Главная
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Shevtsov, D. V.$<.>)
Общее количество найденных документов : 37
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-37 
1.


   
    Auger electron spectroscopy of thin Cr2GeC films / T. A. Andryushchenko, S. A. Lyaschenko, S. N. Varnakov [et al.] // Phys. Met. Metallogr. - 2023. - Vol. 124, Is. 14. - P. 1776-1782, DOI 10.1134/S0031918X2360135X. - Cited References: 33. - The research was supported by the Russian Science Foundation (grant no. 21-12-00226, http://rscf.ru/project/21-12-00226/) . - ISSN 0031-918X. - ISSN 1555-6190
Кл.слова (ненормированные):
МАХ phases -- chromium germanides -- epitaxial thin films -- Auger electron spectroscopy -- magnetron sputtering co-deposition
Аннотация: Auger electron spectroscopy was used to determine the phase composition of Cr2GeC MAX phase thin films. A distinctive feature of the formation of carbon-containing MAX phases is the shape of carbon Auger peaks, which is characteristic of metal carbides spectra. Features of the Auger spectra in the presence of secondary phases of chromium germanides are found. Their presence can manifest itself in an increase in the energy of the germanium peaks, which is caused by a chemical shift during the formation of the Cr–Ge bond. Moreover, we have detected the accumulation of electronic charge, which can be explained by the features of the surface morphology.

Смотреть статью,
Scopus,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, 660036, Krasnoyarsk, Russia

Доп.точки доступа:
Andryushchenko, T. A.; Андрющенко, Татьяна Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Lukyanenko, A. V.; Лукьяненко, Анна Витальевна; Nemtsev, I. V.; Немцев, Иван Васильевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич
}
Найти похожие
2.


   
    Development of in situ magneto-ellipsometry for studying correlation between the optical and magneto-optical properties of ferromagnetic thin films / O. A. Maximova [et al.] // J. Phys.: Conf. Ser. - 2017. - Vol. 903. - Ст. 012060, DOI 10.1088/1742-6596/903/1/012060. - Cited References:7. - The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research Grant No. 16-32-00209 mol_a, Grant No. 14-02-01211, Grant No. 16-42-24083; the Complex program of SB RAS No II.2P, project 0358-2015-0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014 kappa); Grant of the President of the Russian Federation (Scientific School No. 7559.2016.2).
   Перевод заглавия: Развитие метода in situ магнитоэллипсометрии для изучения корреляции между оптическими и магнитооптическими свойствами ферромагнитных тонких пленок
РУБ Physics, Applied + Physics, Condensed Matter

Аннотация: In this work we present the way of nanostructured films study by means of magneto-ellipsometry. The method of interpretation of in situ magneto-optical ellipsometry spectra from the in situ molecular beam epitaxy setup with an integrated magneto-ellipsometric real time synthesis control is described. The method has been successfully tested on Fe/SiO2/Si nanostructures within the model of a homogeneous semi-infinite medium. As a result, the dielectric tensor components for Fe layer were calculated using a developed approach.

Смотреть статью,
WOS,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Maximova, O. M.; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Foundation for Basic Research [16-32-00209 mol_a, 14-02-01211, 16-42-24083]; Complex program of SB RAS [II.2P, 0358-2015-0004]; Ministry of Education and Science of the RF [16.663.2014kappa]; Grant of the President of the Russian Federation [7559.2016.2]; Joint European Magnetic Symposia(8 ; 2016 ; 21-26 Aug. ; Glasgow, UK)
}
Найти похожие
3.


   
    Development of techniques for processing data from magneto-ellipsometry measurements / O. A. Maximova [et al.] // Fourth Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2018) : proceedings / progr. com. S. G. Ovchinnikov [et al.]. - 2018. - Ст. IV.25.05p. - P. 180 . - ISBN 978-5-7444-4368-9
Аннотация: The approach to data processing for layered thin films with a ferromagnet layer is proposed for studying optical and magneto- optical properties. The scope and applicability of models which describe reflective layered structures are studied in order to recommend the best model choice for each case. A significant effect of penetration depth on this choice was observed.

Материалыконференции

Доп.точки доступа:
Ovchinnikov, S. G. \progr. com.\; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Ovchinnikov, S. G.; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(4 ; 2018 ; Sept. ; 23-28 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(4 ; 2018 ; сент. ; 23-28 ; Владивосток); Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН; Дальневосточный федеральный университет
}
Найти похожие
4.


   
    Experimental and Theoretical In Situ Spectral Magneto-Ellipsometry Study of Layered Ferromagnetic Structures / O. A. Maximova [et al.] // JETP Letters. - 2019. - Vol. 110, Is. 3. - P. 166-172, DOI 10.1134/S0021364019150098. - Cited References: 28. - This work was supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation and the Siberian Branch, Russian Academy of Sciences (project nos. 0356-2018-0061 and II.8.70). . - ISSN 0021-3640
Аннотация: A method for processing of in situ spectral magneto-ellipsometry data has been developed to analyze planar ferromagnetic nanostructures. A multilayer model containing a ferromagnetic layer with two interfaces, a nonferromagnetic buffer layer, and a nonferromagnetic substrate has been tested within a new approach to the interpretation of magnetic-field-modulated spectral ellipsometric measurements involving the magnetooptical Kerr effect in the transverse configuration. In particular, the effect of the thickness of the ferromagnetic layer on the results of magneto-ellipsometric measurements has been analyzed. The measurements have been performed with polycrystalline Fe films with different thicknesses on a nonferromagnetic SiO2/Si(100) surface. The diagonal and off-diagonal components of the complex dielectric tensor in the spectral range of 1.38–3.45 eV have been determined by processing spectral magneto-ellipsometric data. The results have been compared to the available data obtained by other authors and to the calculation of the dielectric tensor of Fe within the density functional theory.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке

Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Akademgorodok, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation
Siberian Federal University, Krasnoyarsk, 660041, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Vysotin, M. A.; Высотин, Максим Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Fedorov, A. S.; Федоров, Александр Семенович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич
}
Найти похожие
5.


   
    Fe/SiO2/Si thin films study by means of in situ magneto-ellipsometry and DFT / O. A. Maximova [et al.] // Euro-asian symposium "Trends in magnetism" (EASTMAG-2019) : Book of abstracts / чл. конс. ком.: S. G. Ovchinnikov, N. V. Volkov [et al.] ; чл. прогр. ком. D. M. Dzebisashvili [et al.]. - 2019. - Vol. 1. - Ст. E.P1. - P. 421-422. - Cited References: 4. - Support by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation and by Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences (Project II.8.70, 0356-2018-0057) is acknowledged. Participation in the event VII Euro-Asian Symposium “Trends in Magnetism” (EASTMAG-2019) was funded by Krasnoyarsk Regional Fund of Science . - ISBN 978-5-9500855-7-4

Материалы симпозиума,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, Krasnoyarsk, Russia
Siberian Federal University, Krasnoyarsk, Russia

Доп.точки доступа:
Ovchinnikov, S. G. \чл. конс. ком.\; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Volkov, N. V. \чл. конс. ком.\; Волков, Никита Валентинович; Dzebisashvili, D. M. \чл. прогр. ком.\; Дзебисашвили, Дмитрий Михайлович; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Visotin, M. A.; Высотин, Максим Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Fedorov, A. S.; Федоров, Александр Семенович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Российская академия наук; Уральское отделение РАН; Институт физики металлов им. М. Н. Михеева Уральского отделения РАН; Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина; Российский фонд фундаментальных исследований; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(7 ; 2019 ; Sept. ; 8-13 ; Ekaterinburg); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(7 ; 2019 ; Sept. ; 8-13 ; Ekaterinburg)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)
}
Найти похожие
6.


   
    Features of (Cr1-xMnx)2GeC thin film magnetron deposition / S. A. Lyashchenko, T. A. Andryushchenko, I. A. Yakovlev [et al.] // V International Baltic Conference on Magnetism. IBCM : Book of abstracts. - 2023. - P. 49. - Cited References: 3. - РНФ № 21-12-00226

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS
Siberian Federal University

Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Andryushchenko, T. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Lukyanenko, A. V.; Лукьяненко, Анна Витальевна; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; International Baltic Conference on Magnetism(5 ; 2023 ; Aug. 20-24 ; Svetlogorsk, Russia); Балтийский федеральный университет им. И. Канта
}
Найти похожие
7.


   
    Features of MagMAX thin film deposition techniques / S. A. Lyashchenko, I. A. Yakovlev, A. S. Tarasov [et al.] // International workshop on the properties of functional MAX-materials (2nd FunMax) : book of abstracts / org. com. M. Farle [et al.]. - 2021. - P. 14

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Farle, M. \org. com.\; Ovchinnikov, S. G. \org. com.\; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Tarasov, A. S. \org. com.\; Тарасов, Антон Сергеевич; Smolyarova, T. E. \org. com.\; Смолярова, Татьяна Евгеньевна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Tarasov, A. S.; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Farle, M.; Фарле, Михаель; International workshop on functional MAX-materials(2 ; 2021 ; Sept. 14-17 ; Krasnoyarsk (on-line)); Kirensky Institute of Physics; Siberian Federal Univercity
}
Найти похожие
8.


