Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=двухмагнонный процесс релаксации<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Изотов, Андрей Викторович, Беляев, Борис Афанасьевич, Соловьев, Платон Николаевич, Боев, Никита Михайлович
Заглавие : Особенности двухмагнонных процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 12. - С. 153-159. - ISSN 0021-3411
Примечания : Библиогр.: 25. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, задание № 3.1031.2017/ПЧ.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микромагнитное моделирование--нанокристаллиты--случайная магнитная анизотропия--ферромагнитный резонанс--сверхвысокие частоты--двухмагнонный процесс релаксации--micromagnetic modeling--nanocrystallites--random magnetic anisotropy--ferromagnetic resonance--ultrahigh frequencies--two-magnon relaxation process
Аннотация: Численным анализом микромагнитной модели обнаружена «резонансная» особенность процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках. Особенность проявляется в виде резкого уширения линии ферромагнитного резонанса (ФМР) на определенной частоте f 1, зависящей от магнитных характеристик пленки, и она наблюдается только в пленках, толщина которых превышает некоторое пороговое значение d min. Резкое уширение линии ФМР сопровождается значительным смещением резонансного поля, причем величина смещения меняет знак на частоте ~ f 1. Аналитически показано, что природа наблюдаемых эффектов связана с двухмагнонным процессом рассеяния спиновых волн на квазипериодической магнитной микроструктуре - «ряби» намагниченности. Полученные выражения для порогового значения толщины пленки d min и частоты максимального уширения линии ФМР f 1 хорошо согласуются с результатами численного расчета микромагнитной модели.A resonant feature of the relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films is revealed by numerical analysis for a micromagnetic model. This special feature is manifested through sharp broadening of the ferromagnetic resonance (FMR) line at the frequency f 1 depending on the magnetic characteristics of the film and is observed only in the films whose thickness exceeds a certain threshold value d min. The sharp broadening of the FMR lines is accompanied by a considerable displacement of the resonant field, and the displacement changes its sign at the frequency ~ f 1. It is analytically shown that the nature of the observable effects is connected with the two-magnon process of spin wave scattering on a quasi-periodic magnetic microstructure - magnetization ripples. The obtained expressions for the threshold value of the film thickness d min and the frequency f 1 of the maximal FMR line broadening are in good agreement with results of numerical calculation for the micromagnetic model.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие