Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=лоренцева микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Волочаев, Михаил Николаевич.
    Применение методов просвечивающей электронной микроскопии в материаловедении / М. Н. Волочаев // Решетневские чтения : материалы XIX Междунар. науч. конф. : в 2-х ч. - 2015. - Ч. 1. - С. 502-504. - Библиогр.: 2 . - ISSN 1990-7702
   Перевод заглавия: Applying transmission electron microscopy methods in material science
Кл.слова (ненормированные):
просвечивающая электронная микроскопия -- дифракция электронов -- рентгеноспектральный анализ -- лоренцева микроскопия -- transmission electron microscopy -- electron diffraction -- X-ray spectrum analysis -- Lorentz electron microscopy
Аннотация: Показаны примеры исследования различных материалов методами просвечивающей электронной микроскопии.
The examples of various materials are studied by transmission electron microscopy; they are demonstrated by the research.

Материалы конференции,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Volochaev, M. N.; "Решетневские чтения", международная научно-практическая конференция(19 ; 2015 ; нояб. ; 10-14 ; Красноярск)
}
Найти похожие
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)