Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Maximova, O. A.$<.>)

Общее количество найденных документов : 72
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

Maximova, O. A.
Analytical calculation of dielectric permittivity tensor from magneto-optical ellipsometry measurements / O. Maximova, S. Ovchinnikov, S. Lyaschenko // J. Phys. A. - 2021. - Vol. 54, Is. 29. - Ст. 295201, DOI 10.1088/1751-8121/abfe72. - Cited References: 24. - This study was supported by the Government of the Russian Federation (Agreement No. 075-15-2019-1886) . - ISSN 1751-8113. - ISSN 1751-8121

РУБ Physics, Multidisciplinary + Physics, Mathematical
Рубрики:
FILMS
Кл.слова (ненормированные):
ellipsometry -- dielectric permittivity tensor -- ferromagnetics -- transverse magneto-optical Kerr effect
Аннотация: Magneto-optical ellipsometry combines ellipsometry and magneto-optical Kerr effect measurements which are two powerful techniques. The main difficulty is usually in data processing as a number of parameters should be extracted from measured ellipsometric (ψ, Δ) and magneto-ellipsometric (δψ, δΔ) parameters. Standard procedure of solving magneto-ellipsometry equations involves numerical calculations. In this paper we show that it is possible to find out all elements of dielectric permittivity tensor without numerical calculation methods. It means that the inverse problem of magneto-optical ellipsometry can be solved analytically in the case of expansion of magneto-ellipsometric parameters δψ and δΔ with respect to two small parameters. We present a full set of mathematical expressions that enable us to calculate complex refraction index and complex magneto-optical parameter of a sample from magneto-optical ellipsometry measurements, thereby obtaining diagonal and off-diagonal complex elements of dielectric permittivity tensor. This analytical approach can be used in case of the contribution from magnetism into reflection coefficients being small.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Inst Phys SB RAS, 50-38 Akademgorodok, Krasnoyarsk 660036, Russia.
Siberian Fed Univ, 79 Svobodny Pr, Krasnoyarsk 660041, Russia.

Доп.точки доступа:
Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Максимова, Ольга Александровна; Government of the Russian Federation [075-15-2019-1886]
}
Найти похожие

    Anisotropic crystal of the δ-BiB3O6 investigated by vibrational spectroscopy / E. A. Strikina [et al.] // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. - 2016. - Vol. 155, Is. 1. - Ст. 012029, DOI 10.1088/1757-899X/155/1/012029. - Cited References: 8. - This study was partially supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation, the “Krasnoyarsky regional fund of scientific support and scientific-technical activity” and the Russian Foundation for Basic Research Grant “15-42-04347 r_siberia_a".
   Перевод заглавия: Исследование анизотропного кристалла δ-BiB3O6 методом колебательной спектроскопии
Аннотация: The vibrational spectroscopy has been applied to investigate the structure the BiB3O6 (BIBO) crystal. Based on the experimental results, the total set of phonons mode of the polarized Raman spectra was proposed. To verify the obtained experimental data have been performed theoretical calculation in software package LADY.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Strikina, E. A.; Стрикина, Екатерина Андреевна; Krylov, A. S.; Крылов, Александр Сергеевич; Oreshonkov, A. S.; Орешонков, Александр Сергеевич; Vtyurin, A. N.; Втюрин, Александр Николаевич; Maximova, O. A.; International Scientific and Research Conference "Topical Issues in Aeronautics and Astronautics"(XII ; Krasnoyarsk)(11-15 April 2016)
}
Найти похожие

Auger electron spectroscopy of thin Cr2GeC films / T. A. Andryushchenko, S. A. Lyaschenko, S. N. Varnakov [et al.] // Phys. Met. Metallogr. - 2023. - Vol. 124, Is. 14. - P. 1776-1782, DOI 10.1134/S0031918X2360135X. - Cited References: 33. - The research was supported by the Russian Science Foundation (grant no. 21-12-00226, http://rscf.ru/project/21-12-00226/) . - ISSN 0031-918X. - ISSN 1555-6190
Кл.слова (ненормированные):
МАХ phases -- chromium germanides -- epitaxial thin films -- Auger electron spectroscopy -- magnetron sputtering co-deposition
Аннотация: Auger electron spectroscopy was used to determine the phase composition of Cr2GeC MAX phase thin films. A distinctive feature of the formation of carbon-containing MAX phases is the shape of carbon Auger peaks, which is characteristic of metal carbides spectra. Features of the Auger spectra in the presence of secondary phases of chromium germanides are found. Their presence can manifest itself in an increase in the energy of the germanium peaks, which is caused by a chemical shift during the formation of the Cr–Ge bond. Moreover, we have detected the accumulation of electronic charge, which can be explained by the features of the surface morphology.

Смотреть статью,
Scopus,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS, 660036, Krasnoyarsk, Russia

Доп.точки доступа:
Andryushchenko, T. A.; Андрющенко, Татьяна Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Lukyanenko, A. V.; Лукьяненко, Анна Витальевна; Nemtsev, I. V.; Немцев, Иван Васильевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич
}
Найти похожие

Data processing algorithms for magneto-optical ellipsometry of thin films with optical uniaxial anisotropy / O. A. Maximova, S. A. Lyashchenko, I. A. Yakovlev [et al.] // V International Baltic Conference on Magnetism. IBCM : Book of abstracts. - 2023. - P. 126. - Cited References: 5. - РНФ № 21-12-00226

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ
Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS
Siberian Federal University

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shvetsov, D. V.; Andryushchenko, T. A.; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; International Baltic Conference on Magnetism(5 ; 2023 ; Aug. 20-24 ; Svetlogorsk, Russia); Балтийский федеральный университет им. И. Канта
}
Найти похожие

    Development of in situ magneto-ellipsometry for studying correlation between the optical and magneto-optical properties of ferromagnetic thin films / O. A. Maximova [et al.] // J. Phys.: Conf. Ser. - 2017. - Vol. 903. - Ст. 012060, DOI 10.1088/1742-6596/903/1/012060. - Cited References:7. - The work was supported partly by the Russian Foundation for Basic Research Grant No. 16-32-00209 mol_a, Grant No. 14-02-01211, Grant No. 16-42-24083; the Complex program of SB RAS No II.2P, project 0358-2015-0004; the Ministry of Education and Science of the RF (State task No. 16.663.2014 kappa); Grant of the President of the Russian Federation (Scientific School No. 7559.2016.2).
   Перевод заглавия: Развитие метода in situ магнитоэллипсометрии для изучения корреляции между оптическими и магнитооптическими свойствами ферромагнитных тонких пленок

РУБ Physics, Applied + Physics, Condensed Matter

Аннотация: In this work we present the way of nanostructured films study by means of magneto-ellipsometry. The method of interpretation of in situ magneto-optical ellipsometry spectra from the in situ molecular beam epitaxy setup with an integrated magneto-ellipsometric real time synthesis control is described. The method has been successfully tested on Fe/SiO2/Si nanostructures within the model of a homogeneous semi-infinite medium. As a result, the dielectric tensor components for Fe layer were calculated using a developed approach.

Смотреть статью,
WOS,
Материалы конференции,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Maximova, O. M.; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Russian Foundation for Basic Research [16-32-00209 mol_a, 14-02-01211, 16-42-24083]; Complex program of SB RAS [II.2P, 0358-2015-0004]; Ministry of Education and Science of the RF [16.663.2014kappa]; Grant of the President of the Russian Federation [7559.2016.2]; Joint European Magnetic Symposia(8 ; 2016 ; 21-26 Aug. ; Glasgow, UK)
}
Найти похожие

    Maximova, O. A.
    Development of spectroscopic magneto-ellipsometry for studying of magneto-optical properties of ferromagnetic nanostructures / O. A. Maximova, N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov // Third Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2015) : proceedings. - 2015. - Ст. VI.21.07p . - ISBN 978-5-8044-1556-4
   Перевод заглавия: Развитие метода спектральной магнитоэллипсометрии для изучения магнитооптических свойств ферромагнитных наноструктур
Аннотация: The elements of the dielectric tensor ε are the subject of interest. In this paper a new method for obtaining diagonal and off-diagonal elements of this tensor is presented. In situ spectroscopic ellipsometry and magneto-ellipsometry measurements data from the in situ molecular beam epitaxy setup with an integrated magneto-ellipsometric real time control are used. The formulae and the algorithm for data analysis are obtained. The method is approved on the ferromagnetic nanostructures Fe/SiO2/Si.

Материалыконференции

Доп.точки доступа:
Kosyrev, N. N.; Косырев, Николай Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Максимова, Ольга Александровна; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(3 ; 2015 ; aug. ; 19-26 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(3 ; 2015 ; авг. ; 19-26 ; Владивосток)
}
Найти похожие

Development of techniques for processing data from magneto-ellipsometry measurements / O. A. Maximova [et al.] // Fourth Asian school-conference on physics and technology of nanostructured materials (ASCO-NANOMAT 2018) : proceedings / progr. com. S. G. Ovchinnikov [et al.]. - 2018. - Ст. IV.25.05p. - P. 180 . - ISBN 978-5-7444-4368-9
Аннотация: The approach to data processing for layered thin films with a ferromagnet layer is proposed for studying optical and magneto- optical properties. The scope and applicability of models which describe reflective layered structures are studied in order to recommend the best model choice for each case. A significant effect of penetration depth on this choice was observed.

