Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Tarasov, I. A.$<.>)

Общее количество найденных документов : 130
Показаны документы с 1 по 20

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Шевцов, Дмитрий Валентинович, Тарасов, Иван Анатольевич, Косырев, Николай Николаевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Определение оптических параметров наноструктур Fe/Si методом эллипсометрии
Место публикации : Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. V Ставеровские чтения. - Красноярск, 2009. - С. 187-188. - ISBN 978-5-7638-1568-9
ГРНТИ : 29.19.22
Аннотация: Рассматривается обратная задача эллипсометрии в рамках однослойной системы "подложка-пленка", в частности ставятся задачи определения оптич. постоянных монокристаллич. кремния итерационным методом и оптич. постоянных нанослоев железа графоаналитич. методом. Модель, принятая в этих вычислениях, состоит из плоскости полубесконечной подложки, покрытой тонкой пленкой и окруженная диэлектрич. средой. Использование комбинации итерационного и графоаналитического методов решения обратной задачи эллипсометрии позволило определять оптические параметры и толщины отдельных слоев в наноструктурах Fe/Si
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashenko S. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry
Коллективы : Workshop Ellipsometry (7; 2012 ; март ; 5-7; Leipzig, Germany)
Место публикации : 7th Workshop on Ellipsometry: abstract book. - 2012. - P. - 82
Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Zharkov S. M., Shvets V. A., Bondarenko S. G., Tereshchenko O. E.
Заглавие : Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth
Место публикации : Tech. Phys.: MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. - Vol. 57, Is. 9. - P.1225-1229. - ISSN 1063-7842, DOI 10.1134/S1063784212090241
Примечания : Cited References: 18. - This work was supported by Integration Project no. 22 of the Siberian and Far East Branches, Russian Academy of Sciences; a program of the Presidium of the Russian Academy of Sciences (project no. 27), the Federal Target Program "Human Capital for Science and Education in Innovative Russia" for 2009-2013, and the program "Spintronics" (project no. 4) of the Department of Physical Sciences, Russian Academy of Sciences.
Аннотация: An algorithm is developed to perform rapid control of the thickness and optical constants of a film structure during growth. This algorithm is tested on Fe/SiO2/Si(100) structures grown in an Angara molecular-beam epitaxy setup. The film thicknesses determined during their growth are compared with X-ray spectral fluorescence analysis and transmission electron microscopy data.
Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Varnakov S. N., Yakovlev I. A., Zharkov S. M., Kosyrev N. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis
Коллективы : Donostia International Conference on Nanoscaled Magnetism and Applications (9 -13 Sept. 2013; San Sebastian, Spain)
Место публикации : Donostia Int. Conf. on Nanoscaled Magnetism and Applications: Abstracts book. - 2013. - Ст.P1-27. - P.260
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Zabluda V. N., Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Shvets V. A., Rykhlitsky S. V.
Заглавие : In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers
Коллективы : International conference nanomaterials: applications and properties
Место публикации : Proc. int. conf. nanomaterials: application and properties. - 2013. - Vol. 2, No. 3. - P.03AET11
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Lyashchenko S. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Shevtsov D. V., Shvets V. A., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Bondarenko G. V., Rykhlitskii S. V.
Заглавие : In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers
Место публикации : Tech. Phys. - 2013. - Vol. 58, Is. 10. - P.1529-1532. - ISSN 1063-7842, DOI 10.1134/S1063784213100162
Аннотация: A thin polycrystalline Fe film on a single-crystal Si substrate with natural SiO2 oxide is obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum. The magneto-optical properties of the resultant structure are investigated in situ by the methods of spectral ellipsometry. The values of the coercive force for the Fe film are obtained, and the magnetization reversal loop and the energy dependence of the equatorial Kerr effect are constructed. The effectiveness of magnetoellipsometry for in situ analysis of the geometrical and magnetooptical properties of thin ferromagnetic layers is demonstrated. В© 2013 Pleiades Publishing, Ltd.
Scopus,
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Lvaschenko S. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Shevtsov D. V., Shvets V. A., Zabluda V. N., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Bondarenko G. V., Rykhkitskii S. V., Latyshev A. V., Saranin A. A.
