Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сверхвысокие частоты<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Беляев, Борис Афанасьевич, Боев, Никита Михайлович, Изотов, Андрей Викторович, Соловьев, Платон Николаевич
Заглавие : Исследование особенностей спектра СВЧ-поглощения нанокристаллических тонких магнитных пленок
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 10. - С. 50-56. - ISSN 0021-3411
Примечания : Библиогр.: 22. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, проект № RFMEFI60417X0179.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микромагнитное моделирование--нанокристаллиты--случайная магнитная анизотропия--ферромагнитный резонанс--сверхвысокие частоты
Аннотация: На основе микромагнитной модели, учитывающей случайное распределение направлений одноосной магнитной анизотропии в кристаллитах нанокристаллической пленки, реализован эффективный метод расчета динамики намагниченности в СВЧ-полях. В определенной области размеров кристаллитов, когда энергия случайной магнитной анизотропии сравнима с обменной энергией, обнаружено значительное изменение поля ферромагнитного резонанса, уширение резонансной линии и возникновение асимметрии формы резонансной кривой. Резонансное поле с увеличением размеров кристаллитов сначала растет, затем быстро уменьшается до своего минимума, затем снова растет с выходом на насыщение. При этом крутизна левого склона расширяющейся резонансной кривой сначала уменьшается быстрее правого, нарушая симметрию ее формы, затем кривая вновь становится симметричной, а затем крутизна левого склона становится больше крутизны правого.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Изотов, Андрей Викторович, Беляев, Борис Афанасьевич, Соловьев, Платон Николаевич, Боев, Никита Михайлович
Заглавие : Особенности двухмагнонных процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 12. - С. 153-159. - ISSN 0021-3411
Примечания : Библиогр.: 25. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, задание № 3.1031.2017/ПЧ.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микромагнитное моделирование--нанокристаллиты--случайная магнитная анизотропия--ферромагнитный резонанс--сверхвысокие частоты--двухмагнонный процесс релаксации--micromagnetic modeling--nanocrystallites--random magnetic anisotropy--ferromagnetic resonance--ultrahigh frequencies--two-magnon relaxation process
Аннотация: Численным анализом микромагнитной модели обнаружена «резонансная» особенность процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках. Особенность проявляется в виде резкого уширения линии ферромагнитного резонанса (ФМР) на определенной частоте f 1, зависящей от магнитных характеристик пленки, и она наблюдается только в пленках, толщина которых превышает некоторое пороговое значение d min. Резкое уширение линии ФМР сопровождается значительным смещением резонансного поля, причем величина смещения меняет знак на частоте ~ f 1. Аналитически показано, что природа наблюдаемых эффектов связана с двухмагнонным процессом рассеяния спиновых волн на квазипериодической магнитной микроструктуре - «ряби» намагниченности. Полученные выражения для порогового значения толщины пленки d min и частоты максимального уширения линии ФМР f 1 хорошо согласуются с результатами численного расчета микромагнитной модели.A resonant feature of the relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films is revealed by numerical analysis for a micromagnetic model. This special feature is manifested through sharp broadening of the ferromagnetic resonance (FMR) line at the frequency f 1 depending on the magnetic characteristics of the film and is observed only in the films whose thickness exceeds a certain threshold value d min. The sharp broadening of the FMR lines is accompanied by a considerable displacement of the resonant field, and the displacement changes its sign at the frequency ~ f 1. It is analytically shown that the nature of the observable effects is connected with the two-magnon process of spin wave scattering on a quasi-periodic magnetic microstructure - magnetization ripples. The obtained expressions for the threshold value of the film thickness d min and the frequency f 1 of the maximal FMR line broadening are in good agreement with results of numerical calculation for the micromagnetic model.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Беляев, Борис Афанасьевич, Боев, Никита Михайлович, Горчаковский, Александр Антонович, Изотов, Андрей Викторович, Соловьев, Платон Николаевич
Заглавие : Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 1. - С. 3-9. - ISSN 0021-3411, DOI 10.17223/00213411/64/1/3
Примечания : Библиогр.: 28. - Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ, Правительства Красноярского края, Краевого фонда науки и АО «НПП «Радиосвязь» в рамках научного проекта № 20-42-242901
Аннотация: Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм2 на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Дмитриев Д. Д., Лексиков, Андрей Александрович, Гладышев А. Б.
Заглавие : Решая задачи импортозамещения. Результаты научной кооперации Военного учебного центра СФУ с Красноярским научным центром Сибирского отделения РАН
Колич.характеристики :5 с
Место публикации : Вестн. воен. образования. - 2023. - № 4. - С. 84-88. - ISSN 25003704 (ISSN)
Аннотация: В работе приведены результаты разработки и исследования конструкции миниатюрного полосно-пропускающего фильтра на основе многопроводниковых полосковых резонаторов. В программе электродинамического анализа спроектирован, а затем изготовлен полосно-пропускающий фильтр шестого порядка на семипроводниковых резонаторах.The paper presents the results of the development and research of the design of a miniature bandpass filter based on multiconductorstripline resonators. In the program of electrodynamic analysis, a sixth-order band-pass filter was designed and then manufactured on seven-wire resonators.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие