1. 
|
Особенности двухмагнонных процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках / А. В. Изотов [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 12. - С. 153-159. - Библиогр.: 25. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, задание № 3.1031.2017/ПЧ.
. - ISSN 0021-3411
Перевод заглавия: Special features of two-magnon relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films
Кл.слова (ненормированные):
микромагнитное моделирование -- нанокристаллиты -- случайная магнитная анизотропия -- ферромагнитный резонанс -- сверхвысокие частоты -- двухмагнонный процесс релаксации -- Micromagnetic modeling -- Nanocrystallites -- Random magnetic anisotropy -- ferromagnetic resonance -- ultrahigh frequencies -- two-magnon relaxation process
Аннотация: Численным анализом микромагнитной модели обнаружена «резонансная» особенность процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках. Особенность проявляется в виде резкого уширения линии ферромагнитного резонанса (ФМР) на определенной частоте f 1, зависящей от магнитных характеристик пленки, и она наблюдается только в пленках, толщина которых превышает некоторое пороговое значение d min. Резкое уширение линии ФМР сопровождается значительным смещением резонансного поля, причем величина смещения меняет знак на частоте ~ f 1. Аналитически показано, что природа наблюдаемых эффектов связана с двухмагнонным процессом рассеяния спиновых волн на квазипериодической магнитной микроструктуре - «ряби» намагниченности. Полученные выражения для порогового значения толщины пленки d min и частоты максимального уширения линии ФМР f 1 хорошо согласуются с результатами численного расчета микромагнитной модели.
A resonant feature of the relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films is revealed by numerical analysis for a micromagnetic model. This special feature is manifested through sharp broadening of the ferromagnetic resonance (FMR) line at the frequency f 1 depending on the magnetic characteristics of the film and is observed only in the films whose thickness exceeds a certain threshold value d min. The sharp broadening of the FMR lines is accompanied by a considerable displacement of the resonant field, and the displacement changes its sign at the frequency ~ f 1. It is analytically shown that the nature of the observable effects is connected with the two-magnon process of spin wave scattering on a quasi-periodic magnetic microstructure - magnetization ripples. The obtained expressions for the threshold value of the film thickness d min and the frequency f 1 of the maximal FMR line broadening are in good agreement with results of numerical calculation for the micromagnetic model.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Переводная версия Two-Magnon Relaxation Processes in Nanocrystalline Thin Magnetic Films [Текст] / A. V. Izotov [et al.] // Russ. Phys. J. - 2019. - Vol. 61 Is. 12.- P.2313-2320
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН
Сибирский федеральный университет
Доп.точки доступа:
Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.
}
Найти похожие
|
Главная
Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН