Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Bias<.>)

Общее количество найденных документов : 47
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-47

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Патрин, Геннадий Семёнович, Кобяков, Александр Васильевич, Юшков, Василий Иванович, Анисимов И. О., Жарков, Сергей Михайлович, Семенов, Сергей Васильевич, Моисеенко, Евгений Тимофеевич
Заглавие : Эффекты обменного смещения и магнитной близости в трехслойных пленках FeNi/V2O3/FeNi
Коллективы : Байкальская международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии", "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция, "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference, Иркутский государственный университет
Место публикации : Магнитные материалы. Новые технологии: тез. докл. IX Байкал. междунар. конф. BICMM-2023/ чл. прогр. ком.: S. S. Aplesnin [et al.] ; чл. орг. ком. R. S. Iskhakov [et al.]. - Иркутск, 2023. - С. 71-72. - ISBN 978-5-962402178-0, DOI 10.26516/978-5-9624-2178-0.2023.1-207
Материалы конференции,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Изотов, Андрей Викторович, Беляев, Борис Афанасьевич, Соловьев, Платон Николаевич, Волошин, Александр Сергеевич
Заглавие : Микромагнитное моделирование и численный анализ процессов перемагничивания двухслойных тонкопленочных структур ферромагнетик/антиферромагнетик
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2013. - Т. 56, № 8/2. - С. 230-232
Примечания : Работа выполнена при финансовой поддержке ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009−2013»
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микромагнитное моделирование--ферромагнетик/антиферромагнетик--петля гистерезиса--обменное смещение--коэрцитивная сила--micromagnetic simulation--coercivity--ferromagnetic/antiferromagnetic--hysteresis loop--exchange bias
Аннотация: На основе численного микромагнитного моделирования проведено исследование процессов перемагничивания двухслойных тонкопленочных структур ферромагнетик/антиферромагнетик. Сделан анализ влияния параметров структуры на величину поля обменного сдвига и коэрцитивной силы. Результаты расчета сравниваются с экспериментальными и теоретическими данными.On the basis of the numerical micromagnetic simulation the study of magnetization reversal processes in thin-film ferromagnetic/antiferromagnetic bilayers was performed. The analysis of influence of parameters of the structure on exchange bias field and coercive force was carried out. Calculation results are compared with experimental and theoretical data.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Kobyakov A. V., Turpanov I. A., Patrin G. S., Yushkov V. I., Yarikov S. A., Volochaev M. N., Zhivaya Ya. A.
Заглавие : The role of the semiconductor layer in the exchange-bias film structure of CoNi / Si / FeNi / Si with a spin spring effect
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"
Место публикации : J. Phys. Conf. Ser. - 2019. - Vol. 1389, Is. 1. - Ст.012028. - ISSN 1742-6588, DOI 10.1088/1742-6596/1389/1/012028. - ISSN 1742-6596 (eISSN)
Примечания : Cited References: 13. - These studies are conducted with financial support from the Russian Foundation for Basic Research (grant No.18-02-00161-a).
Аннотация: CoNi / Si / FeNi / Si structures were synthesized by ion-plasma sputtering. A negative hysteresis loop bias was detected at the thickness of the silicon layer was less than 2 nm and the temperature was less than 100 K. A positive hysteresis loop bias was detected at the thickness of the silicon layer was more than 2 nm and the temperature greater than 100K.
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ,
Scopus,
WOS
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Volkov N. V., Tarasov A. S., Rautskii M. V., Lukyanenko A. V., Baron F. A., Bondarev I. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : The optically induced and bias-voltage-driven magnetoresistive effect in a silicon-based device
Место публикации : J. Surf. Invest.: MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2015. - Vol. 9, Is. 5. - P.984-994. - ISSN 1027-4510, DOI 10.1134/S1027451015050432
Примечания : Cited References: 32. - This work was supported by the Russian Foundation for Basic Research, project nos. 14-02-00234-a and 14-02-31156; the Russian Ministry of Education and Science, state task no. 16.663.2014K; and the Russian Ministry of Education and Science, project no. 02.G25.31.0043.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): magnetoresistance--magnetotransport properties--photoconductivity--bias voltage
Аннотация: The giant change in photoconductivity of a device based on the Fe/SiO2/p-Si structure in magnetic field is reported. As the magnetic field increases to 1 T, the conductivity changes by a factor of more than 25. The optically induced magnetoresistance effect is strongly dependent of the applied magnetic field polarity, as well as of sign and value of a bias voltage across the device. The main mechanism of the magnetic field effect is related to the Lorentz force, which deflects the trajectories of photogenerated carriers, thereby changing their recombination rate. The structural asymmetry of the device leads to the asymmetry of the dependence of recombination on the magnetic field polarity: recombination of carriers deflected in the bulk of semiconductor is relatively slow, while recombination of carriers at the SiO2/p-Si interface is faster. In the latter case, the interface states serve as effective recombination centers. The bias voltage sign specifies the type of carriers, whose trajectories pass near the interface, providing the main contribution to the magnetoresistance effect. The bias voltage controls the electric field accelerating carriers and, thus, affects the hole and electron trajectories. Moreover, when the bias voltage exceeds a certain threshold value, the electron impact ionization regime is implemented. The magnetic field suppresses impact ionization by enhancing recombination, which makes the largest contribution to the magnetoresistance of the device. The investigated device can be used as a prototype of silicon chips controlled simultaneously by optical radiation, magnetic field, and bias voltage. © 2015, Pleiades Publishing, Ltd.