   
    Growth process, structure and electronic properties of Cr2GeC and Cr2-xMnxGeC thin films prepared by magnetron sputtering / A. S. Tarasov, S. A. Lyaschenko, M. V. Rautskii [et al.] // Processes. - 2023. - Vol. 11, Is. 8. - Ст. 2236, DOI 10.3390/pr11082236. - Cited References: 43. - This study was supported by the Russian Science Foundation, project no. 21-12-00226. - The authors thank the laboratory of the Magnetic MAX Materials created under the Megagrant project (agreement no. 075-15-2019-1886) for providing experimental equipment and the Collective Use Center at the Krasnoyarsk Scientific Center (Siberian Division, Russian Academy of Sciences) for assistance . - ISSN 2227-9717
Кл.слова (ненормированные):
MAX phase -- thin film -- magnetron sputtering -- electronic transport -- optical spectra
Аннотация: The growth and phase formation features, along with the influence of structure and morphology on the electronic, optical, and transport properties of Cr2GeC and Cr2-xMnxGeC MAX phase thin films synthesized by magnetron sputtering technique, were studied. It was found that the Cr:Ge:C atomic ratios most likely play the main role in the formation of a thin film of the MAX phase. A slight excess of carbon and manganese doping significantly improved the phase composition of the films. Cr2GeC films with a thicknesses exceeding 40 nm consisted of crystallites with well-developed facets, exhibiting metallic optical and transport properties. The hopping conduction observed in the Cr2-xMnxGeC film could be attributed to the columnar form of crystallites. Calculations based on a two-band model indicated high carrier concentrations N, P and mobility μ in the best-synthesized Cr2GeC film, suggesting transport properties close to single crystal material. The findings of this study can be utilized to enhance the growth technology of MAX phase thin films.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, 660036 Krasnoyarsk, Russia
Institute of Chemistry and Chemical Technology, Federal Research Center KSC SB RAS, 660036 Krasnoyarsk, Russia
Krasnoyarsk Scientific Center, Federal Research Center KSC SB RAS, 660036 Krasnoyarsk, Russia

Доп.точки доступа:
Tarasov, A. S.; Тарасов, Антон Сергеевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Rautskii, M. V.; Рауцкий, Михаил Владимирович; Lukyanenko, A. V.; Лукьяненко, Анна Витальевна; Andryushchenko, T. A.; Андрющенко, Татьяна Александровна; Solovyov, Leonid A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Bondarev, M. A.; Бондарев, Михаил Александрович; Bondarev, I. A.; Бондарев, Илья Александрович; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич
}
Найти похожие
9.


   
    In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers / S. A. Lyashchenko [et al.] // Tech. Phys. - 2013. - Vol. 58, Is. 10. - P. 1529-1532, DOI 10.1134/S1063784213100162 . - ISSN 1063-7842
Аннотация: A thin polycrystalline Fe film on a single-crystal Si substrate with natural SiO2 oxide is obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum. The magneto-optical properties of the resultant structure are investigated in situ by the methods of spectral ellipsometry. The values of the coercive force for the Fe film are obtained, and the magnetization reversal loop and the energy dependence of the equatorial Kerr effect are constructed. The effectiveness of magnetoellipsometry for in situ analysis of the geometrical and magnetooptical properties of thin ferromagnetic layers is demonstrated. В© 2013 Pleiades Publishing, Ltd.

Scopus,
Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами [Текст] / С. А. Лященко [и др.] // Журн. техн. физ. - 2013. - Т. 83 Вып. 10. - С. 139-142

Держатели документа:
Russian Acad Sci, Kirensky Inst Phys, Siberian Branch, Krasnoyarsk 660036, Russia
Reshetnev Siberian State Aerosp Univ, Krasnoyarsk 660014, Russia
Russian Acad Sci, Siberian Branch, Rzhanov Inst Semicond Phys, Novosibirsk 630090, Russia
Novosibirsk State Univ, Novosibirsk 630090, Russia

Доп.точки доступа:
Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shvets, V. A.; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Rykhlitskii, S. V.
}
Найти похожие
10.


   
    In situ magneto-optical ellipsometry data analysis for films growth control / O. A. Maximova [et al.] // J. Magn. Magn. Mater. - 2017. - Vol. 440: EURO-Asian Symposium on Trends in Magnetism (EASTMAG) (AUG 15-19, 2016, Siberian Fed Univ, Krasnoyarsk, RUSSIA). - P. 196-198, DOI 10.1016/j.jmmm.2016.12.050. - Cited References:10. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project Nos. 16-42-243058 and 16-42-243060. The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research, Grant nos. 16-32-00209 mol_a and 14-02-01211; the Complex program of SB RAS II.2P, project 0358-2015-0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task no. 16.663.2014); Grant Scientific School 7559.2016.2. . - ISSN 0304-8853. - ISSN 1873-4766
   Перевод заглавия: Анализ данных in situ магнитооптической эллипсометрии для контроля роста пленок
РУБ Materials Science, Multidisciplinary + Physics, Condensed Matter

Кл.слова (ненормированные):
Magneto-optical Kerr effect -- Ellipsometry -- In situ measurements
Аннотация: In this work we present the way of ferromagnetic films study by means of magneto-ellipsometry. The method of interpretation of in situ magneto-optical ellipsometry spectra for real time growth control is described. The method has been successfully tested on Si/SiO2/Fe films within the model of a homogeneous semi-infinite medium. As a result, the dielectric tensor components for Fe layer were calculated using a developed approach.

Смотреть статью,
WOS,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Maximova, O. M.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Foundation for Basic Research; Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology [16-42-243058, 16-42-243060]; Russian Foundation for Basic Research [16-32-00209 mol_a, 14-02-01211]; SB RAS II.2P [0358-2015-0004]; Ministry of Education and Science of RF [16.663.2014]; Grant Scientific School [7559.2016.2]; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism"(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium(6 ; 2016 ; Aug. ; 15-19 ; Krasnoyarsk); Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
}
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-37 
 

Другие библиотеки

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)