Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=ellipsometry<.>)

Общее количество найденных документов : 57
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-57

Determination of structural parameters of the Fe-Si-system by spectral ellipsometry method / S. A. Lyashchenko [et al.] // Physics Procedia. - 2012. - Vol. 23. - P. 49-52, DOI 10.1016/j-phpro.2011.01.013 . - ISSN 1875-3884
Кл.слова (ненормированные):
spectral ellipsometry -- silicides -- atomic force microscopic
Аннотация: Limitation of the thin homogeneous layers with sharp interfaces model for the structure Si(100)/FeSi2(grain) in solution the inverse problem of ellipsometry in the visible spectral range is shown. A new model of random distribution of thin disks for describing the real structure of the sample is designed. The results of the model optimization are confirmed by AFM.

Материалы конференции,
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Berezitskaya, E. P.; Alexandrova, G. A.; Vaituzin, O. P.; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(2011 ; Aug. ; 21-28 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(1 ; 2011 ; авг. ; 21-28 ; Владивосток)
}
Найти похожие

Characterization of manganese and iron silicides by in situ spectral generalized magneto-optical ellipsometry / N. N. Kosyrev [et al.] // 7th Workshop on Ellipsometry : abstract book. - 2012. - P. . - 82
Аннотация: Dilute magnetic semiconductors (DMS) combine the electronic transport properties of semiconductors and memory characteristics of magnetic materials. The complementary properties of semiconductor and ferromagnetic material can manipulate both degrees of freedoms of electrons0 spins and charges for spintronic devices. In recent years, group IV(Ge,Si)-based DMSs attract considerable experimental effort due to the compatibility with mainstream silicon technology. In ourworkwe present the investigation of structural,magnetic and optical properties ofmanganese and iron silicides thin films on Si (100) substrate by in situ spectral generalizedmagneto-optical ellipsometry. Themeasurementswere performed by spectral and laser ellipsometers (“Spectroscan“ and “LEF-71“ respectively by Institute Semiconductors Physics SB RAS), optimized tomeasure not only traditional ellipsometric parameters, but also magneto-optical response of the sample. The magnetoellipsometers were integrated into the ultrahigh vacuum chambers of molecular beam epitaxy setup, which allowed to control the optical and magnetic properties of thin films directly in the growth process. As a result of the magneto-optical response analysis, it was found that iron and manganese silicides in magnetic phase were formed on the Si surface and by analysis of the ellipsometric parameters dependence on evaporation time the silicide nanoclusters were identified and their structural properties were found. The work was supported by project 4.1 of the OFN RAS, project 27.10 of the Presidium RAS, integration project22 of SB RAS and FEB RAS, and also the FCP NK-744P/6 .

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashenko, S. A.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Workshop Ellipsometry (7 ; 2012 ; март ; 5-7 ; Leipzig, Germany)
}
Найти похожие

Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry / N. N. Kosyrev [et al.] // 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013) : Conf. programm and abstr. - 2013. - P. 205

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhkitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6 ; 2013 ; May ; 26-31 ; Kyoto, Japan)
}
Найти похожие

The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films [Текст] / S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism : abstracts. - Vladivostok : FEFU, 2013. - С. 105 . - ISBN 978-5-7444-3124-2

Доп.точки доступа:
Lvaschenko, S. A.; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Rykhkitskii, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Latyshev, A. V.; Латышев А.В.; Saranin, A. A.; Саранин А.А.; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism(5 ; 2013 ; Sept. ; 15-21 ; Vladivostok)
}
Найти похожие

Features of the ellipsometric investigation of magnetic nanostructures / O. A. Maksimova [et al.] // J. Struct. Chem. - 2014. - Vol. 55, Is. 6. - P. 1134-1141, DOI 10.1134/S0022476614060225. - Cited References:8. - The work was supported by the Program of the President of the RussianFederation for the support of leading scientific schools (ScientificSchool 2886.2014.2), RFBR (grant No. 13-02-01265, No. 14-02-01211), theMinistry of Education and Science of the Russian Federation (Agreement14.604.21.0002 State contract No. 02.G25.31.0043), and the Foundationfor Assistance to Small Innovative Enterprises in Science and Technology(program "A Member of the Youth Research and Innovation Competition",contract number 0003831). . - ISSN 0022. - ISSN 1573-8779. -

РУБ Chemistry, Inorganic & Nuclear + Chemistry, Physical
Рубрики:
PARAMETERS
Кл.слова (ненормированные):
magneto-ellipsometry -- ellipsometric measurements -- magneto-optical Kerr -- effect -- thin films -- semi-infinite medium model -- refraction coefficient
Аннотация: The technique for interpreting magneto-ellipsometric measurements is proposed. The model of a homogeneous semi-infinite medium for reflecting layered magnetic structures in the presence of the magnetic field in the configuration of the magneto-optical equatorial Kerr effect is considered. Based on the analysis of the Fresnel coefficients with regard to the magneto-optical parameter Q appearing in the off-diagonal elements of the permittivity tensor, the expressions are obtained using which the refraction (n) and absorption (k) coefficients, the real (Q (1)) and imaginary (Q (2)) parts of the magneto-optical parameter can be found from the ellipsometric (psi(0) and Delta(0)) and magneto-ellipsometric (psi(0) + delta psi and Delta(0) + delta I") measurements. The results will allow to measure and analyze the magnetic characteristics such as hysteresis loops and the coercitive force of layered nanostructures using the conventional ellipsometric equipment.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Особенности анализа эллипсометрических данных для магнитных наноструктур [Текст] / О. А. Максимова [и др.] // Журн. структ. химии. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2014. - Т. 55 № 6. - С. 1190-1197

Держатели документа:
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk, Russia
Russian Acad Sci, LV Kirensky Phys Inst, Siberian Branch, Krasnoyarsk, Russia
Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk, Russia

Доп.точки доступа:
Maksimova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Federation [2886.2014.2]; RFBR [13-02-01265, 14-02-01211]; Ministry of Education and Science of the Russian Federation[14.604.21.0002, 02.G25.31.0043]; Foundation for Assistance to SmallInnovative Enterprises in Science and Technology [0003831]
}
Найти похожие

Time-resolved ellipsometric characterization of (Fe/Si)n multilayer film synthesis / I. A. Tarasov [et al.] // 8th Workshop Ellipsometry : Book of abstracts. - 2014. - P. 81

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Leibniz-Institut für Polymerforschung Dresden e. V.; Workshop Ellipsometry (8 ; 2014 ; March 10-12 ; Dresden, Germany)
}
Найти похожие

    Maksimova, O. A.
    Spectroscopic magneto-ellipsometry for studying magneto-optical properties of single-layer ferromagnetic nanostructures [Электронный ресурс] / O. A. Maksimova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov. - В электронном диске.: Проспект Свободный : материалы научной конференции, посвященной 70-летию Великой Победы / отв. ред. Е. И. Костоглодова. - 2015
   Перевод заглавия: Спектральная эллипсометрия для изучения магнитооптических свойств однослойных ферромагнитных наноструктур

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Сибирский федеральный университет; "Проспект Свободный", международная конференция студентов, аспирантов и молодых ученых(2015 ; апр. ; 15-25 ; Красноярск)
}
Найти похожие

    Maximova, O. A.
    Development of spectroscopic magneto-ellipsometry for studying of magneto-optical properties of ferromagnetic nanostructures / O. A. Maximova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov // Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015) : proceedings. - 2015. - Ст. VI.21.07p . - ISBN 978-5-8044-1556-4
   Перевод заглавия: Развитие метода спектральной магнитоэллипсометрии для изучения магнитооптических свойств ферромагнитных наноструктур
Аннотация: The elements of the dielectric tensor ε are the subject of interest. In this paper a new method for obtaining diagonal and off-diagonal elements of this tensor is presented. In situ spectroscopic ellipsometry and magneto-ellipsometry measurements data from the in situ molecular beam epitaxy setup with an integrated magneto-ellipsometric real time control are used. The formulae and the algorithm for data analysis are obtained. The method is approved on the ferromagnetic nanostructures Fe/SiO2/Si.

Материалыконференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Максимова, Ольга Александровна; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(3 ; 2015 ; aug. ; 19-26 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(3 ; 2015 ; авг. ; 19-26 ; Владивосток)
}
Найти похожие

    Kosyrev, N. N.
    In situ Mueller-matrix magneto-ellipsometry / N. N. Kosyrev, V. N. Zabluda, S. G. Ovchinnikov // Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015) : proceedings. - Vladivostok : Dalnauka, 2015. - Ст. VII.25.01o . - ISBN 978-5-8044-1556-4
   Перевод заглавия: In situ Мюллер-магнитоэллипсометрия

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Косырев, Николай Николаевич; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(3 ; 2015 ; Aug. ; 19-26 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(3 ; 2015 ; авг. ; 19-26 ; Владивосток)
}
Найти похожие

10.

Analysis of optical and magnetooptical spectra of Fe5Si3 and Fe3Si magnetic silicides using spectral magnetoellipsometry / S. A. Lyashchenko [et al.] // J. Exp. Theor. Phys. - 2015. - Vol. 120, Is. 5. - P. 886-893, DOI 10.1134/S1063776115050155. - Cited References:31. - This study was financially supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation (state assignment no. 16.663.2014K, agreement no. 14.604.21.0002 (RFMEFI60414X0002), and contract no. 02.G25.31.0043), the Program is Support of Leading Scientific Schools (project no. NSh-2886.2014.2), and the Russian Foundation for Basic Research (project nos. 13-02-01265 and 14-02-31309). . - ISSN 1063. - ISSN 1090-6509. -

РУБ Physics, Multidisciplinary
Рубрики:
INITIO MOLECULAR-DYNAMICS
   AUGMENTED-WAVE METHOD
   FILMS
   ELLIPSOMETRY
Аннотация: The optical, magnetooptical, and magnetic properties of polycrystalline (Fe5Si3/SiO2/Si(100)) and epitaxial Fe3Si/Si(111) films are investigated by spectral magnetoellipsometry. The dispersion of the complex refractive index of Fe5Si3 is measured using multiangle spectral ellipsometry in the range of 250–1000 nm. The dispersion of complex Voigt magnetooptical parameters Q is determined for Fe5Si3 and Fe3Si in the range of 1.6–4.9 eV. The spectral dependence of magnetic circular dichroism for both silicides has revealed a series of resonance peaks. The energies of the detected peaks correspond to interband electron transitions for spin-polarized densities of electron states (DOS) calculated from first principles for bulk Fe5Si3 and Fe3Si crystals.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Исследование оптических и магнитооптических спектров магнитных силицидов Fe5Si3 и Fe3Si методом спектральной магнитоэллипсометрии [Текст] / С. А. Лященко [и др.] // Журн. эксперим. и теор. физ. : Наука, 2015. - Т. 147 Вып. 5. - С. 1023–1031

Держатели документа:
Reshetnikov Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia.
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk 660041, Russia.
Russian Acad Sci, Rzhanov Inst Semicond Phys, Siberian Branch, Novosibirsk 630090, Russia.
Russian Acad Sci, Inst Automat & Control Proc, Far East Branch, Vladivostok 690041, Russia.
Far Eastern State Transport Univ, Khabarovsk 680021, Russia.

Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Popov, Z. I.; Попов, Захар Иванович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Popov, E. A.; Molokeev, M. S.; Молокеев, Максим Сергеевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Kuzubov, A. A.; Кузубов, Александр Александрович; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Shamirzaev, T. S.; Latyshev, A. V.; Saranin, A. A.; Ministry of Education and Science of the Russian Federation [16.663.2014K, 14.604.21.0002 (RFMEFI60414X0002), 02.G25.31.0043]; Russian Foundation for Basic Research [13-02-01265, 14-02-31309]
}
Найти похожие