Смотреть статью,
Scopus,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Volkov N. V., Eremin E. V., Shaykhutdinov K. A., Tsikalov V. S., Petrov M. I., Balaev D. A., Semenov S. V.
Заглавие : The magnetic-field-driven effect of microwave detection in a manganite granular system
Место публикации : J. Phys. D. - 2008. - Vol. 41, Is. 1. - Ст.15004. - ISSN 0022-3727, DOI 10.1088/0022-3727/41/1/015004
Примечания : Cited References: 24
Предметные рубрики: IDENTICAL METALS
TUNNEL-JUNCTIONS
MAGNETORESISTANCE
RECTIFICATION
SPINTRONICS
TEMPERATURE
PEROVSKITES
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): bias currents--curie temperature--electric power generation--granular materials--magnetic field effects--microwave irradiation--voltage measurement--direct current voltage--magnetic tunnel junctions--metal insulator metal junctions--nonmagnetic metals--manganites
Аннотация: We demonstrate the microwave detection effect in a granular La0.7Ca0.3MnO3 sample. Dc voltage generated by the sample in response to microwave irradiation below the Curie temperature is found to be dependent on the applied magnetic field. The magnetic field dependence of the dc voltage has a broad peak resembling an absorption line. The detection effect depends substantially on the magnetic history of the sample; however, identical measurement conditions provide reproducibility of the experimental results. The detected dc voltage increases linearly with microwave power and strongly depends on a bias current through the sample. According to the results of systematic measurements, there exist two contributions to a value of the detected output signal. The first is magneto-independent; it can be explained in the framework of a mechanism used traditionally for description of the rectification effect in metal-insulator-metal junctions with nonmagnetic metals. The other is magneto-dependent; it originates from the interplay between the spin-dependent current through magnetic tunnel junctions and spin dynamics of the grains, which form these junctions in the sample.
WOS,
Scopus,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Kim P. D., Patrin G. S., Turpanov I. A., Marushchenko D. A., Lee L. A., Rudenko T. V.
Заглавие : The investigation of long-range exchange interaction in spin valve structures
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism
Место публикации : Solid State Phenom.: Selected, peer reviewed papers/ ed.: S. G. Ovchinnikov, A. Samardak: Trans Tech Publications, 2014. - Vol. 215: Trends in Magnetism: Nanomagnetism (EASTMAG-2013). - P.489-494. - ISSN 978-303835054-5, DOI 10.4028/www.scientific.net/SSP.215.489. - ISSN 16629779
Примечания : Cited References: 17
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): exchange bias--exchange interaction--spin valve--thin films
Аннотация: Magnetic spin valve structures have a great practical interest as sensors of magnetic fields, hard disk read heads and elements of magnetic random access memories (MRAM). Despite the large number of experimental and theoretical work on spin valve structures, the effects of interlayer interactions occurring in these structures, at present time are not fully understood. © (2014) Trans Tech Publications, Switzerland.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Smolyakov D. A., Tarasov A. S., Gustaitsev A. O., Volkov N. V.
