Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Швец, Василий Александрович$<.>)

Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 16

   В37
   Ш 35

    Швец, Василий Александрович.
    Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te [Рукопись] : дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / В. А. Швец ; науч. конс. О. П. Пчеляков ; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников им. А.В. Ржанова. - Новосибирск, 2010. - 234 с. - Библиогр.: 179 назв. . -

ГРНТИ

29.19.31

47.13.11

ББК В379.2я031

Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л. В. Киренского СО РАН
Доп.точки доступа:
Пчеляков, О. П. \науч. конс.\; Российская академия наукСибирское отделение РАН; Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН
Экземпляры всего: 1
ДС (1)
Свободны: ДС (1)}
Найти похожие

Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами / С. А. Лященко [и др.] // Журн. техн. физ. - 2013. - Т. 83, Вып. 10. - С. 139-142
Аннотация: Методом термического испарения в сверхвысоком вакууме получена тонкая поликристаллическая пленка Fe на монокристаллической подложке Si с естественным оксидом SiO2. Исследованы магнитооптические свойства полученной структуры in situ методами спектральной эллипсометрии. Найдены значения коэрцитивной силы пленки Fe, построены петля перемагничивания и энергетическая зависимость экваториального эффекта Керра. Показана эффективность магнитоэллипсометрии для in situ анализа геометрических и магнитооптических свойств тонких слоев ферромагнетиков.

Смотреть статью,
Читать в сети ИФ

Переводная версия In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers [Текст] / S. A. Lyashchenko [et al.] // Tech. Phys. - 2013. - Vol. 58 Is. 10.- P.1529-1532

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Лященко, Сергей Александрович; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.; Швец, Василий Александрович; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Bondarenko, G.V.; Рыхлицкий, С. В.
}
Найти похожие

The in situ magneto ellipsometry method in the study magnetooptical properties of the iron thin films [Текст] / S. A. Lvaschenko [и др.] // V Euro-Asian simposium "Trend in MAGnetism": Nanomagnetism : abstracts. - Vladivostok : FEFU, 2013. - С. 105 . - ISBN 978-5-7444-3124-2

Доп.точки доступа:
Lvaschenko, S. A.; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Bondarenko, G. V.; Бондаренко, Геннадий Васильевич; Rykhkitskii, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Latyshev, A. V.; Латышев А.В.; Saranin, A. A.; Саранин А.А.; Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism": Nanomagnetism(5 ; 2013 ; Sept. ; 15-21 ; Vladivostok)
}
Найти похожие

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) / И. А. Тарасов [и др.] // Журн. техн. физ. - 2012. - Т. 82, Вып. 9. - С. 44-48. - Библиогр.: 18 назв. - Работа выполнена при поддержке Интеграционного проекта СО РАН-ДВО РАН No 22, Программы Президиума РАН No 27, Федеральной целевой программы ”Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009–2013 г.“, программы ОФН РАН No 4 ”Спинтроника"
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий проводить эксперсс-контроль толщины и оптических постоянных структур в процессе роста. Проведена апробация алгоритма на структурах Fe/SiO2/Si(100), полученных в установке молекулярно-лучевой эпитаксии " Ангара". Значения толщин пленок, рассчитанные в ходе их роста, сравнены с данными рентгеноспектрального флуоресцентного анализа и просвечивающей электронной микроскопии.

Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth [Текст] / I. A. Tarasov [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2012. - Vol. 57 Is. 9.- P.1225-1229

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; Бондаренко, С. Г.; Bondarenko, S.G.; Терещенко, О. Е.
}
Найти похожие

Измерительно-ростовой комплекс для синтеза и исследования in situ материалов спинтроники / С. В. Рыхлицкий [и др.] // Приборы и техника эксперимента. - 2012. - № 2. - С. 165-166 . - ISSN 0032-8162
Аннотация: Описан комплекс, предназначенный для многоцелевой характеризации моно- и многослойных структур полупроводниковой спинтроники, содержащих слои ферромагнитных материалов.

РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Рыхлицкий, С. В.; Швец, Василий Александрович; Спесивцев, Е. В.; ПРокопьев, В. Ю.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V.N.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.
}
Найти похожие

Structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanostructures perfomed by in situ magnetoellipsometry / N. N. Kosyrev [et al.] // 6th Int. Conf. on Spectr. Ellipsometry (ICSE-VI 2013) : Conf. programm and abstr. - 2013. - P. 205

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhkitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (6 ; 2013 ; May ; 26-31 ; Kyoto, Japan)
}
Найти похожие

Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и оптических постоянных наноструктур в процессе их роста [Текст] / И. А. Тарасов [и др.] // 6-я Школа "Метрология и стандарт. в нанотехнол. и наноиндустрии" : 4-7 июня 2013 г., Екатеринбург. - 2013. - С. 60

