Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Соловьев, Платон Николаевич$<.>)
Общее количество найденных документов : 71
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.


    Belyaev, B. A.
    Growth simulation and structure analysis of obliquely deposited thin films / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // Russ. Phys. J. - 2016. - Vol. 59, Is. 2. - P. 301-307, DOI 10.1007/s11182-016-0771-2. - Cited References:27. - This work was supported in part by State Assignment for R&D A3.528.2014K of Ministry of Education and Science of the Russian Federation to Siberian Federal University in 2014. . - ISSN 1064-8887. - ISSN 1573-9228
РУБ Physics, Multidisciplinary
Рубрики:
GLANCING ANGLE DEPOSITION
   EVAPORATION

   ANISOTROPY

Кл.слова (ненормированные):
oblique angle deposition -- simulation of film growth -- Monte Carlo method
Аннотация: Based on the Monte Carlo method, a model of growth of thin films prepared by oblique angle deposition of particles is constructed. The morphology of structures synthesized by simulation is analyzed. To study the character of distribution of microstructural elements (columns) in the film plane, the autocorrelation function of the microstructure and the fast Fourier transform are used. It is shown that with increasing angle of particle incidence, the film density monotonically decreases; in this case, anisotropy arises and monotonically increases in the cross sections of columns, and the anisotropy of distribution of columns in the substrate plane also increases.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Беляев, Борис Афанасьевич. Исследование процесса роста и анализ структуры тонких, наклонно осаждаемых пленок [Текст] / Б. А. Беляев, А. В. Изотов, П. Н. Соловьев // Изв. вузов. Физика : Томский государственный университет, 2016. - Т. 59 № 2. - С. 120-125

Держатели документа:
Russian Acad Sci, LV Kirensky Inst Phys, Siberian Branch, Krasnoyarsk, Russia.
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk, Russia.
Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk, Russia.

Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Беляев, Борис Афанасьевич; Ministry of Education and Science of the Russian Federation [A3.528.2014K]
}
Найти похожие
2.


    Belyaev, B. A.
    Influence the technological conditions of vacuum deposition of thin magnetic films on produced samples properties [Текст] / B. A. Belyaev, A. V. Izotov // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism : abstracts. - Vladivostok : FEFU, 2013. - P. 184 . - ISBN 978-5-7444-3124-2


Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Беляев, Борис Афанасьевич; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism(5 ; 2013 ; Sept. ; 15-21 ; Vladivostok)
}
Найти похожие
3.


    Belyaev, B. A.
    Influence the technological conditions of vacuum deposition of thin magnetic films on produced samples properties [Текст] / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism : abstracts. - Vladivostok : FEFU, 2013. - P. 229 . - ISBN 978-5-7444-3124-2


Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Беляев, Борис Афанасьевич; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism(5 ; 2013 ; Sept. ; 15-21 ; Vladivostok)
}
Найти похожие
4.


    Belyaev, B. A.
    Numerical simulation of magnetic microstructure in nanocrystalline thin films with the random anisotropy / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 1. - P. 132-135 ; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика", DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-1-132-135. - Cited References: 10. - This work was supported by Russian Science Foundation (project no. 16-12-10140). . - ISSN 1997-1397
   Перевод заглавия: Численное моделирование магнитной микроструктуры нанокристаллических тонких пленок со случайной анизотропией
Кл.слова (ненормированные):
Micromagnetic simulation -- Nanocrystallites -- Random anisotropy model -- Thin magnetic film -- микромагнитное моделирование -- тонкая магнитная пленка -- нанокристаллиты -- модель случайной анизотропии
Аннотация: The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the films. © Siberian Federal University. All rights reserved.
Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6 1000 нм исследованы зависимости параметров корреляционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиусов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры "ряби намагниченности".

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics SB RAS, Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, Russian Federation
Institute of Engineering Physics and Radio Electronics, Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Беляев, Борис Афанасьевич

}
Найти похожие
5.


    Belyaev, B. A.
    Numerical simulation of magnetic microstructure in nanocrystalline thin films with the random anisotropy / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016) : abstracts / ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk : KIP RAS SB, 2016. - Ст. P10.24. - P. 492. - References: 2 . - ISBN 978-5-904603-06-9
Кл.слова (ненормированные):
micromagnetic simulation -- nanocrystallites -- random anisotropy model


Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Беляев, Борис Афанасьевич; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН

Нет сведений об экземплярах }
Найти похожие
6.


    Belyaev, B. A.
    The effect of substrate artificial texture on high frequency properties of thin magnetic films / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // International symposium «Magnetics and optics research» MORIS-2013 : Technical digest. - 2013. - P. 54-55

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Беляев, Борис Афанасьевич; Magnetics and Optics Research International Symposium(2013 ; Dec. 2-5 ; Omiya Sonic City, Saitama, Japan)
}
Найти похожие
7.