Заглавие : The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism: abstracts. - Vladivostok: FEFU, 2013. - С. 105. - ISBN 978-5-7444-3124-2
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Komogortsev S. V., Varnakov S. N., Satsuk S. A., Yakovlev I. A., Tarasov I. A., Bondarenko G. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Magnetic anisotropy in Fe films deposited on SiO2/Si(001) and Si(001) substrates
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism: abstracts. - Vladivostok: FEFU, 2013. - С. 310. - ISBN 978-5-7444-3124-2
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Kosyrev N. N., Varnakov S. N., Tarasov I. A., Lyashchenko S. A., Shvetsov D. V., Maksimova O. A., Yakovlev I. A., Zabluda V. N., Shvets V. A., Rykhkitsky S. V., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry
Коллективы : International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6; 2013 ; May ; 26-31; Kyoto, Japan)
Место публикации : 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013): Conf. programm and abstr. - 2013. - P.205
Материалы конференции
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Popov Z. I., Varnakov S. N., Molokeev M. S., Fedorov A. S., Yakovlev I. A., Fedorov D. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Optical characteristics of an epitaxial Fe3Si/Si(111) iron silicide film
Коллективы : Russian Foundation for Basic Research [13-02-01265, 14-02-31309]; Council of the President of the Russian Federation for Support of Young Scientists and Leading Scientific Schools [NSh-2886.2014.2]; Russian Ministry of Education and Science [02.G25.31.0043]; Presidium of the Russian Academy of Sciences [24.34]
Место публикации : JETP Letters. - 2014. - Vol. 99, Is. 10. - P.565-569. - ISSN 0021-3640, DOI 10.1134/S0021364014100105. - ISSN 1090-6487
Примечания : Cited References: 24. - This work was supported by the Russian Foundation for Basic Research (project nos. 13-02-01265 and 14-02-31309), by the Council of the President of the Russian Federation for Support of Young Scientists and Leading Scientific Schools (project no. NSh-2886.2014.2), by the Russian Ministry of Education and Science (state contract no. 02.G25.31.0043), and by the Presidium of the Russian Academy of Sciences (program no. 24.34).
Предметные рубрики: INITIO MOLECULAR-DYNAMICS
AUGMENTED-WAVE METHOD
N-K PLANE
GROWTH
FE3-XMNXSI
Аннотация: The dispersion of the relative permittivity E of a 27-nm-thick epitaxial Fe3Si iron silicide film has been measured within the E = 1.16-4.96 eV energy range using the spectroscopic ellipsometry technique. The experimental data are compared to the relative permittivity calculated in the framework of the density functional theory using the GGA-PBE approximation. For Fe3Si, the electronic structure and the electronic density of states (DOS) are calculated. The analysis of the frequencies corresponding to the transitions between the DOS peaks demonstrates qualitative agreement with the measured absorption peaks. The analysis of the single wavelength laser ellipsometry data obtained in the course of the film growth demonstrates that a continuous layer of Fe3Si iron silicide film is formed if the film thickness achieves 5 nm.
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Tarasov I. A., Varnakov S. N., Yakovlev I. A., Zharkov S. M., Kosyrev N. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis
Коллективы : Leibniz-Institut für Polymerforschung Dresden e. V., Workshop Ellipsometry (8; 2014 ; March 10-12; Dresden, Germany)
Место публикации : 8th Workshop Ellipsometry: Book of abstracts. - 2014. - P.81
Материалы конференции
Найти похожие

13.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37 рукописный текст
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич
Заглавие : Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : автореф. дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Красноярск, 2014
Колич.характеристики :19 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН, Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.19.37
Смотреть автореферат
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Попов, Захар Иванович, Варнаков, Сергей Николаевич, Молокеев, Максим Сергеевич, Федоров, Александр Семенович, Яковлев, Иван Александрович, Федоров, Дмитрий Александрович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Оптические свойства эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si/Si(111)
Место публикации : Письма в Журн. эксперим. и теор. физ. - 2014. - Т. 99, Вып. 10. - С. 651-655. - DOI 10.7868/S0370274X14100026
Примечания : Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (гранты # 13-02-01265, 14-02-31309), гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-2886.2014.2), Министерства образования и науки Российской Федерации (госконтракт # 02.G25.31.0043) и программы президиума РАН # 24.34
Аннотация: Методом спектральной эллипсометрии измерена дисперсия диэлектрической проницаемости \varepsilon эпитаксиальной пленки силицида железа Fe3Si толщиной 27 нм в области энергий E=(1.16-4.96) эВ. Результаты сравниваются с дисперсией диэлектрической проницаемости, вычисленной в рамках метода функционала плотности с аппроксимацией GGA-PBE. Рассчитаны электронная структура Fe3Si и плотность электронных состояний (DOS). Анализ частот теоретически рассчитанных оптических переходов между пиками DOS дает качественное согласие с экспериментально измеренными пиками поглощения. Анализ данных одноволновой лазерной эллипсометрии, полученных в процессе синтеза пленки, показывает, что формирование сплошного слоя пленки силицида железа Fe3Si происходит при достижении ее толщиной в 5 нм.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Беляев, Борис Афанасьевич, Жарков, Сергей Михайлович, Молокеев, Максим Сергеевич, Тарасов, Иван Анатольевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Исследование структурных и магнитных характеристик эпитаксиальных пленок Fe3Si/Si(111)