Материалы школы
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Жарков, Сергей Михайлович; Zharkov, S.M.; Швец, Василий Александрович; Shvets, V.A.; "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Школа(6 ; 2013 ; июнь ; Екатеринбург)
}
Найти похожие

Эллипсометрический экспресс-метод определения показателя поглощения полупроводниковых наноструктур / Н. Н. Косырев [и др.] // 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013) : 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 334 . - ISBN 978-5-906376-03-9

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Швец, Василий Александрович; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

Разработка метода in situ магнитоэллипсометрического мониторинга для синтеза магнитных наноструктур / С. Н. Варнаков [и др.] // 2-я Всерос. науч. конф. "Методы исслед. состава и структ. функциональных матер." (МИССФМ-2013) : 21-25 окт. 2013, Новосибирск : сб. тезисов докл. - Новосибирск, 2013. - С. 128 . - ISBN 978-5-906376-03-9

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov, S.N.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Лященко, Сергей Александрович; Lyashchenko, S. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Tarasov, I.A.; Швец, Василий Александрович; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Shevtsov, D.V.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov, S. G.; Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V.N.; Рыхлицкий, С. В.; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН; "Методы исследования состава и структуры функциональных материалов", Всероссийская научная конференция(2 ; 2013 ; окт. ; Новосибирск)
}
Найти похожие

10.

In situ spectral magnetoellipsometry for structural, magnetic and optical properties of Me/Si (Me=Mn,Fe) nanolayers / V. N. Zabluda [et al.] // Proc. int. conf. nanomaterials: application and properties. - 2013. - Vol. 2, No. 3. - P. 03AET11

Материалы конференции

Доп.точки доступа:
Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shvetsov, D. V.; Maksimova, O. A.; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Rykhlitsky, S. V.; Рыхлицкий С.В.; International conference nanomaterials: applications and properties(2013 ; Sept. 16-21 ; Crimea, Ukraine)
}
Найти похожие

11.

Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ / Н. Н. Косырев [и др.] // Журн. техн. физ. - 2014. - Т. 84, Вып. 5. - С. 109-112. - Библиогр.: 17 назв. - Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации, государственный контракт 14.513.11.0016, соглашения 14.132.21.1709 и 14.В37.21.1276, гранта поддержки ведущей научной школы (проект НШ-1044.2012.2), Российского фонда фундаментальных исследований (грант № 13-02-01265), программы ОФН РАН № 2.4.1, программы Президиума РАН № 23.34, интеграционного проекта СО РАН № 38 . - ISSN 0044-4642
Аннотация: Разработан и реализован алгоритм, позволяющий на основании однозонных эллипсометрических измерений в процессе роста тонких полупроводниковых пленок решать обратную задачу эллипсометрии с целью определения показателя поглощения. Методика основана на анализе изменения эллипсометрических параметров Ψ и Δ непосредственно в процессе роста. Апробация алгоритма проведена в процессе синтеза структур Si/SiO2/Si(100) и Hg1−xCdxTe.

Смотреть статью,
Читать в сети ИФ

Переводная версия Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers [Текст] / N. N. Kosyrev [et al.] // Tech. Phys. : MAIK Nauka-Interperiodica / Springer, 2014. - Vol. 59 Is. 5.- P.736-739

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev N. N.; Швец, Василий Александрович; Михайлов, Н. Н.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S. N.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Ovchinnikov S. G.; Рыхлицкий, С. В.; Яковлев, Иван Александрович; Yakovlev, I. A.
}
Найти похожие

12.

   В37

    Швец, Василий Александрович.
    Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Hg[[d]]1-x[[/d]]Cd[[d]]x[[/d]]Te : автореферат дис. на соиск. уч. степени д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / В. А. Швец ; науч. конс. О. П. Пчеляков ; офиц. опп.: С. Я. Ветров, С. Г. Овчинников, В. И. Пшеницын ; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников им. А.В. Ржанова, вед. орг. Физ.-тех. ин-т им. А.Ф. Иоффе. - Новосибирск, 2010. - 30 с. - Библиогр. -

ГРНТИ

29.19.31

47.13.11

Рубрики:
Полупроводники--Рост кристаллов--Контроль эллипсометрический--Исследование

Смотреть автореферат
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Пчеляков, Олег Петрович \науч. конс.\; Ветров, Степан Яковлевич \офиц. опп.\; Vetrov, S. Ya.; Овчинников, Сергей Геннадьевич \офиц. опп.\; Ovchinnikov, S. G.; Пшеницын, Виктор Ильич \офиц. опп.\; Российская академия наук; Сибирское отделение РАН; Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН; Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Свободных экз. нет}
Найти похожие

13.

In situ magnetic spectroellipsometry / V. N. Zabluda [et al.] // Workshop "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering" : book of abstracts / предс. сем. K. S. Aleksandrov ; зам. предс. сем.: G. S. Patrin, S. G. Ovchinnikov ; чл. лок. ком.: N. N. Kosyrev, A. S. Fedorov [et al]. - 2009. - P. 15

Материалы семинара

Доп.точки доступа:
Aleksandrov, K. S. \предс. сем.\; Александров, Кирилл Сергеевич; Patrin, G. S. \зам. предс. сем.\; Патрин, Геннадий Семёнович; Ovchinnikov, S. G. \зам. предс. сем.\; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Kosyrev, N. N. \чл. лок. ком.\; Косырев, Николай Николаевич; Fedorov, A. S. \чл. лок. ком.\; Федоров, Александр Семенович; Zabluda, V. N.; Заблуда, Владимир Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Efremov, A. V.; Kosyrev, N. N.; Rykhkitskii, S. V.; Рыхлицкий С.В.; Shvets, V. A.; Швец, Василий Александрович; Spesivtsev, E. V.; Khudyakov, A. E.; Shvetsov, D. V.; "Trends in Nanomechanics and Nanoengineering", workshop(2009 ; Aug. ; 24-28 ; Krasnoyarsk); Сибирский федеральный университет; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
}
Найти похожие

14.

Максимова, Ольга Александровна.
Оптические и магнитооптические свойства магнитных наноструктур по данным in situ спектральной магнитооптической эллипсометрии : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук : защищена 27.11.2020 / О. А. Максимова ; науч. рук. С. Г. Овчинников ; офиц. опп.: Л. С. Успенская, В. А. Швец ; Ин-т физики им. Л.В. Киренского, вед. орг. Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова. - Красноярск, 2020. - 24 с. - Библиогр.: 97 назв.

Смотреть автореферат,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Библиотека Института физики им. Л. В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Овчинников, Сергей Геннадьевич \науч. рук.\; Ovchinnikov, S. G.; Успенская, Людмила Сергеевна \офиц. опп.\; Швец, Василий Александрович \офиц. опп.\; Maximova, O. A.; Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН; Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Свободных экз. нет}
Найти похожие

15.

    Сверхвысоковакуумная установка для получения и исследования наноструктур магнитоэллипсометрическими методами in situ / Н. Н. Косырев, Д. А. Шевцов [и др.] // Решетневские чтения : [Электронный ресурс] : материалы XIV Междунар. науч. конф., посвяще. памяти ген. конструктора ракет.-космич. систем акад. М. Ф. Решетнева : в 2-х ч. / Сиб. гос. аэрокосмич. ун-т.; под общ. ред. Ю.Ю. Логинова. - Красноярск, 2010. - Ч. 2. - С. 582-583. - Библиогр.: 6. - Работа выполнена в рамках программы № 4.1 ОФН РАН «Спинтроника», программы Президиума РАН № 27.10, инте грационного проекта СО РАН и ДВО РАН № 22, федеральной целевой программы «Научные и научно-педагогические кад ры инновационной России» на 2009–2013 гг. (код проекта: НК-744П/ГК П1
   Перевод заглавия: Ultra high vacuum installation for nanostructure production with magnetoellipsometric control
Аннотация: Описана сверхвысоковакуумная камера, позволяющая изготовлять наноструктуры на основе тонких маг нитных пленок. В качестве метода контроля параметров растущей структуры предложена новая методи ка – спектральная магнитоэллипсометрия, позволяющая получать информацию о структурных, оптических и магнитных свойствах непосредственно в процессе изготовления в реальном времени.

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Логинов, Ю. Ю. \ред.\; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N.N.; Шевцов, Д. А.; Варнаков, Сергей Николаевич; Varnakov S.N.; Худяков, Алексей Евгеньевич; Ефремов, А.В.; Рыхлицкий, С. В.; Швец, Василий Александрович; "Решетневские чтения", международная научная конференция(14 ; 2010 ; нояб. ; 10-12 ; Красноярск); Сибирский государственный университет науки и технологий им. акад. М. Ф. Решетнева; Информационные спутниковые системы им. академика М. Ф. Решетнева, АО; Красноярский машиностроительный завод, ОАО
}
Найти похожие

16.

In situ спектральный магнитоэллипсометр / В. Н. Заблуда, Н. Н. Косырев [и др.] // Физика низкоразмерных систем, LDS-2 / Труды Второго междунар. междисциплинар. симп., 3-8 сентября 2010 года, Ростов-на-Дону, пос. Лоо. - Ростов на Дону : Фонд науки и образования, 2010. - С. 92-94

Держатели документа:
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Доп.точки доступа:
Заблуда, Владимир Николаевич; Zabluda, V. N.; Косырев, Николай Николаевич; Kosyrev, N. N.; Рыхлицкий, С. В.; Швец, Василий Александрович; "Физика низкоразмерных систем", Международный междисциплинарныйо симпозиум(2 ; 2010 ; сент. ; Ростов-на-Дону, пос. Лоо)
}
Найти похожие