   
    Determination of magnetic anisotropies and miscut angles in epitaxial thin films on vicinal (111) substrate by the ferromagnetic resonance / B. A. Belyaev [et al.] // J. Magn. Magn. Mater. - 2017. - Vol. 440: EURO-Asian Symposium on Trends in Magnetism (EASTMAG) (AUG 15-19, 2016, Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk, RUSSIA). - P. 181-184, DOI 10.1016/j.jmmm.2016.12.081. - Cited References:16. - This work was supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation, Task no. 3.528.2014K. . - ISSN 0304-8853. - ISSN 1873-4766
РУБ Materials Science, Multidisciplinary + Physics, Condensed Matter
Рубрики:
SURFACE
   SPECTROMETER

   SPINTRONICS

Кл.слова (ненормированные):
Thin film -- Ferromagnetic resonance -- Magnetic anisotropy -- Vicinal (111) -- surface -- Iron silicide
Аннотация: A method for determining magnetic anisotropy parameters of a thin single-crystal film on vicinal (111) substrate as well as substrate miscut angles from angular dependence of ferromagnetic resonance field has been proposed. The method is based on the following: (i) a new approach for the solution of the system of nonlinear equations for equilibrium and resonance conditions; (ii) a new expression of the objective function for the fitting problem. The study of the iron silicide films grown on vicinal Si(111) substrates with different miscut angles confirmed the efficiency of the method. The proposed method can be easily generalized to determine parameters of single-crystal films grown on substrates with an arbitrary cut.

Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Yakovlev, I. A.; Ministry of Education and Science of the Russian Federation [3.528.2014K]; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
}
Найти похожие
8.


   
    Domain structure and magnetization reversal in multilayer structures consisting of thin permalloy films separated with nonmagnetic interlayers / B. A. Belyaev, N. M. Boev, A. V. Izotov, P. N. Solovev // Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64, Is. 6. - P. 1160-1167, DOI 10.1007/s11182-021-02436-w. - Cited References: 30. - This work was financially supported by the Ministry of Science and Higher Education under agreement No. 075-11-2019-054 November 22, 2019 . - ISSN 1064-8887. - ISSN 1573-9228
РУБ Physics, Multidisciplinary
Рубрики:
MICROMAGNETIC CALCULATION
   MAGNETOMETER

   SIMULATION

   NOISE

Кл.слова (ненормированные):
micromagnetic modeling -- multilayer magnetic film -- domain structure -- hysteresis loop -- microstrip resonator -- magnetic field sensor
Аннотация: Using numerical micromagnetic modeling, we have investigated the development of domain structure and magnetization reversal in multilayer thin-film structures. The permalloy (Ni80Fe20) magnetic layers had the inplane uniaxial and perpendicular magnetic anisotropy. We found that as the thickness of nonmagnetic interlayers decreases, the in-plane configuration of magnetic moments in the permalloy layers transforms from a single domain state to stripe domains, which is caused by the increase of magnetostatic interaction between layers. In structures with "thick" interlayers, even weak magnetostatic interaction enforces the neighboring single domain permalloy layers to have opposite orientations of magnetic moments. The saturation field of such samples increases linearly with the number of layers. By analyzing the dynamic characteristics of multilayers, we determined the optimum number of layers ensuring the maximum conversion efficiency of wideband microwave microstrip sensors of weak magnetic fields.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Доменная структура и процессы перемагничивания многослойных систем из тонких пленок пермаллоя с немагнитными прослойками [Текст] / Б. А. Беляев, Н. М. Боев, А. В. Изотов, П. Н. Соловьев // Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64 № 6. - С. 170-176

Держатели документа:
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys Fed Res Ctr KSC, Siberian Branch, Krasnoyarsk, Russia.
Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk, Russia.

Доп.точки доступа:
Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Boev, N. M.; Боев, Никита Михайлович; Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Ministry of Science and Higher EducationMinistry of Science and Higher Education, PolandEuropean Commission
}
Найти похожие
9.