Заглавие : The bias-controlled magnetoimpedance effect in a MIS structure
Коллективы : Moscow International Symposium on Magnetism
Место публикации : Solid State Phenom.: Selected, peer reviewed papers/ ed.: N. Perov, A. Semisalova: Trans Tech Publications Ltd, 2015. - Vol. 233-234: Achievements in Magnetism. - P.451-455. - ISSN 1662-9779, DOI 10.4028/www.scientific.net/SSP.233-234.451. - ISSN 978-3-03835-482-6
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): bias--magnetoimpedance--mis-structure--magnetic fields--schottky barrier diodes--temperature distribution--applied magnetic fields--bias--giant magneto impedance effect--lower temperatures--magneto-impedance--magneto-impedance effects--mis structure--temperature dependence--magnetism
Аннотация: We report the giant magnetoimpedance effect in a ferromagnetic metal/insulator/semiconductor (MIS) diode with the Schottky barrier based on the Fe/SiO2/n-Si structure. It was established that the applied magnetic field strongly influences the impedance of the structure in the temperature range 10—30 K. In this range, there is the pronounced peak in the temperature dependence of the real part of the impedance at frequencies from 10 Hz to 1 MHz. The effect of the magnetic field manifests itself as a shift of the peak of the real part of the impedance. Under the action of a bias voltage of 5 V, the peak of the real part of the impedance similarly shifts toward lower temperatures with and without applied magnetic field. © (2015) Trans Tech Publications, Switzerland.
Scopus,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Volkov N. V., Tarasov A. S., Smolyakov D. A., Gustaitsev A. O., Balashov V. V., Korobtsov V .V.
Заглавие : The bias-controlled giant magnetoimpedance effect caused by the interface states in a metal-insulator-semiconductor structure with the Schottky barrier
Коллективы : Russian Foundation for Basic Research [14-02-00234-a, 14-02-31156]; Presidium of the Russian Academy of Sciences [20.8]; Russian Ministry of Education and Science [02.G25.31.0043.]
Место публикации : Appl. Phys. Lett.: American Institute of Physics, 2014. - Vol. 104, Is. 22. - Ст.222406. - ISSN 0003-6951, DOI 10.1063/1.4881715. - ISSN 1077-3118
Примечания : Cited References: 20. - This study was supported by the Russian Foundation for Basic Research, Project Nos. 14-02-00234-a and 14-02-31156; the Presidium of the Russian Academy of Sciences, program Quantum Mesoscopic and Disordered Structures, Project No. 20.8; and the Russian Ministry of Education and Science, Project No. 02.G25.31.0043.
Предметные рубрики: MAGNETO-IMPEDANCE
FILMS
Аннотация: We demonstrate that ferromagnetic metal/insulator/semiconductor hybrid structures represent a class of materials with the giant magnetoimpedance effect. In a metal-insulator-semiconductor diode with the Schottky barrier fabricated on the basis of the Fe/SiO2/n-Si structure, a drastic change in the impedance in an applied magnetic field was found. The maximum value of this effect was observed at temperatures of 10–30 K in the frequency range of 10 Hz–1 MHz where the ac magnetoresistance and magnetoreactance ratios exceeded 300% and 600%, respectively. In the low-frequency region (<1 kHz), these ratios could be controlled in wide range by applying bias to the device. The main contribution to the impedance when measured at temperatures corresponding to the strongest magnetic-field sensitivity comes from the interface states localized near the SiO2/n-Si interface and the processes of their recharging in an applied ac voltage. The applied magnetic field changes the energy structure of the interface states, thus affecting the processes of the charging dynamics.
Смотреть статью,
Scopus,
WoS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Gustaitsev A. O., Smolyakov D. A., Tarasov A. S., Varnakov S. N., Volkov N. V.
Заглавие : The Bias-Controlled Frequency-Dependent ac Transport Properties of the FeNi/SiO2/p-Si Schottky Diode
Коллективы : "Spin physics, spin chemistry, and spin technology", Internnational conference, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Казанский физико-технический институт им. Е. К. Завойского Казанского научного центра РАН, "Инно-мир", центр межрегионального инновационного развития
Место публикации : Int. conf. "Spin physics, spin chem., and spin technol.". - 2015. - P.84
Материалы конференции
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Gustaitsev A. O., Smolyakov D. A., Tarasov A. S., Varnakov S. N., Volkov N. V.
Заглавие : The bias-controlled frequency-dependent ac transport properties of the FeNi/SiO2/p-Si Schottky diode
Коллективы : "Spin physics, spin chemistry, and spin technology", Internnational conference, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Казанский физико-технический институт им. Е. К. Завойского Казанского научного центра РАН, "Инно-мир", центр межрегионального инновационного развития
Место публикации : Int. conf. "Spin physics, spin chem., and spin technol.". - 2015. - P.111
Примечания : This study was supported by the Russian Foundation for Basic Research, projects nos. 14-02-31156 and 14-02-00234, and the Russian Ministry of Education and Science, project no. 02.G25.31.0043
Материалы конференции
Найти похожие