Материалыконференции

Доп.точки доступа:
Ovchinnikov, S. G. \progr. com.\; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Ovchinnikov, S. G.; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(4 ; 2018 ; Sept. ; 23-28 ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(4 ; 2018 ; сент. ; 23-28 ; Владивосток); Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН; Дальневосточный федеральный университет
}
Найти похожие

Effect of interfaces in the multilayer structures on the electronic states / S. G. Ovchinnikov, O. A. Maximova, S. A. Lyashchenko [et al.] // International workshop on the properties of functional MAX-materials (2nd FunMax) : book of abstracts / org. com. M. Farle [et al.]. - 2021. - P. 15

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Farle, M. \org. com.\; Ovchinnikov, S. G. \org. com.\; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Tarasov, A. S. \org. com.\; Тарасов, Антон Сергеевич; Smolyarova, T. E. \org. com.\; Смолярова, Татьяна Евгеньевна; Ovchinnikov, S. G.; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; International workshop on functional MAX-materials(2 ; 2021 ; Sept. 14-17 ; Krasnoyarsk (on-line)); Kirensky Institute of Physics; Siberian Federal Univercity
}
Найти похожие

Electronic structure and magnetic properties of iron silicides / S. G. Ovchinnikov, V. S. Zhandun, N. G. Zamkova [et al.] // The Fifth Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials : Proceedings. - VLadivostok : Dalnauka Publishing, 2020. - Ст. PS.03.04i. - P. 26 . - ISBN 978-5-8044-1698-1

Материалы конференции,
Читать в сети ИФ

Доп.точки доступа:
Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич; Zhandun, V. S.; Жандун, Вячеслав Сергеевич; Zamkova, N. G.; Замкова, Наталья Геннадьевна; Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Vysotin, M. A.; Высотин, Максим Александрович; Sandalov, I. S.; Сандалов, Игорь Семёнович; Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials(5 ; 2020 ; 30 Jul - 3 Aug ; Vladivostok); Азиатская школа-конференция по физике и технологии наноструктурированных материалов(5 ; 2013 ; 30 июля - 3 авг. ; Владивосток)
}
Найти похожие

10.

Experimental and Theoretical In Situ Spectral Magneto-Ellipsometry Study of Layered Ferromagnetic Structures / O. A. Maximova [et al.] // JETP Letters. - 2019. - Vol. 110, Is. 3. - P. 166-172, DOI 10.1134/S0021364019150098. - Cited References: 28. - This work was supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation and the Siberian Branch, Russian Academy of Sciences (project nos. 0356-2018-0061 and II.8.70). . - ISSN 0021-3640
Аннотация: A method for processing of in situ spectral magneto-ellipsometry data has been developed to analyze planar ferromagnetic nanostructures. A multilayer model containing a ferromagnetic layer with two interfaces, a nonferromagnetic buffer layer, and a nonferromagnetic substrate has been tested within a new approach to the interpretation of magnetic-field-modulated spectral ellipsometric measurements involving the magnetooptical Kerr effect in the transverse configuration. In particular, the effect of the thickness of the ferromagnetic layer on the results of magneto-ellipsometric measurements has been analyzed. The measurements have been performed with polycrystalline Fe films with different thicknesses on a nonferromagnetic SiO2/Si(100) surface. The diagonal and off-diagonal components of the complex dielectric tensor in the spectral range of 1.38–3.45 eV have been determined by processing spectral magneto-ellipsometric data. The results have been compared to the available data obtained by other authors and to the calculation of the dielectric tensor of Fe within the density functional theory.

Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ

Публикация на русском языке

Держатели документа:
Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Akademgorodok, Krasnoyarsk, 660036, Russian Federation
Siberian Federal University, Krasnoyarsk, 660041, Russian Federation

Доп.точки доступа:
Maximova, O. A.; Максимова, Ольга Александровна; Lyashchenko, S. A.; Лященко, Сергей Александрович; Vysotin, M. A.; Высотин, Максим Александрович; Tarasov, I. A.; Тарасов, Иван Анатольевич; Yakovlev, I. A.; Яковлев, Иван Александрович; Shevtsov, D. V.; Шевцов, Дмитрий Валентинович; Fedorov, A. S.; Федоров, Александр Семенович; Varnakov, S. N.; Варнаков, Сергей Николаевич; Ovchinnikov, S. G.; Овчинников, Сергей Геннадьевич
}
Найти похожие