Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=рентгеноспектральный анализ<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Волочаев, Михаил Николаевич
Заглавие : Применение методов просвечивающей электронной микроскопии в материаловедении
Коллективы : "Решетневские чтения", международная научно-практическая конференция
Место публикации : Решетневские чтения: материалы XIX Междунар. науч. конф. : в 2-х ч. - Красноярск: Сибирский государственный аэрокосмический университет им. акад. М. Ф. Решетнева, 2015. - Ч. 1. - С. 502-504. - ISSN 1990-7702
Примечания : Библиогр.: 2
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): просвечивающая электронная микроскопия--дифракция электронов--рентгеноспектральный анализ--лоренцева микроскопия--transmission electron microscopy--electron diffraction--x-ray spectrum analysis--lorentz electron microscopy
Аннотация: Показаны примеры исследования различных материалов методами просвечивающей электронной микроскопии.The examples of various materials are studied by transmission electron microscopy; they are demonstrated by the research.
Материалы конференции,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие