Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>S=SUSCEPTIBILITIES<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Zaitsev A. I., Aleksandrovsky A. S., Kozhukhov A. S., Pokrovsky L. D., Atuchin V. V.
Заглавие : Growth, optical and microstructural properties of PbB4O7 plate crystals
Коллективы : SB RAS [28.14, 43.14]; President of the Russian Federation for the support of leading scientific schools [SS-4828.2012.2]; PSB RAS [2.5.2]; Ministry of Education and Science of the Russian Federation
Место публикации : Opt. Mater.: Elsevier Science, 2014. - Vol. 37. - P.298–301. - ISSN 0925-3467, DOI 10.1016/j.optmat.2014.06.012. - ISSN 1873-1252
Примечания : Cited References: 42. - This study is supported by SB RAS via Projects 28.14 and 43.14, and the Grant of the President of the Russian Federation for the support of leading scientific schools SS-4828.2012.2 and by PSB RAS, Grant 2.5.2. V.V.A. gratefully acknowledge the Ministry of Education and Science of the Russian Federation for financial support
Предметные рубрики: LEAD TETRABORATE
SINGLE-CRYSTAL
SUSCEPTIBILITIES
ANISOTROPY
STRONTIUM
SURFACES
RAMAN
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): pbb4o7--czochralski growth--facet--rheed--afm
Аннотация: Centimeter-sized optical quality plate-like PbB4O7 crystals have been grown by Czochralski method. The fundamental absorption edge has been found at 237 nm (corresponding bandgap 5.75 eV) with the distinct sideband protruding up to 300 nm. The crystals are well faceted with the (100), (010) and (101) planes, (100) surfaces being mostly developed. The etching in diluted nitric acid (5 wt.%) at the temperature of 90 °C have been used to reveal the defect structure and remove melt residuals. The (100) surface shows the presence of etching pits and twin boundaries. The Kikuchi line pattern and developed microrelief with the roughness of ~8 nm have been observed by RHEED and AFM, respectively.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)