   
    Experimental study of the magnetic characteristics of nanocrystalline thin films: the role of edge effects / B. A. Belyaev [et al.] // Mater. Res. Express. - 2019. - Vol. 6, Is. 11. - Ст. 116105, DOI 10.1088/2053-1591/ab4456. - Cited References: 37. - This work was supported by RFBR according to the research project no. 18-32-00086 and by the Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation no. 3.1031.2017/PCh. . - ISSN 2053-1591
РУБ Materials Science, Multidisciplinary
Рубрики:
FERROMAGNETIC-RESONANCE
   ANISOTROPIES

   ROUGHNESS

   SUBSTRATE

Кл.слова (ненормированные):
magnetic anisotropy -- ferromagnetic resonance -- nanocrystalline film -- soft magnetic film -- thin film edges
Аннотация: Magnetic characteristics and their spatial distribution of magnetron sputtered nanocrystalline NiFe thin films of various compositions were investigated by ferromagnetic resonance (FMR) and magneto-optical Kerr effect microscopy. A sharp increase in the FMR line width and a strong deviation of the uniaxial magnetic anisotropy field were observed near the film edges. It was shown that the observed magnetic anisotropy behavior can be explained by assuming that besides the field-induced uniaxial magnetic anisotropy an additional source of the uniaxial anisotropy near the film edges exists, with the easy axis parallel to the edges. The possible origins of this additional contribution were discussed.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Fed Res Ctr KSC SB RAS, Kirensky Inst Phys, 50-38 Akademgorodok, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Siberian Fed Univ, 79 Svobodny Pr, Krasnoyarsk 66041, Russia.

Доп.точки доступа:
Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Skomorokhov, G. V.; Скоморохов, Георгий Витальевич; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; RFBRRussian Foundation for Basic Research (RFBR) [18-32-00086]; Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation [3.1031.2017/PCh]
}
Найти похожие
10.


   
    Ferromagnetic resonance line broadening and shift effect in nanocrystalline thin magnetic films: Relation with crystalline and magnetic structure / A. V. Izotov, B. A. Belyaev, N. M. Boev [et al.] // J. Alloy. Compd. - 2022. - Vol. 900. - Ст. 163416, DOI 10.1016/j.jallcom.2021.163416. - Cited References: 52. - The reported study was funded by RFBR, the Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Regional Fund and JSC "NPP "Radiosviaz", project number 20-42-242901 and was supported by the Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation, agreement number 075-11-2019-054 dated 22.11.2019.; The electron microscopy investigations were conducted in the SFU Joint Scientific Center whose infrastructure was supported by the State assignment (#FSRZ-2020-0011) of the Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation . - ISSN 0925-8388. - ISSN 1873-4669
   Перевод заглавия: Уширение линии ферромагнитного резонанса и эффект сдвига в нанокристаллических тонких магнитных пленках: Связь с кристаллической и магнитной структурой
РУБ Chemistry, Physical + Materials Science, Multidisciplinary + Metallurgy & Metallurgical
Рубрики:
SUSCEPTIBILITY
   RIPPLE

   ANISOTROPIES

   ALLOYS

Кл.слова (ненормированные):
Nanocrystallite -- Magnetization ripple -- Ferromagnetic resonance (FMR) -- Two-magnon scattering process -- Micromagnetic simulation
Аннотация: With the rapid development of telecommunication technologies and highly integrated electronic devices, researchers show great interest in nanocrystalline soft magnetic thin films with unique characteristics for microwave applications. An important direction of the current research in this field is the study of high-frequency magnetization dynamics that directly depends on the damping processes in a magnetic medium. This paper reports on the effect of sharp broadening and shift of the ferromagnetic resonance (FMR) line revealed experimentally in a 40-nm-thick nanocrystalline permalloy (Fe20Ni80) thin film at a frequency of about 5 GHz. The effect arises only in films with crystallite size exceeding some critical value Dcr. The micromagnetic simulation demonstrates that exchange and dipolar interactions between randomly oriented crystallites form in the film a quasiperiodic magnetic structure with a characteristic wavelength in the range from 36 nm to 3.3 µm. An analysis of the two-magnon scattering model and simulation results shows that the formed magnetic structure provides the energy transfer from uniform magnetization oscillations (uniform FMR) to spin waves, which results in an additional energy dissipation channel and, consequently, sharp FMR line broadening. A theoretical estimate of the critical crystallite size Dcr based on this model yields a value of ~14.3 nm for 40-nm-thick Fe20Ni80 films.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Siberian Fed Univ, 79 Svobodny Pr, Krasnoyarsk 660041, Russia.
Fed Res Ctr KSC SB RAS, Kirensky Inst Phys, 50-38 Akademgorodok, Akademgorodok 5038, Russia.

Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Boev, N. M.; Боев, Никита Михайлович; Burmitskikh, A. V.; Бурмитских, Антон Владимирович; Skomorokhov, G. V.; Скоморохов, Георгий Витальевич; Zharkov, S. M.; Жарков, Сергей Михайлович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; RFBRRussian Foundation for Basic Research (RFBR); Government of Krasnoyarsk Territory; Krasnoyarsk Regional Fund; JSC "NPP "Radiosviaz" [20-42-242901]; Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation [075-11-2019-054, FSRZ-2020-0011]
}
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)