Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Izotov, A. V.$<.>)

Общее количество найденных документов : 133
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса / Б. А. Беляев, Н. М. Боев, A. A. Горчаковский [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 1. - С. 3-9, DOI 10.17223/00213411/64/1/3. - Библиогр.: 28. - Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ, Правительства Красноярского края, Краевого фонда науки и АО «НПП «Радиосвязь» в рамках научного проекта № 20-42-242901 . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные):
нанокристаллиты -- тонкая магнитная пленка -- случайная магнитная анизотропия -- "рябь" намагниченности -- структурная константа -- ферромагнитный резонанс -- сверхвысокие частоты
Аннотация: Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм2 на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Structure constant and grain size determination by ferromagnetic resonance in thin magnetic films [Текст] / B. A. Belyaev, N. M. Boev, A. A. Gorchakovskii [et al.] // Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64 Is. 1.- P.1-8

Держатели документа:
Сибирский федеральный университет, г. Красноярск, Россия
Институт физики им. Л.В. Киренского ФИЦ КНЦ СО РАН, г. Красноярск, Россия

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Горчаковский, Александр Антонович; Gorchakovskii A. A.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Соловьев, Платон Николаевич; Solovev, P. N.
}
Найти похожие

Structure constant and grain size determination by ferromagnetic resonance in thin magnetic films / B. A. Belyaev, N. M. Boev, A. A. Gorchakovskii [et al.] // Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64, Is. 1. - P. 1-8, DOI 10.1007/s11182-021-02293-7. - Cited References: 28. - This work was financially supported by Project N 20-42-24290 from the Russian Foundation for Basic Research, administrative support from Krasnoyarsk Krai, Scientific Foundation of Krasnoyarsk Krai, and AO "Radiosvyaz" . - ISSN 1064-8887
Кл.слова (ненормированные):
nanocrystallites -- thin magnetic films -- random magnetic anisotropy -- magnetization ripple -- structure constant -- ferromagnetic resonance -- microwave frequencies
Аннотация: The paper shows that the structure constant and the average crystal grain size of anisotropic nanocrystalline magnetic film can be determined by analyzing the shape of the microwave absorption peak in sweeping the external magnetic field along the hard magnetization axis. In the theory of magnetization ripple, the surface energy density of the local magnetic anisotropy is connected with the structure constant, which can be used to determine the quality of nanocrystalline films. The effectiveness of the structure constant measurements is demonstrated on a 300-nm-thick nanocrystalline Co–P film. Spectral data on the microwave absorption are collected in the ~1 mm2 region of the film using a scanning ferromagnetic resonance spectrometer. The structure constant obtained from the spectral analysis allows detecting the average grain size of the magnetic film, which is in good agreement with transmission electron microscopy observations.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса [Текст] / Б. А. Беляев, Н. М. Боев, A. A. Горчаковский [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64 № 1. - С. 3-9

Держатели документа:
Siberian Federal University, Krasnoyarsk, Russian Federation
Kirensky Institute of Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences, Krasnoyarsk, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Boev, N. M.; Боев, Никита Михайлович; Gorchakovskii, A. A.; Горчаковский, Александр Антонович; Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич
}
Найти похожие

Solovev, P. N.
Numerical study of structural and magnetic properties of thin films obliquely deposited on rippled substrates / P. N. Solovev, A. V. Izotov, B. A. Belyaev // J. Phys.: Condens. Matter. - 2021. - Vol. 33, Is. 49. - Ст. 495802, DOI 10.1088/1361-648X/ac26fc. - Cited References: 35. - The reported study was funded by RFBR, the Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Regional Fund and JSC 'NPP Radiosviaz', Project Number 20-42-242901 . - ISSN 0953-8984. - ISSN 1361-648X

РУБ Physics, Condensed Matter
Рубрики:
SIMULATION
ANISOTROPY
GROWTH
Кл.слова (ненормированные):
oblique deposition -- micromagnetic simulation -- thin film growth simulation -- rippled substrate -- magnetic anisotropy -- magnetization reversal
Аннотация: Structural modulation in thin films plays a substantial role in the formation of their magnetic properties. By producing topographic patterns in thin films, it is possible to engineer their magnetic response. Here, we report on the numerical study of the relationship between structural and static magnetic properties of thin films obliquely deposited on substrates with the sinusoidal surface. 3D Monte Carlo film growth simulations show that, under certain deposition conditions, an inhomogeneous columnar morphology can form in the films caused by the shadowing effect and the rippled substrate. Calculations of the demagnetizing tensors for these films demonstrate that their columnar structure is the source of the shape-induced uniaxial magnetic anisotropy that varies nonmonotonically with the deposition angle. Micromagnetic simulations of the generated films confirm the uniaxial character of the shape-induced anisotropy, and also show that magnetization reversal occurs via an incoherent rotation of magnetic moments.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Fed Res Ctr KSC SB RAS, Kirensky Inst Phys, 50-38 Akademgorodok, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Siberian Fed Univ, 79 Svobodny Pr, Krasnoyarsk 660041, Russia.

Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Соловьев, Платон Николаевич; RFBRRussian Foundation for Basic Research (RFBR); Government of Krasnoyarsk Territory; Krasnoyarsk Regional Fund; JSC 'NPP Radiosviaz' [20-42-242901]
}
Найти похожие

Second harmonic generation in thin permalloy film / P. N. Solovev, A. O. Afonin, B. A. Belyaev [et al.] // J. Phys. D. - 2021. - Vol. 54, Is. 42. - Ст. 425002, DOI 10.1088/1361-6463/ac1762. - Cited References: 43. - This work was supported by the Russian Science Foundation under Grant No. 19-72-10047. The equipment of the Krasnoyarsk Regional Center of Research Equipment of Federal Research Center 'Krasnoyarsk Science Center SB RAS' was used during the measurement . - ISSN 0022-3727. - ISSN 1361-6463

РУБ Physics, Applied
Рубрики:
FERROMAGNETIC-RESONANCE
   MAGNETIZATION DYNAMICS
   HARMONIC-GENERATION
   FERRITES
Кл.слова (ненормированные):
ferromagnetic resonance -- frequency doubling -- nonlinear dynamics -- thin magnetic film -- second harmonic
Аннотация: Second harmonic generation versus strength and direction of the applied static magnetic field was measured for a thin permalloy (Ni80Fe20) film in a microstrip line at a driving frequency of 1 GHz and maximum input power of ~110 mW. The measurements revealed two peaks in the double frequency signal—in the low static field (~10 Oe) and the high one (~45 Oe). To explain these findings, a macrospin model of a thin magnetic film with in-plane uniaxial magnetic anisotropy was considered. A perturbation expansion of the Landau–Lifshitz–Gilbert equation provided an explanation of the experimental data. The analysis of the model revealed that the low-field peak was caused by the longitudinal second-order magnetization component and the high-field peak by the transversal one. It was also shown that the uniaxial magnetic anisotropy of the film and the dependence of the magnetic damping parameter on the applied field play an important role in the process of the second harmonic generation. The results obtained give insights into some peculiarities of the nonlinear magnetization dynamics that are important in the development of magnetic film-based devices in the field of microwave signal processing and manipulation.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Fed Res Ctr KSC SB RAS, Kirensky Inst Phys, 50-38 Akademgorodok, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Siberian Fed Univ, 79 Svobodny Pr, Krasnoyarsk 660041, Russia.

Доп.точки доступа:
Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Afonin, A. O.; Афонин, Алексей Олегович; Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Boev, N. M.; Боев, Никита Михайлович; Govorun, I. V.; Говорун, Илья Валерьевич; Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Ugryumov, A. V.; Угрюмов, Андрей Витальевич; Leksikov, An. A.; Лексиков, Андрей Александрович; Russian Science FoundationRussian Science Foundation (RSF) [19-72-10047]
}
Найти похожие

Описание изобретения к патенту 2738410 Российская Федерация

Цифровой передатчик ближнепольной магнитной системы связи с амплитудно-фазовой манипуляцией / Н. М. Боев, С. Д. Крёков, А. В. Изотов [и др.]. - № 2020121907 ; Заявл. 26.06.2020 ; Опубл. 14.12.2020 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2020. - № 35
Аннотация: Цифровой передатчик ближнепольной магнитной системы связи с амплитудно-фазовой манипуляцией предназначен для организации канала связи посредством модулирования низкочастотных магнитных полей. Устройство содержит передающую магнитную антенну с отводами, модулятор с двумя выходами, на первом выходе которого формируется одноразрядный частотно- или фазоманипулированный сигнал, а на втором выходе - цифровой сигнал, соответствующий амплитуде передаваемого символа, при этом первый выход квадратурного модулятора подключен к устройству формирования управляющих сигналов мостового инвертора напряжения, а второй - к управляющему входу мультиплексора, новым является то, что передающая магнитная антенна имеет отводы и, соответственно, мостовой инвертор напряжения имеет несколько соединенных с антенной полумостов, причем общее число выводов передающей магнитной антенны равно числу полумостов и определяется как N=A+1, где А - число дискретных уровней амплитуд символов сигнального созвездия цифровой манипуляции, при этом первый полумост управляется через драйверы по сигналам напрямую от устройства формирования управляющих сигналов, а другие полумосты управляются через мультиплексор. Техническим результатом изобретения является снижение сложности изготовления цифрового передатчика ближнепольной магнитной системы связи. 2 ил.

Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Крёков, Сергей Дмитриевич; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Сушков, Артем Александрович; Sushkov, A. A.; Горчаковский, Александр Антонович; Gorchakovsky, A. A.; Говорун, Илья Валерьевич; Govorun, I. V.; Лемберг, Константин Вячеславович; Lemberg, K. V.; Подшивалов, Иван Валерьевич; Podshivalov, I. V.; Грушевский, Евгений Олегович; Grushevskii, Ye. O.; Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук"; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

Описание изобретения к патенту 2706436 Российская Федерация

Чувствительный элемент тонкопленочного магнитометра / А. Н. Бабицкий, Б. А. Беляев, Н. М. Боев [и др.]. - № 2019110902 ; Заявл. 11.04.2019 ; Опубл. 19.11.2019 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2019. - № 32
Аннотация: Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно - предназначено для измерения слабых магнитных полей, и может использоваться в магнитометрии. Чувствительный элемент состоит из печатной платы, на верхней стороне которой размещаются два СВЧ-резонатора, включающих одну общую диэлектрическую подложку с осажденной на ее нижней стороне тонкой магнитной пленкой. Сверху над диэлектрической подложкой размещаются под оптимальным углом друг к другу проводники СВЧ-резонаторов. Между этими проводниками размещается короткозамкнутый с обеих сторон на землю отрезок полоскового проводника, ослабляющий связь между СВЧ-резонаторами. С помощью магнитной системы в плоскости пленки формируется постоянное магнитное поле смещения. Техническим результатом является повышение чувствительности устройства. 4 ил.

Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Бабицкий, Александр Николаевич; Babitskii, A. N.; Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Клименко, Анатолий Григорьевич; Бурмитских, Антон Владимирович; Burmitskikh, A. V.; Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук"; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

Grain-size dependence of magnetic microstructure and high-frequency susceptibility of nanocrystalline thin films: A micromagnetic simulation study / A. V. Izotov, B. A. Belyaev, P. N. Solovev, N. M. Boev // J. Magn. Magn. Mater. - 2021. - Vol. 529. - Ст. 167856, DOI 10.1016/j.jmmm.2021.167856. - Cited References: 73. - The reported study was funded by RFBR, the Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Regional Fund and JSC «NPP «Radiosviaz», project number 20-42-242901 . - ISSN 0304-8853
Кл.слова (ненормированные):
Micromagnetic simulation -- Nanocrystallites -- Local magnetic anisotropy -- Ferromagnetic resonance -- Magnetization ripple -- Two-magnon scattering process
Аннотация: The size of crystallites is one of the most important factors that determine the key characteristics of nanocrystalline thin magnetic films that make them very promising media for various applications. In this paper, using micromagnetic simulation, we study in detail the influence of the grain size on the magnetic microstructure of the films and its relation with high-frequency dynamics of magnetization. When the grain size exceeds some critical value Dcr, a sharp broadening and shift of the ferromagnetic resonance line are observed at certain frequencies of the alternating magnetic field. Using a two-magnon scattering model, it is shown that these effects are caused by the scattering of spin waves on the inhomogeneous stochastic magnetic structure—magnetization ripple. An expression for the determination of the critical size Dcr is obtained. The micromagnetic simulation results agree with the main conclusions of the static and dynamic theories of magnetization ripple and also confirmed by experimental data reported by other authors.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Siberian Federal University, 79 Svobodny pr., Krasnoyarsk, 660041, Russian Federation
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, 50/38 Akademgorodok, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Boev, N. M.; Боев, Никита Михайлович
}
Найти похожие

Theoretical study of the frequency multiplier based on irregular quarter-wavelength microstrip resonator with thin magnetic film / B. A. Belyaev, A. V. Izotov, A. A. Leksikov [et al.] // Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 63, Is. 9. - P. 1447-1460, DOI 10.1007/s11182-021-02191-y. - Cited References: 21 . - ISSN 1064-8887
Кл.слова (ненормированные):
microstrip resonator -- thin magnetic film -- frequency multiplication -- nonlinear magnetization oscillations
Аннотация: The characteristics of a frequency doubler on a resonant microstrip structure with a thin magnetic film were studied theoretically. The electrodynamic calculation of the structure was performed within the quasi-static approximation. Nonlinear response of film magnetization was calculated taking into account the second-order terms in the Landau-Lifshitz equation. The frequency response of the microstrip resonator was calculated. It was shown that due to the use of the resonant circuit, high efficiency of the input signal energy conversion into the output signal at a doubled frequency was achieved. The optimal values of the magnitude and direction of an external static magnetic field, which ensure the maximum output power at a doubled frequency, were determined.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Теоретическое исследование умножителя частоты на основе нерегулярного четвертьволнового микрополоскового резонатора с тонкой магнитной пленкой [Текст] / Б. А. Беляев, А. В. Изотов, А. А. Лексиков [и др.] // Изв. вузов. Физика. - 2020. - Т. 63 № 9. - С. 3-14

Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences – Division of Federal Research Center “Krasnoyarsk Scientific Center of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences”, Krasnoyarsk, Russian Federation
Siberian Federal University, Krasnoyarsk, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Belyaev, B. A.; Беляев, Борис Афанасьевич; Izotov, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Leksikov, An. A.; Лексиков, Андрей Александрович; Solovev, P. N.; Соловьев, Платон Николаевич; Tyurnev, V. V.; Тюрнев, Владимир Вениаминович
}
Найти похожие

Описание изобретения к патенту 2747595 Российская Федерация

Устройство для измерения параметров тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса на радиочастотах / Б. А. Беляев, Н. М. Боев, А. В. Бурмитских, А. В. Изотов. - № 2020133596 ; Заявл. 13.10.2020 ; Опубл. 11.05.2021 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2021. - № 14
Аннотация: Использование: для измерения параметров тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса на радиочастотах. Сущность изобретения заключается в том, что устройство для измерения параметров тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса на радиочастотах содержит ВЧ-генератор, измерительные катушки, являющиеся частью резонансного контура ВЧ-генератора, кольца Гельмгольца, формирующие постоянное магнитное поле, при этом устройство дополнительно содержит блок управления и цифровой обработки сигналов, который посредством приводов может независимо вращать столик с исследуемым образцом тонкой магнитной пленки и измерительную катушку, а также может изменять коэффициент обратной связи ВЧ-генератора, работающего в автодинном режиме. Технический результат: повышение чувствительности устройства, обеспечение возможности точной угловой подстройки положения как исследуемого образца тонкой магнитной пленки, так и измерительных колец Гельмгольца. 6 ил.

Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Бурмитских, Антон Владимирович; Burmitskikh, A. V.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук"; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие

10.

Описание изобретения к патенту 2758817 Российская Федерация

Датчик слабых магнитных полей на тонких магнитных пленках / А. Н. Бабицкий, Б. А. Беляев, Н. М. Боев [и др.]. - № 2021111990 ; Заявл. 27.09.2020 ; Опубл. 2.10.2021 // Изобретения. Полезные модели : офиц. бюл. Фед. службы по интеллектуал. собственности (Роспатент). - 2021. - № 31
Аннотация: Изобретение относится к измерительной технике. Датчик слабых магнитных полей на тонких магнитных пленках содержит два микрополосковых резонатора, внутри которых находятся тонкие магнитные пленки, амплитудные детекторы, схему суммирования полезных сигналов и компенсации шумов СВЧ-генератора, магнитную систему, предназначенную для формирования постоянного магнитного поля смещения, микроконтроллер, опорный генератор, синтезатор частот, усилители мощности, причем к аналоговым входам микроконтроллера подключены сигналы с двух амплитудных детекторов, а цифровые выходы подключены к синтезатору частот, к входу которого также подключен опорный генератор, а к выходу – усилители мощности, нагруженные на микрополосковые резонаторы. Технический результат – снижение величины дрейфа нулевого значения на выходе устройства. 3 ил.

Смотреть патент,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Бабицкий, Александр Николаевич; Babitskii, A. N.; Беляев, Борис Афанасьевич; Belyaev, B. A.; Боев, Никита Михайлович; Boev, N. M.; Изотов, Андрей Викторович; Izotov, A. V.; Бурмитских, Антон Владимирович; Burmitskikh, A. V.; Клешнина, Софья Андреевна; Kleshnina, S. A.; Горчаковский, Александр Антонович; Gorchakovsky, A. A.; Шабанов, Дмитрий Александрович; Shabanov, D. A.; Федеральный исследовательский центр "Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук"; Федеральная служба по интеллектуальной собственности (Роспатент); Федеральный институт промышленной собственности
}
Найти похожие