govorun I. V., Izotov A. V., Ugryumov A. V., Leksikov An. A.
Заглавие : Second harmonic generation in thin permalloy film
Коллективы : Russian Science FoundationRussian Science Foundation (RSF) [19-72-10047]
Место публикации : J. Phys. D. - 2021. - Vol. 54, Is. 42. - Ст.425002. - ISSN 0022-3727, DOI 10.1088/1361-6463/ac1762. - ISSN 1361-6463(eISSN)
Примечания : Cited References: 43. - This work was supported by the Russian Science Foundation under Grant No. 19-72-10047. The equipment of the Krasnoyarsk Regional Center of Research Equipment of Federal Research Center 'Krasnoyarsk Science Center SB RAS' was used during the measurement
Предметные рубрики: FERROMAGNETIC-RESONANCE
MAGNETIZATION DYNAMICS
HARMONIC-GENERATION
FERRITES
Аннотация: Second harmonic generation versus strength and direction of the applied static magnetic field was measured for a thin permalloy (Ni80Fe20) film in a microstrip line at a driving frequency of 1 GHz and maximum input power of ~110 mW. The measurements revealed two peaks in the double frequency signal—in the low static field (~10 Oe) and the high one (~45 Oe). To explain these findings, a macrospin model of a thin magnetic film with in-plane uniaxial magnetic anisotropy was considered. A perturbation expansion of the Landau–Lifshitz–Gilbert equation provided an explanation of the experimental data. The analysis of the model revealed that the low-field peak was caused by the longitudinal second-order magnetization component and the high-field peak by the transversal one. It was also shown that the uniaxial magnetic anisotropy of the film and the dependence of the magnetic damping parameter on the applied field play an important role in the process of the second harmonic generation. The results obtained give insights into some peculiarities of the nonlinear magnetization dynamics that are important in the development of magnetic film-based devices in the field of microwave signal processing and manipulation.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Беляев, Борис Афанасьевич, Боев, Никита Михайлович, Горчаковский, Александр Антонович, Изотов, Андрей Викторович, Соловьев, Платон Николаевич
Заглавие : Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 1. - С. 3-9. - ISSN 0021-3411, DOI 10.17223/00213411/64/1/3
Примечания : Библиогр.: 28. - Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ, Правительства Красноярского края, Краевого фонда науки и АО «НПП «Радиосвязь» в рамках научного проекта № 20-42-242901
Аннотация: Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм2 на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Belyaev B. A., Boev N. M., Izotov A. V., Solovev P. N.
Заглавие : Domain structure and magnetization reversal in multilayer structures consisting of thin permalloy films separated with nonmagnetic interlayers
Коллективы : Ministry of Science and Higher EducationMinistry of Science and Higher Education, PolandEuropean Commission
Место публикации : Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64, Is. 6. - P.1160-1167. - ISSN 1064-8887, DOI 10.1007/s11182-021-02436-w. - ISSN 1573-9228(eISSN)
Примечания : Cited References: 30. - This work was financially supported by the Ministry of Science and Higher Education under agreement No. 075-11-2019-054 November 22, 2019
Предметные рубрики: MICROMAGNETIC CALCULATION
MAGNETOMETER
SIMULATION
NOISE
Аннотация: Using numerical micromagnetic modeling, we have investigated the development of domain structure and magnetization reversal in multilayer thin-film structures. The permalloy (Ni80Fe20) magnetic layers had the inplane uniaxial and perpendicular magnetic anisotropy. We found that as the thickness of nonmagnetic interlayers decreases, the in-plane configuration of magnetic moments in the permalloy layers transforms from a single domain state to stripe domains, which is caused by the increase of magnetostatic interaction between layers. In structures with "thick" interlayers, even weak magnetostatic interaction enforces the neighboring single domain permalloy layers to have opposite orientations of magnetic moments. The saturation field of such samples increases linearly with the number of layers. By analyzing the dynamic characteristics of multilayers, we determined the optimum number of layers ensuring the maximum conversion efficiency of wideband microwave microstrip sensors of weak magnetic fields.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2758540!-139151828
Автор(ы) : Беляев, Борис Афанасьевич, Лексиков, Александр Александрович, Лексиков, Андрей Александрович, Говорун, Илья Валерьевич, Афонин, Алексей Олегович, Угрюмов, Андрей Витальевич, Соловьев, Платон Николаевич, Боев, Никита Михайлович
