Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=ellipsometry<.>)

Общее количество найденных документов : 57
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-57

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Тарасов, Иван Анатольевич, Яковлев, Иван Александрович, Варнаков, Сергей Николаевич, Жарков, Сергей Михайлович, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Эллипсометрический контроль параметров многослойных наноструктур Fe/Si в процессе роста
Место публикации : Космич. аппараты и технол. - 2018. - Т. 2, № 4. - С. 220-224. - ISSN 2618-7957, DOI 10.26732/2618-7957-2018-4-220-224
Примечания : Библиогр.: 10. - Работа выполнена при финансовой поддержке программ Президиума РАН № 32, проект 0356-2018-0061, Министерства образования и науки Российской Федерации и Сибирского отделения Российской академии наук, проект II.8.70.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): эллипсометрия--силициды железа--многослойные fe/si наноструктуры--ellipsometry--iron silicides--multilayer fe/si nanostructures
Аннотация: С использованием метода одноволновой лазерной эллипсометрии in situ проведено исследование процесса формирования многослойной структуры [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100). Были получены сведения об оптических и структурных свойствах данной структуры. Изменение морфологии поверхности растущих слоев и их оптических характеристик оказываются неидентичными для случаев осаждения железа на поверхность слоя кремния и осаждения кремния на поверхность слоя железа. Полученные профили оптических постоянных свидетельствуют об увеличении толщины переходных слоев, содержащих твердые растворы «железо-кремний» и силициды. Характер изменения оптических постоянных усложняется с каждым последующим слоем железа, осаждаемым на поверхность кремния. Поведение профилей n и k, соответствующих формированию кремниевых слоев, имеет более простой характер по сравнению с поведением подобных профилей железа. Эти профили имеют лишь некоторые особенности на начальных этапах роста и соответствуют формированию аморфных слоев кремния. Полученные данные согласуются с данными просвечивающей электронной микроскопии.Using in situ single-wave laser ellipsometry method, the formation of the [Si/Fe57/Fe56]3/SiO2/Si(100) multilayer structure was studied. Information about the optical and structural properties of this structure was obtained. The change in the morphology of the surface of the growing layers and their optical characteristics are not identical for the cases of iron deposition on the surface of the silicon layer and deposition of silicon on the surface of the iron layer. The refractive index and coefficient of absorption indicate an increase of the thickness of transition layers containing iron-silicon solid solutions and silicides. The nature of the change in the optical constants become more complicated with each subsequent iron layer deposited on the silicon surface. The behavior of n and k profiles corresponding to the formation of silicon layers is simpler than the behavior of similar iron profiles. These profiles have only some features at the initial stages of growth and correspond to the formation of amorphous silicon layers. The obtained data are consistent with the data of transmission electron microscopy.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Максимова, Ольга Александровна, Овчинников, Сергей Геннадьевич, Лященко, Сергей Александрович
Заглавие : Как оценить величину магнитооптического параметра ферромагнетика по магнитоэллипсометрическим измерениям
Коллективы : "Новое в магнетизме и магнитных материалах", международная конференция, Научный совет по физике конденсированных сред РАН, МИРЭА - Российский технологический университет, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Магнитное общество России
Место публикации : Новое в магнетизме и магнитных материалах: сборник трудов XXIV международной конференции/ прогр. ком.: Р. С. Исхаков, С. Г. Овчинников [и др.]. - 2021. - Т. 3, Секция 12: Магнитооптика и фотомагнетизм. - С. 214-217
Примечания : Библиогр.: 9. - Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда №21-12-00226
Аннотация: Представлены результаты исследования, направленного на расчет величины магнитооптического параметра Q, определяющего магнитооптические свойства ферромагнетика и входящего в недиагональные компоненты тензора диэлектрической проницаемости, по данным спектральных магнитоэллипометрических измерений.This paper is to report about the results of the research aimed at the calculation of the magneto-optical parameter Q, which defines magneto-optical properties of the ferromagnetic materials and is included into off-diagonal components of the dielectric tensor, from magneto-ellipsometry data
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Лященко, Сергей Александрович, Жандун, Вячеслав Сергеевич, Андрющенко, Татьяна Александровна, Шевцов, Дмитрий Валентинович, Максимова, Ольга Александровна, Варнаков, Сергей Николаевич, Овчинников, Сергей Геннадьевич
Заглавие : Анализ электронной структуры поверхности эпитаксиальной max-фазы (Cr0,5Mn0,5)2GaC методом спектральной эллипсометрии
Коллективы : Байкальская международная конференция "Магнитные материалы. Новые технологии", "Магнитные материалы. Новые технологии", Байкальская международная конференция, "Magnetic materials. New tecnologies", Baikal International Conference, Иркутский государственный университет
Место публикации : Магнитные материалы. Новые технологии: тез. докл. IX Байкал. междунар. конф. BICMM-2023/ чл. прогр. ком.: S. S. Aplesnin [et al.] ; чл. орг. ком. R. S. Iskhakov [et al.]. - Иркутск, 2023. - С. 165-166. - ISBN 978-5-962402178-0, DOI 10.26516/978-5-9624-2178-0.2023.1-207
Примечания : Библиогр.: 4
Материалы конференции,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Shvetsov D. V., Lyashchenko S. A., Maximova O. A., Tarasov I. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G.
Заглавие : Ultrahigh vacuum apparatus for the synthesis and in situ investigation of ferromagnetic nanostructures by the method of spectral magneto-ellipsometry in a wide temperature range
Коллективы : Nanostructures: Physics and Technology, International Symposium, Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси, Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет Российской академии наук, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук
Место публикации : Nanostructures: physics and technology: proc. 26th Int. symp. - 2018. - P.163-164. - ISBN 978-985-7202-35-5
Примечания : Cited References: 6
Материалы конференции
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Shevtsov D. V., Lyashchenko S. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Maximova O. A.
Заглавие : UHV technological system for synthesis and in situ investigation of nanostructures by spectral magneto-optical ellipsometry in a wide temperature range
Коллективы : Samarkand International Symposium on Magnetism, Samarkand State University
Место публикации : Book of abstacts of Samarkand International Symposium on Magnetism (SISM-2023)/ int. adv. com. S. G. Ovchinnikov [et al.]. - 2023. - Ст.2PO-L4-17. - P.114. - ISBN 978-5-00202-320-2
Примечания : Cited References: 4. - РФН № 21-12-00226
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Shvetsov D. V., Lyashchenko S. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Maximova O. A.
Заглавие : UHV technological system for synthesis and in situ investigation of nanostructures by spectral magneto-optical ellipsometry
Коллективы : International Baltic Conference on Magnetism, Балтийский федеральный университет им. И. Канта
Место публикации : V International Baltic Conference on Magnetism. IBCM: Book of abstracts. - 2023. - P.192
Примечания : Cited References: 4. - РНФ № 21-12-00226
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Shevtsov D. V., Lyashchenko S. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Zabluda V. N., Kosyrev N. N., Yakovlev I. A., Tarasov I. A., Maximova O. A.
Заглавие : UHV system for producing and studying of nanostructures by in situ spectroscopic magneto-optical ellipsometry in a wide temperature range
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016): abstracts/ ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk: KIP RAS SB, 2016. - Ст.P6.5. - P.313. - ISBN 978-5-904603-06-9 (Шифр -478014040)
Примечания : References: 1. - The work was supported by The Complex program of SB RAS № II.2P, project 0358-2015-0003
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): spectral ellipsometry--magneto-optical effects--fe-si system
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Shevtsov D. V., Lyashchenko S. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Tarasov I. A., Maximova O. A.
Заглавие : UHV system for producing and studying of MAX phases by in situ spectral magneto-optical ellipsometry in a wide temperature range
Коллективы : International workshop on functional MAX-materials, Kirensky Institute of Physics, Siberian Federal Univercity
Место публикации : International workshop on the properties of functional MAX-materials (2nd FunMax): book of abstracts/ org. com. M. Farle [et al.]. - 2021. - P.45
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Shevtsov D. V., Lyashchenko S. A., Varnakov S. N., Ovchinnikov S. G., Maximova O. A.
Заглавие : UHV system for producing and studying of MAX phases by in situ spectral magneto-optical ellipsometry in a wide temperature range
Коллективы : Российская академия наук, Физико-технический институт им. Е.К. Завойского ФИЦ Казанского научного центра РАН, Казанский (Приволжский) федеральный университет, Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium
Место публикации : VIII Euro-Asian symposium "Trends in magnetism" (EASTMAG-2022): Book of abstracts/ program com. S. G. Ovchinnikov [et al.]. - 2022. - Vol. 2, Sect. O: MAX materials. - Ст.O.P3. - P.485-486. - ISBN 978-5-94469-051-7
Примечания : Cited References: 6
Материалы симпозиума,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Maximova O. A., Ovchinnikov S. G., Kosyrev N. N., Lyashchenko S. A.
Заглавие : Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies
Место публикации : J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 2. - P.223-232. - ISSN 1997-1397, DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-2-223-232; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика"
Примечания : Cited References: 13. - The reported study was funded by Russian Foundation for Basic Research, Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Region Science and Technology Support Fund to the research project 16–42–243058. The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research, Grant No. 16–32–00209 mola, Grant No. 14–02–01211; the Complex program of SB RAS No. II.2P, project 0358–2015–0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014); grant Scientific School 7559.2016.2.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): magneto-optical ellipsometry--kerr effect--two-layer model--ferromagnetic metal--reflection--growth control--магнито-оптическая эллипсометрия--эффект керра--двухслойная модель--ферромагнетик--отражение--контроль роста
Аннотация: An approach to analysis of magneto-optical ellipsometry measurements is presented. A two-layer model of ferromagnetic reflective films is in focus. The obtained algorithm can be used to control optical and magneto-optical properties during films growth inside vacuum chambers.Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.
Смотреть статью,
РИНЦ,
Scopus,
Смотреть статью,
Читать в сети ИФ
Найти похожие