Место публикации : Письма в Журн. эксперим. и теор. физ.: Наука, 2014. - Т. 99, Вып. 9-10. - С. 610 – 613. - ISSN 0370-274X, DOI 10.7868/S0370274X14090082
Примечания : Библиогр.: 19. - Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (грант #13-02-01265), гранта поддержки ведущей научной школы (Проект НШ-2886.2014.2) и Министерства образования и науки РФ (гос. контракт #02.G25.31.0043; госзадание СФУ в части проведения НИР на 2014г)
Аннотация: Представлены результаты структурных и магнитных исследований эпитаксиальной структуры, полученной при одновременном напылении из двух источников железа и кремния на атомарно чистую поверхность Si(111)7×7 при температуре подложки 150 °С. Методами рентгеноструктурного анализа, просвечивающей электронной микроскопии и дифракции отраженных быстрых электронов эпитаксиальная структура идентифицирована как монокристаллическая пленка силицида Fe3Si с ориентацией Si[111]Fe3Si[111]. Установлено, что эпитаксиальная пленка Fe3Si при комнатной температуре обладает магнитной одноосной анизотропией (Ha=26 Э) и имеет сравнительно узкую линию однородного ферромагнитного резонанса (Δ H=11.57 Э), измеренную на частоте накачки 2.274 ГГц.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Yakovlev I. A., Varnakov S. N., Belyaev B. A., Zharkov S. M., Molokeev M. S., Tarasov I. A., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Study of the structural and magnetic characteristics of epitaxial Fe3Si/Si(111) films
Коллективы : Russian Foundation for Basic Research [13-02-01265]; Council of the President of the Russian Federation for Support of Young Scientists and Leading Scientific Schools [NSh-2886.2014.2]; Ministry of Education and Science of the Russian Federation [02G25.31.0043]
Место публикации : JETP Letters. - 2014. - Vol. 99, Is. 9. - P.527-530. - ISSN 0021-3640, DOI 10.1134/S0021364014090124. - ISSN 1090-6487
Примечания : Cited References: 19. - This work was supported by the Russian Foundation for Basic Research (project no. 13-02-01265), the Council of the President of the Russian Federation for Support of Young Scientists and Leading Scientific Schools (project no. NSh-2886.2014.2), and the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (state contract no. 02G25.31.0043; state task of the Siberian Federal University for research in 2014).
Предметные рубрики: ULTRAHIGH-VACUUM
SILICON
Аннотация: The results of the structural and magnetic studies of the epitaxial structure prepared during the simultaneous evaporation from two iron and silicon sources on an atomically pure Si(111)7 × 7 surface at a substrate temperature of 150°C have been presented. The epitaxial structure has been identified as a single-crystal Fe3Si silicide film with the orientation Si[111]‖Fe3Si[111] using methods of the X-ray structural analysis, transmission electron microscopy, and reflection high-energy electron diffraction. It has been established that the epitaxial Fe3Si film at room temperature has magnetic uniaxial anisotropy (H a = 26 Oe) and a relatively narrow uniform ferromagnetic resonance line (ΔH = 11.57 Oe) measured at a pump frequency of 2.274 GHz.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : В37/Г 62 рукописный текст
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич
Заглавие : Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : дис. на соиск. уч. степени канд. физ.-мат. наук : 01.04.01
Выходные данные : Красноярск, 2014
Колич.характеристики :137 с
Коллективы : Российская академия наук, Сибирское отделение РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Примечания : Библиогр.
ГРНТИ : 29.31.26
ББК : В374я031
Экземпляры :ДС(1)
Свободны : ДС(1)
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Молокеев, Максим Сергеевич, Александровский, Александр Сергеевич, Крылов, Александр Сергеевич, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Оптические и структурные свойства плёнок β-FeSi2/Si(001), полученных соосаждением в сверхвысоком вакууме при различных соотношениях потоков Fe и Si
Коллективы : "Аморфные и микрокристаллические полупроводники", международная конференция (9; 2014 ; июль; 7-10; Санкт-Петребург)
Место публикации : Сборник трудов IX международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники". - СПб., 2014. - С. 351-352
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Тарасов, Иван Анатольевич, Лященко, Сергей Александрович, Яковлев, Иван Александрович
Заглавие : Гетероструктуры силицидов железа – перспективные материалы спинтроники
Коллективы : "Неорганические соединения и функциональные материалы", школа-конференция молодых ученых
Место публикации : Шк.-конф. молод. учён. "Неорган. соединения и функционал. материалы" (ICFM-2015): программа и сб. тезисов докл. : 5—9 октября 2015 г., Бердск. - Новосибирск: ИНХ СО РАН, 2015. - С. 26. - ISBN 978-5-90168-836-6
Читать в сети ИФ
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Rautskii M. V., Lukyanenko A. V., Tarasov A. S., Yakovlev I. A., Tarasov I. A., Volochaev M. N., Volkov N. V.
Заглавие : Ferromagnetic resonance characterization of the single-crystal epitaxial Fe3Si film on the Si(111) substrate
Коллективы : Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials, Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов
Место публикации : Third Asian school-conf. on physics and technol. of nanostructured mater. (ASCO-NANOMAT 2015): proceedings. - Vladivostok: Dalnauka, 2015. - Ст.III.24.04p. - ISBN 978-5-8044-1556-4
Примечания : Библиогр.: 3. - The work was supported in part by the Grant of the President of the Pussian Federation and the Pussian Foundation for Basic Research, projects nos. 14-02-31156 and 14-02-00234
Материалы конференции
Найти похожие