Заглавие : Умножитель частоты на тонкой магнитной пленке .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2021. - № 31
Аннотация: Изобретение относится к технике сверхвысоких частот и предназначено для умножения частоты СВЧ сигналов в системах связи, радиолокации, радионавигации, различной измерительной и специальной радиоаппаратуре. Техническим результатом изобретения является повышение коэффициента преобразования устройства при сохранении радиационной стойкости. Умножитель частоты на тонкой магнитной пленке содержит заземленный с одного края нерегулярный четвертьволновый резонатор. Размеры проводников резонатора подобраны таким образом, что резонансная частота его второй моды колебаний ровно в два раза превышает резонансную частоту первой моды колебаний, а резонансная частота третьей моды не кратна резонансной частоте первой моды колебаний. Тонкая магнитная пленка помещается между полосковыми проводниками резонатора и заземленным основанием вблизи короткозамкнутой части резонатора. 4 ил.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Описание изобретения к патенту 2756841!-082876065
Автор(ы) : Беляев, Борис Афанасьевич, Лексиков, Александр Александрович, Лексиков, Андрей Александрович, Говорун, Илья Валерьевич, Афонин, Алексей Олегович, Угрюмов, Андрей Витальевич, Соловьев, Платон Николаевич, Боев, Никита Михайлович
Заглавие : Умножитель частоты на полосковом резонаторе с магнитной плёнкой .-
Коллективы : Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук", Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент), Федеральный институт промышленной собственности
Место публикации : Изобретения. Полезные модели: офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2021. - № 28
Аннотация: Изобретение относится к технике сверхвысоких частот и предназначено для умножения частоты СВЧ сигналов в системах связи, радиолокации, радионавигации, различной измерительной и специальной радиоаппаратуре. Техническим результатом заявляемого изобретения является повышение коэффициента преобразования устройства и уменьшение размеров при сохранении радиационной стойкости. Умножитель частоты на полосковом резонаторе с магнитной пленкой содержит металлическое основание, служащее экраном, отрезки микрополосковых линий и тонкую магнитную пленку, нанесенную на подложку, причем полосковые проводники отрезков микрополосковых и несимметричных полосковых линий образуют полуволновый нерегулярный резонатор в виде буквы «П», причем размеры всех его полосковых проводников подобраны таким образом, что резонансная частота второй моды колебаний резонатора ровно в два раза превышает резонансную частоту его первой моды колебаний f1, а резонансная частота третьей моды колебаний не кратна частоте f1, при этом тонкая магнитная пленка располагается между проводниками отрезков несимметричных воздушных полосковых линий и экраном резонатора, а выходной сигнал снимается в точке, где для входного сигнала располагается узел напряжения. 4 ил.
Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Беляев, Борис Афанасьевич, Боев, Никита Михайлович, Изотов, Андрей Викторович, Соловьев, Платон Николаевич
Заглавие : Доменная структура и процессы перемагничивания многослойных систем из тонких пленок пермаллоя с немагнитными прослойками
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 6. - С. 170-176. - ISSN 0021-3411, DOI 10.17223/00213411/64/6/170
Примечания : Библиогр.: 30. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования в рамках соглашения № 075-11-2019-054 от 22.11.2019
Аннотация: Микромагнитным моделированием многослойных тонкопленочных структур, состоящих из магнитных слоев, разделенных немагнитными прослойками, исследовано формирование доменной структуры и процессы перемагничивания. Магнитные слои из пермаллоя (Ni80Fe20) обладают одноосной в плоскости и перпендикулярной магнитной анизотропией. Обнаружено, что при уменьшении толщины прослоек планарная конфигурация магнитных моментов в пермаллоевых слоях трансформируется из однодоменного состояния в страйп-структуру, что обусловлено ростом магнитостатического взаимодействия слоев. В структурах с «толстыми» прослойками даже слабое магнитостатическое взаимодействие заставляет соседние однодоменные пермаллоевые слои иметь противоположную ориентацию магнитных моментов, при этом поле насыщения таких образцов линейно увеличивается с ростом количества слоев. Анализ динамических характеристик тонкопленочной структуры позволил определить оптимальное количество слоев, обеспечивающее максимальный коэффициент преобразования широкополосного микрополоскового СВЧ-датчика слабых магнитных полей.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Belyaev B. A., Boev N. M., Gorchakovskii A. A., Izotov A. V., Solovev P. N.
