Библиотека института физики им. Л.В. Киренского СО РАН

Главная

Базы данных

Труды сотрудников ИФ СО РАН - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и брошюр библиотеки ИФ СО РАН

Каталог журналов библиотеки ИФ СО РАН

Труды сотрудников ИФ СО РАН

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Nanocrystallites<.>)

Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Изотов, Андрей Викторович, Беляев, Борис Афанасьевич, Боев Н. М.
Заглавие : Численное моделирование магнитной микроструктуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2013. - Т. 56, № 8/2. - С. 213-216
Примечания : Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ, Госконтракт № 14.513.11.0010, и ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России 2009−2013 гг.»
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микромагнитное моделирование--«рябь» намагниченности--магнитная микроструктура --хаотическая анизотропия--нанокристаллиты--micromagnetic simulation--magnetization ripple--magnetic microstructure--random anisotropy--nanocrystallites
Аннотация: На основе численного анализа микромагнитной модели нанокристаллической пленки со случайным распределением направлений одноосной магнитной анизотропии в кристаллитах исследована тонкая магнитная микроструктура типа «ряби» намагниченности. Приводится сравнение полученных результатов с результатами теоретических исследований.The fine magnetic microstructure of the magnetization "ripple" was studied by a numerical analysis of micromagnetic model of nanocrystalline films with a random distribution of directions of the uniaxial magnetic anisotropy in crystallites. Obtained results were compared with the results of theoretical studies.
Найти похожие

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Belyaev B. A., Izotov A. V., Solovev P. N.
Заглавие : Numerical simulation of magnetic microstructure in nanocrystalline thin films with the random anisotropy
Коллективы : Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism", "Trends in MAGnetism", Euro-Asian Symposium, Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения РАН
Место публикации : VI Euro-Asian Symposium "Trends in MAGnetism" (EASTMAG-2016): abstracts/ ed.: O. A. Maksimova, R. D. Ivantsov. - Krasnoyarsk: KIP RAS SB, 2016. - Ст.P10.24. - P.492. - ISBN 978-5-904603-06-9 (Шифр -478014040)
Примечания : References: 2
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): micromagnetic simulation--nanocrystallites--random anisotropy model
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Belyaev B. A., Izotov A. V., Solovev P. N.
Заглавие : Numerical simulation of magnetic microstructure in nanocrystalline thin films with the random anisotropy
Место публикации : J. Sib. Fed. Univ. Math. Phys. - 2017. - Vol. 10, Is. 1. - P.132-135. - ISSN 1997-1397, DOI 10.17516/1997-1397-2017-10-1-132-135; Журн. СФУ. Сер. "Математика и физика"
Примечания : Cited References: 10. - This work was supported by Russian Science Foundation (project no. 16-12-10140).
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): micromagnetic simulation--nanocrystallites--random anisotropy model--thin magnetic film--микромагнитное моделирование--тонкая магнитная пленка--нанокристаллиты--модель случайной анизотропии
Аннотация: The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the films. © Siberian Federal University. All rights reserved.Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тонких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6 1000 нм исследованы зависимости параметров корреляционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиусов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры "ряби намагниченности".
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Изотов, Андрей Викторович, Беляев, Борис Афанасьевич, Соловьев, Платон Николаевич, Боев, Никита Михайлович
Заглавие : Особенности двухмагнонных процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках
Место публикации : Изв. вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 12. - С. 153-159. - ISSN 0021-3411
Примечания : Библиогр.: 25. - Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки РФ, задание № 3.1031.2017/ПЧ.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микромагнитное моделирование--нанокристаллиты--случайная магнитная анизотропия--ферромагнитный резонанс--сверхвысокие частоты--двухмагнонный процесс релаксации--micromagnetic modeling--nanocrystallites--random magnetic anisotropy--ferromagnetic resonance--ultrahigh frequencies--two-magnon relaxation process
Аннотация: Численным анализом микромагнитной модели обнаружена «резонансная» особенность процессов релаксации в нанокристаллических тонких магнитных пленках. Особенность проявляется в виде резкого уширения линии ферромагнитного резонанса (ФМР) на определенной частоте f 1, зависящей от магнитных характеристик пленки, и она наблюдается только в пленках, толщина которых превышает некоторое пороговое значение d min. Резкое уширение линии ФМР сопровождается значительным смещением резонансного поля, причем величина смещения меняет знак на частоте ~ f 1. Аналитически показано, что природа наблюдаемых эффектов связана с двухмагнонным процессом рассеяния спиновых волн на квазипериодической магнитной микроструктуре - «ряби» намагниченности. Полученные выражения для порогового значения толщины пленки d min и частоты максимального уширения линии ФМР f 1 хорошо согласуются с результатами численного расчета микромагнитной модели.A resonant feature of the relaxation processes in nanocrystal magnetic thin films is revealed by numerical analysis for a micromagnetic model. This special feature is manifested through sharp broadening of the ferromagnetic resonance (FMR) line at the frequency f 1 depending on the magnetic characteristics of the film and is observed only in the films whose thickness exceeds a certain threshold value d min. The sharp broadening of the FMR lines is accompanied by a considerable displacement of the resonant field, and the displacement changes its sign at the frequency ~ f 1. It is analytically shown that the nature of the observable effects is connected with the two-magnon process of spin wave scattering on a quasi-periodic magnetic microstructure - magnetization ripples. The obtained expressions for the threshold value of the film thickness d min and the frequency f 1 of the maximal FMR line broadening are in good agreement with results of numerical calculation for the micromagnetic model.
РИНЦ,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Belyaev B. A., Boev N. M., Izotov A. V., Solovev P. N.
Заглавие : Study of Peculiarities of the Microwave Absorption Spectrum of Nanocrystalline Thin Magnetic Films
Коллективы : Ministry of Education and Science of the Russian Federation [RFMEFI60417X0179]
Место публикации : Russ. Phys. J. - 2019. - Vol. 61, Is. 10. - P.1798-1805. - ISSN 1064-8887, DOI 10.1007/s11182-019-01603-4. - ISSN 1573-9228(eISSN)
Примечания : Cited References: 22. - This work was supported by the Ministry of Education and Science of the Russian Federation, project No. RFMEFI60417X0179.
Предметные рубрики: MICROMAGNETIC CALCULATION
SIMULATIONS
PARTICLES
MODES
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): micromagnetic modeling--nanocrystallites--random magnetic anisotropy--ferromagnetic resonance--microwave
Аннотация: Based on the micromagnetic model which takes into account the random distribution of the uniaxial magnetic anisotropy directions in crystallites of a nanocrystalline film, an effective method has been implemented for calculation of the magnetization dynamics in microwave fields. For a certain range of crystallite sizes, when the energy of the random magnetic anisotropy is comparable to the exchange energy, a significant change of the ferromagnetic resonance field, broadening of the resonance line, and the appearance of an asymmetry in the shape of the resonance curve were found. With an increase of the crystallite sizes, the resonance field first grows, then, it quickly decreases to its minimum, and then, it grows again to reach saturation. In this case, the steepness of the left slope of the broadening resonance curve first decreases faster than that of the right slope, leading to the symmetry breaking of the resonance curve shape, then, the curve becomes symmetrical again, and then, the steepness of the left slope becomes greater than that of the right slope.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Izotov A. V., Belyaev B. A., Solovev P. N., Boev N. M.
Заглавие : Two-Magnon Relaxation Processes in Nanocrystalline Thin Magnetic Films
Коллективы : Russian Ministry of Education and Science [3.1031.2017/PCh]
Место публикации : Russ. Phys. J. - 2019. - Vol. 61, Is. 12. - P.2313-2320. - ISSN 1064-8887, DOI 10.1007/s11182-019-01673-4. - ISSN 1573-9228(eISSN)
Примечания : Cited References: 25. - This research was done with support of the Russian Ministry of Education and Science, task No. 3.1031.2017/PCh.
Предметные рубрики: FERROMAGNETIC-RESONANCE LINEWIDTH
MICROMAGNETIC CALCULATION
SCATTERING
Аннотация: Numerical analysis of the micromagnetic model was used to reveal the ‘resonance’ feature of relaxation processes in nanocrystalline thin magnetic films. This feature manifests itself in the form of sharp broadening of the ferromagnetic resonance (FMR) line at a certain frequency f1 depending on magnetic characteristics of the film, and is observed only in films the thickness of which exceeds some threshold value dmin. Sharp broadening of the FMR line is accompanied by significant shift of the resonance field, whereas the shift value changes the sign at frequency ~ f1. It was shown analytically that the nature of observed effects is associated with the two-magnon process of spin waves scattering on quasi-periodic magnetic microstructure – magnetization ‘ripple’. Obtained expressions for the threshold value of film thickness dmin and frequency of maximum broadening of FMR line f1 agree well with the results of numerical computation of micromagnetic model.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Izotov A. V., Belyaev B. A., Solovev P. N., Boev N. M.
Заглавие : Grain-size dependence of magnetic microstructure and high-frequency susceptibility of nanocrystalline thin films: A micromagnetic simulation study
Место публикации : J. Magn. Magn. Mater. - 2021. - Vol. 529. - Ст.167856. - ISSN 03048853 (ISSN), DOI 10.1016/j.jmmm.2021.167856
Примечания : Cited References: 73. - The reported study was funded by RFBR, the Government of Krasnoyarsk Territory, Krasnoyarsk Regional Fund and JSC «NPP «Radiosviaz», project number 20-42-242901
Аннотация: The size of crystallites is one of the most important factors that determine the key characteristics of nanocrystalline thin magnetic films that make them very promising media for various applications. In this paper, using micromagnetic simulation, we study in detail the influence of the grain size on the magnetic microstructure of the films and its relation with high-frequency dynamics of magnetization. When the grain size exceeds some critical value Dcr, a sharp broadening and shift of the ferromagnetic resonance line are observed at certain frequencies of the alternating magnetic field. Using a two-magnon scattering model, it is shown that these effects are caused by the scattering of spin waves on the inhomogeneous stochastic magnetic structure—magnetization ripple. An expression for the determination of the critical size Dcr is obtained. The micromagnetic simulation results agree with the main conclusions of the static and dynamic theories of magnetization ripple and also confirmed by experimental data reported by other authors.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Belyaev B. A., Boev N. M., Gorchakovskii A. A., Izotov A. V., Solovev P. N.
Заглавие : Structure constant and grain size determination by ferromagnetic resonance in thin magnetic films
Место публикации : Russ. Phys. J. - 2021. - Vol. 64, Is. 1. - P.1-8. - ISSN 10648887 (ISSN), DOI 10.1007/s11182-021-02293-7
Примечания : Cited References: 28. - This work was financially supported by Project N 20-42-24290 from the Russian Foundation for Basic Research, administrative support from Krasnoyarsk Krai, Scientific Foundation of Krasnoyarsk Krai, and AO "Radiosvyaz"
Аннотация: The paper shows that the structure constant and the average crystal grain size of anisotropic nanocrystalline magnetic film can be determined by analyzing the shape of the microwave absorption peak in sweeping the external magnetic field along the hard magnetization axis. In the theory of magnetization ripple, the surface energy density of the local magnetic anisotropy is connected with the structure constant, which can be used to determine the quality of nanocrystalline films. The effectiveness of the structure constant measurements is demonstrated on a 300-nm-thick nanocrystalline Co–P film. Spectral data on the microwave absorption are collected in the ~1 mm2 region of the film using a scanning ferromagnetic resonance spectrometer. The structure constant obtained from the spectral analysis allows detecting the average grain size of the magnetic film, which is in good agreement with transmission electron microscopy observations.
Смотреть статью,
Scopus,
WOS,
Читать в сети ИФ
Найти похожие