Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=нанокристаллиты<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

    Изотов, Андрей Викторович.
    Численное моделирование магнитной микроструктуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей / А. В. Изотов, Б. А. Беляев, Н. М. Боев // Изв. вузов. Физика. - 2013. - Т. 56, № 8/2. - С. 213-216. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ, Госконтракт № 14.513.11.0010, и ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009−2013 гг.»
   Перевод заглавия: Numerical modeling of the magnetic microstructure of thin nanocrystalline films with a random distribution of the easy magnetization axis in crystallites
Кл.слова (ненормированные):
микромагнитное моделирование -- «рябь» намагниченности -- магнитная микроструктура -- хаотическая анизотропия -- нанокристаллиты -- micromagnetic simulation -- magnetization ripple -- magnetic microstructure -- random anisotropy -- nanocrystallites
Аннотация: На основе численного анализа микромагнитной модели нанокристаллической пленки со случайным распределением направлений одноосной магнитной анизотропии в кристаллитах исследована тонкая магнитная микроструктура типа «ряби» намагниченности. Приводится сравнение полученных результатов с результатами теоретических исследований.
The fine magnetic microstructure of the magnetization "ripple" was studied by a numerical analysis of micromagnetic model of nanocrystalline films with a random distribution of directions of the uniaxial magnetic anisotropy in crystallites. Obtained results were compared with the results of theoretical studies.

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Н. М.; Izotov A.V.
}
Найти похожие

    Belyaev, B. A.
    Numerical simulation of magnetic microstructure in nanocrystalline thin films with the random anisotropy / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 1. - P. 132-135 ; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика", DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-1-132-135. - Cited References: 10. - This work was supported by Russian Science Foundation (project no. 16-12-10140). . - ISSN 1997-1397
   Перевод заглавия: Численное моделирование магнитной микроструктуры нанокристаллических тонких пленок со случайной анизотропией
Кл.слова (ненормированные):
Micromagnetic simulation -- Nanocrystallites -- Random anisotropy model -- Thin magnetic film -- микромагнитное моделирование -- тонкая магнитная пленка -- нанокристаллиты -- модель случайной анизотропии
Аннотация: The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the films. © Siberian Federal University. All rights reserved.
Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6 1000 нм исследованы зависимости параметров корреляционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиусов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры "ряби намагниченности".

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics SB RAS, Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, Russian Federation
Institute of Engineering Physics and Radio Electronics, Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Беляев, Борис Афанасьевич

}
Найти похожие

Исследование особенностей спектра СВЧ-поглощения нанокристаллических тонких магнитных пленок / Б. А. Беляев [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 10. - С. 50-56. - Библиогр.: 22. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, проект № RFMEFI60417X0179. . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
микромагнитное моделирование -- нанокристаллиты -- случайная магнитная анизотропия -- ферромагнитный резонанс -- сверхвысокие частоты
Аннотация: На основе микромагнитной модели, учитывающей случайное распределение направлений одноосной магнитной анизотропии в кристаллитах нанокристаллической пленки, реализован эффективный метод расчета динамики намагниченности в СВЧ-полях. В определенной области размеров кристаллитов, когда энергия случайной магнитной анизотропии сравнима с обменной энергией, обнаружено значительное изменение поля ферромагнитного резонанса, уширение резонансной линии и возникновение асимметрии формы резонансной кривой. Резонансное поле с увеличением размеров кристаллитов сначала растет, затем быстро уменьшается до своего минимума, затем снова растет с выходом на насыщение. При этом крутизна левого склона расширяющейся резонансной кривой сначала уменьшается быстрее правого, нарушая симметрию ее формы, затем кривая вновь становится симметричной, а затем крутизна левого склона становится больше крутизны правого.

РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Study of Peculiarities of the Microwave Absorption Spectrum of Nanocrystalline Thin Magnetic Films [Текст] / B. A. Belyaev [et al.] // Russ. Phys. J. - 2019. - Vol. 61 Is. 10.- P.1798-1805

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.
}
Найти похожие

    Особенности двухмагнонных процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках / А. В. Изотов [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 12. - С. 153-159. - Библиогр.: 25. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, задание № 3.1031.2017/ПЧ. . - ISSN 0021-3411
   Перевод заглавия: Special features of two-magnon relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films
Кл.слова (ненормированные):
микромагнитное моделирование -- нанокристаллиты -- случайная магнитная анизотропия -- ферромагнитный резонанс -- сверхвысокие частоты -- двухмагнонный процесс релаксации -- Micromagnetic modeling -- Nanocrystallites -- Random magnetic anisotropy -- ferromagnetic resonance -- ultrahigh frequencies -- two-magnon relaxation process
Аннотация: Численным анализом микромагнитной модели обнаружена «резонансная» особенность процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках. Особенность проявляется в виде резкого уширения линии ферромагнитного резонанса (ФМР) на определенной частоте f 1, зависящей от магнитных характеристик пленки, и она наблюдается только в пленках, толщина которых превышает некоторое пороговое значение d min. Резкое уширение линии ФМР сопровождается значительным смещением резонансного поля, причем величина смещения меняет знак на частоте ~ f 1. Аналитически показано, что природа наблюдаемых эффектов связана с двухмагнонным процессом рассеяния спиновых волн на квазипериодической магнитной микроструктуре - «ряби» намагниченности. Полученные выражения для порогового значения толщины пленки d min и частоты максимального уширения линии ФМР f 1 хорошо согласуются с результатами численного расчета микромагнитной модели.
A resonant feature of the relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films is revealed by numerical analysis for a micromagnetic model. This special feature is manifested through sharp broadening of the ferromagnetic resonance (FMR) line at the frequency f 1 depending on the magnetic characteristics of the film and is observed only in the films whose thickness exceeds a certain threshold value d min. The sharp broadening of the FMR lines is accompanied by a considerable displacement of the resonant field, and the displacement changes its sign at the frequency ~ f 1. It is analytically shown that the nature of the observable effects is connected with the two-magnon process of spin wave scattering on a quasi-periodic magnetic microstructure - magnetization ripples. The obtained expressions for the threshold value of the film thickness d min and the frequency f 1 of the maximal FMR line broadening are in good agreement with results of numerical calculation for the micromagnetic model.

РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Two-Magnon Relaxation Processes in Nanocrystalline Thin Magnetic Films [Текст] / A. V. Izotov [et al.] // Russ. Phys. J. - 2019. - Vol. 61 Is. 12.- P.2313-2320

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН
Сибирский федеральный университет

Доп.точки доступа:
Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.
}
Найти похожие

Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса / Б. А. Беляев, Н. М. Боев, A. A. Горчаковский [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 1. - С. 3-9, DOI 10.17223/00213411/64/1/3. - Библиогр.: 28. - Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ, Правительства Красноярского края, Краевого фонда науки и АО «НПП «Радиосвязь» в рамках научного проекта № 20-42-242901 . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
нанокристаллиты -- тонкая магнитная пленка -- случайная магнитная анизотропия -- "рябь" намагниченности -- структурная константа -- ферромагнитный резонанс -- сверхвысокие частоты
Аннотация: Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм2 на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Structure constant and grain size determination by ferromagnetic resonance in thin magnetic films [Текст] / B. A. Belyaev, N. M. Boev, A. A. Gorchakovskii [et al.] // Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64 Is. 1.- P.1-8

Держатели документа:
Сибирский федеральный университет, г. Красноярск, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, г. Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Горчаковский, Александр Антонович; Gorchakovskii A. A.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.
}
Найти похожие