Заглавие : Structure constant and grain size determination by ferromagnetic resonance in thin magnetic films
Место публикации : Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64, Is. 1. - P.1-8. - ISSN 10648887 (ISSN), DOI 10.1007/s11182-021-02293-7
Примечания : Cited References: 28. - This work was financially supported by Project N 20-42-24290 from the Russian Foundation for Basic Research, administrative support from Krasnoyarsk Krai, Scientific Foundation of Krasnoyarsk Krai, and AO "Radiosvyaz"
Аннотация: The paper shows that the structure constant and the average crystal grain size of anisotropic nanocrystalline magnetic film can be determined by analyzing the shape of the microwave absorption peak in sweeping the external magnetic field along the hard magnetization axis. In the theory of magnetization ripple, the surface energy density of the local magnetic anisotropy is connected with the structure constant, which can be used to determine the quality of nanocrystalline films. The effectiveness of the structure constant measurements is demonstrated on a 300-nm-thick nanocrystalline Co–P film. Spectral data on the microwave absorption are collected in the ~1 mm2 region of the film using a scanning ferromagnetic resonance spectrometer. The structure constant obtained from the spectral analysis allows detecting the average grain size of the magnetic film, which is in good agreement with transmission electron microscopy observations.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Solovev P. N., Izotov A. V., Belyaev B. A., Boev N. M.
Заглавие : Micromagnetic simulation of domain structure in thin permalloy films with in-plane and perpendicular anisotropy
Место публикации : Physica B. - 2020. - Vol. 604. - Ст.412699. - ISSN 09214526 (ISSN), DOI 10.1016/j.physb.2020.412699
Примечания : Cited References: 31. - This work was supported by the Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation , agreement number 075-11-2019-054 dated 22.11.2019
Аннотация: We investigate the domain structure formation and magnetization processes in thin permalloy films with in-plane and perpendicular magnetic anisotropy by using micromagnetic simulation. We show that the films of thicknesses less than a critical value Lcr are in the monodomain state, and their magnetization processes are specified by the in-plane anisotropy. Above the critical thickness Lcr, the perpendicular anisotropy dominates, leading to the formation of the stripe domain structure that significantly complicates the magnetization reversal. The values of the critical thickness, parameters of the domain structure, and the saturation field obtained from the micromagnetic simulations are compared with the corresponding values calculated using analytical expressions derived by Murayama in the framework of the domain structures theory.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Беляев, Борис Афанасьевич, Изотов, Андрей Викторович, Скоморохов, Георгий Витальевич, Соловьев, Платон Николаевич
Заглавие : Микромагнитный анализ краевых эффектов в тонкой магнитной пленке при локальном возбуждении колебаний намагниченности
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2020. - Т. 63, № 5. - С. 116-121. - ISSN 0021-3411, DOI 10.17223/00213411/63/5/116
Примечания : Библиогр.: 19. - Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ в рамках научного проекта № 18-32-00086
Аннотация: Методом численного микромагнитного моделирования исследована динамика намагниченности тонкой пленки с одноосной магнитной анизотропией при возбуждении в ней ферромагнитного резонанса (ФМР) на локальных участках линейно-поляризованным высокочастотным магнитным полем, излучаемым из отверстия диаметром 1 мм в металлическом экране линии. Установлено, что неоднородности полей размагничивания, возникающие вблизи краев пленки, приводят не только к изменению поля ФМР, но и к изменению величины и направления поля одноосной анизотропии. Распределение неоднородностей характеристик магнитной анизотропии по площади пермаллоевой пленки толщиной 60 нм, измеренных на сканирующем спектрометре ФМР, хорошо согласуются с результатами микромагнитного моделирования. Доказано, что краевые эффекты в магнитных пленках в основном обусловлены размагничивающими полями.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие